调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法

    公开(公告)号:CN111272279B

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202010104904.4

    申请日:2020-02-20

    Abstract: 本发明提供了一种调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法,以解决传统方法装调精度较低、成本较高的问题。本发明在系统一次像面位置添加垂直于大地的靶标,并将垂直于大地的靶标成像在探测器的靶面上,使用折转反射镜代替干涉仪,在系统无干涉仪状态下首先调整探测器的空间位置,使探测器的行与靶标的像平行,消除干涉仪带来的像旋影响,最后放置并调整干涉仪,以保证系统空间方向与光谱方向的正交性。本发明极大地提高了系统焦面空间方向垂直度的标定精度,同时无需配做一次像面处的工装,既降低了装调成本,又避免了引入相应的加工、装配误差,进而提高了装调精度。

    一种液晶可调谐滤波器中心波长标定校正方法及装置

    公开(公告)号:CN109781262B

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN201711106905.7

    申请日:2017-11-10

    Abstract: 本发明涉及滤波器技术领域,公开了一种液晶可调谐滤波器中心波长标定校正方法及装置,通过标定相位延迟量随波长变化的函数以及液晶相位延迟量随驱动电压变化的函数,以驱动系数为基础利用仿真计算来生成液晶可调谐滤波器各级偏振干涉单元的驱动电压,并以实测中心波长和设定中心波长的偏差计算得到校正系数,自动校正液晶可调谐滤波器中心波长所对应的驱动电压,提高了液晶可调谐滤波器中心波长标定的准确率和效率。

    一种多反射干涉自动测量系统

    公开(公告)号:CN112945385A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110103270.5

    申请日:2021-01-26

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明提供了一种多反射干涉自动测量系统,属于光谱技术领域,具有这样的特征,包括:光源部,发射入射光;多反射干涉仪,接收入射光并输出出射光;光传感器,接收出射光并将光信号转化电信号;模数转化部,将电信号转化为数字信号;以及控制部,控制光源部、多反射干涉仪、光传感器以及模数转化部的运行,并将数字信号转化为干涉图进行输出,其中,多反射干涉仪包括:第一反射单元以及第二反射单元,第二反射单元包括第二长反射镜、第二短反射镜、第二终端反射镜以及移动组件,第二长反射镜设置在移动组件上。

    一种多反射干涉仪及多反射干涉分光方法

    公开(公告)号:CN112782102A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202110103276.2

    申请日:2021-01-26

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明提供了一种多反射干涉仪及多反射干涉分光方法,属于光谱技术领域,该多反射干涉仪用于设置在多反射干涉自动测量系统中,具有这样的特征,包括:分束器,固定在第一支撑单元上,用于将入射光分成第一光束和第二光束;第一反射单元以及第二反射单元,第二反射单元包括第二长反射镜、第二短反射镜、第二终端反射镜以及移动组件,该移动组件包括滚珠丝杆、滑块、步进电机以及动镜支架,滚珠丝杆与第二短反射镜相垂直,滑块套设在滚珠丝杆上,步进电机的输出轴通过联轴器与滚珠丝杆连接,用于带动滚珠丝杆转动进而带动滑块沿着滚珠丝杆的长度方向移动,动镜支架安装在滑块上,第二长反射镜安装在动镜支架上。

    高通量紧凑型静态傅里叶变换光谱仪

    公开(公告)号:CN112752958A

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202080003190.6

    申请日:2020-11-10

    Inventor: 麦江泉

    Abstract: 描述了提供一种高通量点源光耦合结构(120)的系统和方法,该结构实施了根据一个或多个聚光器(122)配置规则配置的聚光器(122)。高通量点源光耦合结构(120)的实施例利用双折射板配置(341,342)与聚光器(122)和点源(121)相结合,以提供一种光耦合器结构(120)用于双折射‑静态‑傅立叶变换干涉仪实施。根据一些例子,双折射板(341,342)配置的第一和第二双折射板(341,342)的光轴不在同一平面上。实施例的高通量点源光耦合结构(120)的聚光器(122)相对于点源(121)和/或相机镜头(131)以确定的(例如,间隔、关系等)关系提供,相机镜头是用于捕获由光耦合结构(120)产生的干涉图案。高通量点源光耦合结构(120)可作为具有图像捕获能力的基于处理器的移动设备(130)的外部附件提供。

    双通道干涉型高光谱成像装置及方法

    公开(公告)号:CN110307902B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201910565510.6

    申请日:2019-06-27

    Abstract: 本发明公开了一种双通道干涉型高光谱成像装置及方法,装置包括沿光轴方向依次设置的前置成像物镜、第一滤光片阵列、光阑、准直物镜、起偏器、第二滤光片阵列、双折射剪切器阵列、检偏器、后置成像物镜和面探测器阵列。入射光经前置成像物镜成像在光阑处,通过光阑上的两片滤光片、准直物镜,变为两束不同波段的平行光,经起偏器再经两片滤光片分别入射至相应的双折射剪切器,光束被剪切为两组不同波段且具有一定光程差的偏振光,经检偏器、后置成像物镜成像在面探测器上产生两组干涉信息,最后经光谱复原得到待测目标的光谱信息。本发明采用两组双折射剪切器以在一次推扫成像中获得两组不同剪切量的干涉图,实现双通道成像,提高了光谱分辨率。

    一种静止卫星红外高光谱仪的观测仿真方法

    公开(公告)号:CN112699533A

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN202011450082.1

    申请日:2020-12-09

    Abstract: 本发明公开了一种静止卫星红外高光谱仪的观测仿真方法,利用辐射传输模式RTTOV得到入瞳能量与亮温;根据奈奎斯特采样定理和静止卫星红外高光谱仪的激光采样频率,得到理想干涉图和理想光谱图,并计算出理想亮温;在理想光谱图的基础上加入离轴效应,得到含有离轴效应的光谱,经过普朗克函数得到相应的亮温;由于输入光强和输出光强的二次非线性关系,计算得到实际测量含有非线性影响的干涉图和光谱图,并计算得到相应的亮温;在生成的仿真数据的基础上,分别进行非线性校正和离轴校正,并通过对比分析校正后的亮温与理想亮温的误差。本发明提供的静止卫星红外高光谱仪的观测仿真方法,物理过程清晰,方法简单可行,通过误差分析说明了可靠性。

    高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法

    公开(公告)号:CN111562002B

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202010322232.4

    申请日:2020-04-22

    Abstract: 本发明涉及一种高通量高分辨率高对比度的偏振干涉光谱成像装置及方法。克服传统迈克尔逊干涉的成像光谱仪探测精度较低以及传统基于Sagnac干涉仪的成像光谱仪能量利用率和分辨率较低的问题,包括依次设置在光路中的准直镜、偏振片、干涉仪、色散系统、成像镜及探测器;干涉仪包括位于偏振分束器的出射光路中的半波片及光程差标准具;目标光源入射到干涉仪利用半波片调节S光或P光的振动方向,使得S光和P光具有相同的振动方向;利用光程差标准具调节S光和/或P光的光程,使得S光和P光之间产生固定的光程差;非偏分束器将具有相同振动方向、固定光程差的S光和P光均反射和透射,形成干涉条纹;干涉条纹经色散系统色散后成像在探测器上。

    一种红外光谱仪动镜的支撑装置及动镜扫描结构

    公开(公告)号:CN109060131B

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN201810880167.X

    申请日:2018-08-03

    Inventor: 敖小强 石磊

    Abstract: 本发明公开一种红外光谱仪动镜的支撑装置及动镜扫描结构。动镜的支撑装置包括固定板、第一摆动板、第二摆动板、第三摆动板、第一弹片组和第二弹片组,第一摆动板与固定板相对设置,第一弹片组的一端连接固定板,另一端连接第一摆动板;第二摆动板和第三摆动板分别位于固定板的左右两侧,第二弹片组的一端连接第二摆动板,另一端连接第三摆动板。本发明的红外光谱仪动镜的支撑装置,利用多组弹片交叉形成摆动机构,具有无摩擦、稳定性好、精度高、抗震性好的特点。

    光谱检测装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN109959451B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201811325136.4

    申请日:2018-11-08

    Inventor: 陈裕仁 王唯科

    Abstract: 根据本发明一些实施例,提供一种光谱检测装置。上述光谱检测装置包含基底,其具有第一光电二极管及第二光电二极管。上述光谱检测装置亦包含干涉型滤光层,其设置于第一及第二光电二极管上方,其中干涉型滤光层允许具有多重波段的波长的光线穿过。上述光谱检测装置还包含第一吸收型滤光层,其设置于第一及第二光电二极管上方,其中第一吸收型滤光层允许具有第一区的波长的光线穿过。此外,上述光谱检测装置包含第二吸收型滤光层,其设置于第二光电二极管上,且第二吸收型滤光层允许具有第二区的波长的光线穿过,且其中第二区与第一区重叠。

Patent Agency Ranking