-
公开(公告)号：JP6123318B2
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：JP2013020167
申请日：2013-02-05
Applicant: セイコーエプソン株式会社
Inventor： 多津田 哲男
CPC classification number: G01N21/251 , G01J3/0208 , G01J3/0262 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0283 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G01J3/51 , G01J2003/2826
-
公开(公告)号：JP2017506738A
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2016545927
申请日：2015-02-28
Applicant: アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw , アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw
Inventor： ポル・ファン・ドルぺ , ペーテル・プーマンス
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65 , A61B5/0066 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , A61B5/443 , A61B2562/0233 , A61B2562/0238 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0227 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/0291 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J3/44 , G01J2003/1213 , G01N33/49 , G01N2201/06113 , G01N2201/0633 , G01N2201/0636
Abstract: 放射線ビームの特徴を明らかにするための分光計(100)は、光放射線ガイドシステムと分光計チップ(130)とを備えている。光放射線ガイドシステムは、放射線ビームを平行化して平行放射線ビームを形成するためのコリメータ(110)と、平行放射線ビームのパワーを、孤立した複数のライン状領域にわたって分布させるためのビーム成形器(120)とを有する。平行放射線ビームのスペクトルは、孤立した複数のライン状領域のそれぞれに分配される。分光計チップ(130)は、ビーム成形器(120)から到来する放射線を孤立した複数のライン状領域で処理するように構成されている。
-
公开(公告)号：JP6082401B2
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：JP2014539314
申请日：2012-10-30
Inventor： ベルト・ヘーレン , アンディ・ランブレヒツ , クラース・タック
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/0235 , G01J3/0264 , G01J3/2823 , G01J3/513 , Y10T29/49826
-
公开(公告)号：JP2017500577A
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：JP2016542661
申请日：2014-12-22
Applicant: サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド , サーモ サイエンティフィック ポータブル アナリティカル インスツルメンツ インコーポレイテッド
Inventor： マイケル デレク ハーグリーヴス , マイケル デレク ハーグリーヴス , ティモシー エム パストーレ , ティモシー エム パストーレ , ローズ グレゴリー エイチ ヴァンダー , ローズ グレゴリー エイチ ヴァンダー , ブレンドン ディー タワー , ブレンドン ディー タワー
IPC: G01N21/3563 , G01N21/65
CPC classification number: G01J3/4412 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0283 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/28 , G01J3/44 , G01J3/45 , G01J3/453 , G01J2003/2833 , G01N21/35 , G01N21/65 , G01N2021/3595 , G01N2201/0221
Abstract: 材料の化学特性をフィールド分析するように構成可能な分光計を提供する。分光計は、フーリエ変換赤外分光法(FTIR)を監視するように構成された少なくとも1個のセンサとラマン分光法を監視するように構成された少なくとも別のセンサを含む。分光計は、ユーザがアクセス可能な、分光計のサンプリング構成を変更するための指示セットを備えていてもよい。分光計を使って、少なくとも2つの技術によりサンプルの最有力な組成を判定する方法も提供する。【選択図】図1
Abstract translation: 该材料的化学性质提供可配置的光谱仪场分析。 光谱仪包括至少被配置为监控至少一个传感器，并且被配置为监视所述傅里叶变换红外光谱（FTIR）拉曼光谱法的另一传感器。 光谱仪中，用户可访问可以包括一组指令，用于改变光谱仪的采样结构。 使用分光计还提供了通过至少两种技术确定样品的占主导地位的组合物的方法。 点域1
-
公开(公告)号：JP5958867B2
公开(公告)日：2016-08-02
申请号：JP2014531541
申请日：2013-07-08
Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/0267 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01J2003/102 , G01J3/108
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP1548168S
公开(公告)日：2016-04-18
申请号：JP2015011672
申请日：2014-10-29
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/0202 , G01J3/0291
-
公开(公告)号：JP1548167S
公开(公告)日：2016-04-18
申请号：JP2015011671
申请日：2014-10-29
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/0202 , G01J3/0291
-
公开(公告)号：JP2016504563A
公开(公告)日：2016-02-12
申请号：JP2015538089
申请日：2013-10-18
Applicant: ハイパーメツド・イメージング・インコーポレイテツド
Inventor： ダーティー，マーク，アンソニー
CPC classification number: G02B5/20 , A61B5/0075 , G01J3/0264 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/36 , G01J2003/2806 , G01J2003/2826 , H04N5/2256 , H04N5/238 , H04N5/332
Abstract: 各々がそれぞれの出力を提供する複数の光センサを含む光センサアレイを備えるハイパースペクトル撮像デバイスが提供される。本デバイスは、複数のフィルタ素子を有するスペクトルフィルタアレイを備え、各フィルタ素子が光センサのそれぞれの1つ以上によって受光された光をフィルタリングするように配列される。各フィルタ素子は、複数のフィルタ型のうちの1つである。各フィルタ型は、固有のスペクトル通過帯域を特徴とする。本デバイスは、光センサ出力の複数のサブセットを選択するインターフェースモジュールを備える。各このようなサブセットは、単一のそれぞれのフィルタ型と関連付けられる。本デバイスは、複数の画像を生成することによって、光センサ出力のサブセットからハイパースペクトルデータキューブを生成する制御モジュールを備える。各このような画像は、複数の光センサ出力のうちの単一の対応する光センサ出力のサブセットから生成され、そうして複数のフィルタ型のうちの対応するフィルタ型と関連付けられる。【選択図】図4
Abstract translation: 提供了包含光学传感器阵列，其包括多个光传感器提供各自的输出中的每一个的高光谱成像装置。 该装置包括具有多个过滤元件的光谱滤光器阵列，所述过滤器元件被布置成过滤通过一个或多个相应的光传感器中接收的光。 每个过滤器元件是多个过滤器类型中的一个。 每个过滤器型的特点是一个特定的光谱带通。 该装置包括用于选择多个光传感器输出的子集的接口模块。 每个这样的子集与单个相应的滤波器类型相关联。 的装置中，通过生成的多个图像，包括产生从光传感器输出的子集的高光谱数据立方体的控制模块。 每一个这样的图像被从光电传感器输出的多个光学传感器的输出，从而与相应的过滤器类型，所述多个过滤器的类型相关联的单个相应子集生成的。 点域4
-
公开(公告)号：JP2015148485A
公开(公告)日：2015-08-20
申请号：JP2014020665
申请日：2014-02-05
Applicant: 浜松ホトニクス株式会社
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/04
Abstract: 【課題】検出精度の低下を抑制しつつ小型化を図ることができる分光器、及びそのような分光器を容易に製造することができる分光器の製造方法を提供する。 【解決手段】分光器1Aは、光通過部21及び光検出部22が設けられた光検出素子20と、光通過部21及び光検出部22との間に空間Sが形成されるように光検出素子20に固定された支持体30と、支持体30に設けられ、空間Sにおいて、光通過部21を通過した光L1を反射する第1反射部11と、光検出素子20に設けられ、空間Sにおいて、第1反射部11で反射された光L1を反射する第2反射部12と、支持体30に設けられ、空間Sにおいて、第2反射部12で反射された光L1を光検出部22に対して分光すると共に反射する分光部40と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够在抑制检测精度下降的同时能够小型化的光谱仪，并提供一种使得能够容易地制造这种光谱仪的光谱仪的制造方法。解决方案：光谱仪1A包括：光 具有光通路部分21和光检测部分22的检测元件20; 固定在光检测元件20上的支撑体30，使得在光通过部21和光检测部22之间形成空间S. 设置在支撑体30中的第一反射部11，用于在空间S中反射经过光通过部21的光L1; 设置在光检测元件20中的第二反射部分12，用于在空间S中反射已被第一反射部分11反射的光L1; 以及设置在支撑体30中的用于在空间S中分离和反射由光检测部22的第一反射部11反射的光L1的分光部40。
-
公开(公告)号：JP2015114420A
公开(公告)日：2015-06-22
申请号：JP2013255066
申请日：2013-12-10
Applicant: ソニー株式会社
CPC classification number: G02B21/361 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/4406 , G01N21/6458 , G02B21/16 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441 , G01N2201/1053
Abstract: 【課題】サンプルの励起波長が変化する状況下においても、コントラストの高い画像を、簡便な方法で得ることが可能な画像取得装置及び画像取得方法を提供する。 【解決手段】レーザー光を出射し、当該レーザー光の波長を制御可能に構成された光源2と、レーザー光によりサンプルSを走査し、当該レーザー光を受けてサンプルSからの測定対象光の強度を測定する測定部53と、測定された測定対象光の強度分布に基づき、当該サンプルSの画像を生成する制御部6aと、を備え、制御部6aは、測定された測定対象光の強度分布に基づき、レーザー光の波長を制御する。 【選択図】図28
Abstract translation: 要解决的问题：提供即使在样品的激发波长变化的情况下也能够使用更容易的方法来获得具有高对比度的图像的图像获取装置和图像获取方法。解决方案：提供了一种 图像获取装置，包括被配置为发射激光并能够控制激光的波长的光源2;测量单元53，被配置为使用激光扫描样本S，并且测量来自 通过接收激光的样品S，以及被配置为基于测量的测量目标光的强度分布产生样品S的图像的控制单元6a。 控制单元6a基于测量的测量目标光的强度分布来控制激光的波长。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
2298
records
(took 0.044 seconds)
