Light absorption analyser
    342.
    发明公开
    Light absorption analyser 失效
    光吸收分析仪

    公开(公告)号:EP0274403A3

    公开(公告)日:1990-06-13

    申请号:EP88300004.4

    申请日:1988-01-04

    Abstract: A light absorption analyser can work in either a reflection or a transmission mode, according to which probe head is fitted to it. Light is caused to be of a desired wavelength for the analysis by passing non-monochromatic light from a high-intensity flash tube source (10) (which is not a point source) to an interference filter (13). Only parallel light emanating from the filter (13) is focused by a concave parabolic mirror (21) on a point where at least one fibre-optic collector (14,22) is positioned. This light can then be passed directly to the probe for passage through the sample, since it is only light of a specified wavelength which will have travelled parallel from the filter and will therefore be focused at the point. Some of the light is taken off a reference detector (17) to provide a reference signal for comparison with that derived from a test detector (20) fed by a return fibre-optic (19) from the probe. A comparator (18) is programmed to give a quantitative readout of the absorption by the test sample.

    Fotometer
    344.
    发明公开
    Fotometer 失效
    光度计。

    公开(公告)号:EP0257229A2

    公开(公告)日:1988-03-02

    申请号:EP87109028.8

    申请日:1987-06-23

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Fotometer (1) bei dem mittels eines Zerhackers (17,18,29,31) eine Meßphase, eine Referenzphase und eine Dunkelphase er­zeugt werden. Diese Phasen sind zeitlich versetzt, so daß für alle Phasen ein einziger Detektor (23) vorgesehen sein kann. In dem Fotometer (1) ist das zu messende Objekt (6) zwischen zwei Lichtleitern (13,14) vorge­sehen, wobei der eine Lichtleiter (14) zu dem Detektor (23) und der an­dere Lichtleiter (13) zu dem Zerhackereingang (17) führt. Der Zerhacker­ausgang (18) ist mit einem weiteren Lichtleiter (19) auf den Detektor (23) geführt (Fig. 1).

    Abstract translation: 本发明涉及一种光度计(1),其中由斩波器(17,18,29,31)的装置包括一个测量阶段,生成一基准相位和黑暗阶段。 这些阶段在时间上偏移,使得单个检测器(23)可以用于所有阶段提供。 在光度计(1)要被测量的物体(6)的两个光导体(13,14)之间,其中一个光导体(14)与检测器(23)和其它光导(13)与Zerhackereingang(17) 线索。 所述Zerhackerausgang(18)上设置有进一步光导(19),检测器(23)出(图1)上。

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