公开(公告)号：JP2015031649A

公开(公告)日：2015-02-16

申请号：JP2013163040

申请日：2013-08-06

Applicant: セイコーエプソン株式会社 ,  Seiko Epson Corp

Inventor： FUNAMOTO TATSUAKI

IPC: G01J3/50

CPC classification number: G01J3/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/26 ,  G01J3/51

Abstract: 【課題】被測定面を均一な光強度の分布で照射して測色する測色装置を提供する。【解決手段】被測定面5に光6を照射する投光部2と、被測定面5を撮影する撮影部3と、を備え、投光部2は、光源7と、光源7が射出する光6を平行光6aにするコリメートレンズ8と、平行光6aの平行状態を維持して平行光6aの進行方向を変える進路方向変更部9と、を有し、進路方向変更部9は被測定面5と平行に配置され、コリメートレンズ8の光軸8cの向きは被測定面5の法線方向5aの向きと同じ向きになっている。【選択図】図1

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于以均匀的光强度分布照射待测表面并测量表面颜色的比色装置。解决方案：比色装置包括用于照射待测表面5的光投射单元2 具有光6，以及用于拍摄要测量的表面5的拍摄单元3。 光投射单元2包括：光源7; 用于将从光源7发射的光6转换成平行光6a的准直透镜8; 以及用于在保持平行光6a的平行状态的同时改变平行光6a的行进方向的行进方向改变单元9。 行进方向变化9与被测定面5平行设置，准直透镜8的光轴8c的取向与被测定面5的法线方向5a的取向相同。

公开(公告)号：JP5667007B2

公开(公告)日：2015-02-12

申请号：JP2011168738

申请日：2011-08-01

Applicant: ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション ,  ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション

Inventor： ヒュン ユン，ソク ,  ヒュン ユン，ソク ,  ユージーン ボウマ，ブレット ,  ユージーン ボウマ，ブレット ,  ジェイ． ターニー，ギレルモ ,  ジェイ． ターニー，ギレルモ ,  ドゥ ボーア，ヨハネス フィッツヘラルド ,  ドゥ ボーア，ヨハネス フィッツヘラルド

IPC: G01N21/17 ,  A61B5/00 ,  G01J9/02 ,  G01N21/47 ,  G02B27/48

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

公开(公告)号：JP2014524051A

公开(公告)日：2014-09-18

申请号：JP2014520337

申请日：2012-07-12

Applicant: ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド

Inventor： グレゴリー クランドル ,  アレン オルソン

IPC: G02B21/36 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/274 ,  G01N21/278 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6471 ,  G02B21/365 ,  G06T5/009 ,  G06T5/40 ,  G06T7/74 ,  G06T7/80 ,  G06T2207/10024 ,  G06T2207/10056 ,  G06T2207/10064

Abstract: 【課題】ドリフト及び正規化の効果を分離することにより基準システムに対する一又はそれ以上の蛍光スキャニング装置を標準化するシステム及び方法。
【解決手段】一実施形態では、ドリフト基準スライドの画像を含むドリフト画像は、標準化されるシステムによりキャプチャされる。 ドリフト測定は、ドリフト画像を用いて算出される。 正規化スライドの画像を含む第１の正規化画像もまた、標準化されるシステムによりキャプチャされる。 正規化スライドの画像も含む基準正規化画像は、基準システムによりキャプチャされる。 第１の正規化画像は、標準化されるシステムについてのガンマ値及びオフセット値を求めるために基準正規化画像を比較する。
【選択図】なし

Abstract translation: 通过分离漂移和归一化的影响将一个或多个荧光扫描仪器标准化到参考系统的系统和方法。 在一个实施例中，包括漂移参考滑块的图像的漂移图像由待标准化的系统捕获。 使用漂移图像计算漂移测量。 包括标准化幻灯片的图像的第一标准化图像也被要标准化的系统捕获。 还包括归一化幻灯片的图像的参考归一化图像由参考系统捕获。 将第一归一化图像与参考归一化图像进行比较，以确定要标准化的系统的伽马值和偏移值。

公开(公告)号：JP5575951B1

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：JP2013098922

申请日：2013-05-08

Applicant: 株式会社日本医化器械製作所 ,  株式会社相馬光学

Inventor： 京一 原田 ,  明子 浦

IPC: G01J3/36 ,  A01G7/00

CPC classification number: G01J3/0264 ,  A01G7/045 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0294 ,  Y02P60/146

Abstract: 【課題】 波長毎の光合成光量子束密度をリアルタイムで知ることできる実用的な光量子計を提供する。
【解決手段】 分光ユニット１において入射光学系１３により分光素子１２に入射した被測定光は分光素子１２で分光され、検出器１４で光電変換されて各波長の光電変換信号がインタフェース部１６，２６を介して演算処理ユニット２に送信される。 光合成光量子束密度測定プログラム４及び専用のデバイスドライバ２６２がインストールされた汎用コンピュータである演算処理ユニット２は、受信した分光データを演算処理して波長毎の光合成光量子束密度の分布を算出し、ディスプレイ２４に表示する。
【選択図】 図１

公开(公告)号：JP5567246B2

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：JP2006536622

申请日：2004-09-08

Applicant: ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション

Inventor： ヒュン ユン，ソク ,  ユージーン ボウマ，ブレット ,  ジェイ． ターニー，ギレルモ ,  ドゥ ボーア，ヨハネス フィッツヘラルド

IPC: G01N21/17 ,  A61B5/00 ,  G01J9/02 ,  G01N21/47 ,  G02B27/48

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: An apparatus and method are provided. In particular, at least one first electro-magnetic radiation may be provided to a sample and at least one second electro-magnetic radiation can be provided to a non-reflective reference. A frequency of the first and/or second radiations varies over time. An interference is detected between at least one third radiation associated with the first radiation and at least one fourth radiation associated with the second radiation. Alternatively, the first electro-magnetic radiation and/or second electro-magnetic radiation have a spectrum which changes over time. The spectrum may contain multiple frequencies at a particular time. In addition, it is possible to detect the interference signal between the third radiation and the fourth radiation in a first polarization state. Further, it may be preferable to detect a further interference signal between the third and fourth radiations in a second polarization state which is different from the first polarization state. The first and/or second electro-magnetic radiations may have a spectrum whose mean frequency changes substantially continuously over time at a tuning speed that is greater than 100 Tera Hertz per millisecond.

公开(公告)号：JP5517152B2

公开(公告)日：2014-06-11

申请号：JP2009528873

申请日：2007-09-18

Applicant: コロライト リミテッド

Inventor： イスラエル グロッシンゲル， ,  ナダヴ グロッシンゲル， ,  ヴァレリー シュルマン， ,  ミシェル メルシエル， ,  ベンジオン ランダ，

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01J3/46 ,  A45D44/005 ,  A61B5/448 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/463 ,  G01N21/84 ,  G01N2021/8444

公开(公告)号：JP2014510292A

公开(公告)日：2014-04-24

申请号：JP2014503682

申请日：2012-03-27

Applicant: コーニング インコーポレイテッド

Inventor： イー セカンド コムストック，ラヴェル ,  エル ウィギンズ，リチャード

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0289 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2823

Abstract: 複数視野ハイパースペクトルイメージング装置（３００）およびこれを使用する方法を本書において説明する。 一実施の形態において、複数視野ハイパースペクトルイメージング装置は、複数の前方レンズ（３０８、３１０）、複数の折返しミラー（３１２、３１４）、複数の開口（３１８、３２０）を含むスリット、分光計（３０２）、および２次元検出器を備えている。

Abstract translation: 本文介绍了多视场高光谱成像装置及其使用方法，可用于包括短波长红外（SWIR）和长波长红外（LWIR）应用在内的许多应用中。 在一个实施例中，多视场高光谱成像装置包括多个前光学元件，多个折叠反射镜，包括多个开口的狭缝，光谱仪和二维检测器。

公开(公告)号：JP2014509746A

公开(公告)日：2014-04-21

申请号：JP2014501448

申请日：2011-03-29

Applicant: オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH

Inventor： ミュラー クリスティアン

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427

Abstract: 本発明は、タイプの異なる複数の光源によって形成されかつユニット（１）に入射する電磁ビーム（２）において、優位を占める光源のタイプを求めるユニット（１）に関する。 このユニットは、可視スペクトル領域における電磁ビームを検出して、第１出力信号（１１）を形成するように構成された少なくとも１つの第１フォトダイオード（１０）を有している。 このユニットは、赤外スペクトル領域における電磁ビームを検出して、第２出力信号（２１）を形成するように構成された少なくとも１つの第２フォトダイオード（２０）を有している。 このユニットは、第１出力信号（１１）および第２出力信号（２１）から除算結果（２３）および周波数結果（１３）を導出するように構成された少なくとも１つの計算ユニット（３０）を有している。 この周波数結果により、あらかじめ設定した周波数領域の信号成分が上記の電磁ビームに含まれているか否かについての情報が得られる。 上記のユニットは、上記の除算結果（２３）および周波数結果（１３）から上記の優位を占める光源のタイプを導出するように構成された少なくとも１つの評価ユニット（４０）を有する。

公开(公告)号：JP5440609B2

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：JP2011537107

申请日：2010-09-09

Applicant: コニカミノルタ株式会社

Inventor： 健二 井村

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/50 ,  G01N21/21

CPC classification number: G01J3/50 ,  B41F33/0036 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/501

公开(公告)号：JP2013181912A

公开(公告)日：2013-09-12

申请号：JP2012047230

申请日：2012-03-02

Applicant: Seiko Epson Corp ,  セイコーエプソン株式会社

Inventor： SAKURAI KAZUNORI

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J1/06 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J5/10 ,  G01J2005/0077

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small-sized component analyzer that can execute component analysis of an inspection object in a non-contact manner therewith and is excellent in portability.SOLUTION: A component analyzer 10 comprises: a housing 11; a light source section 132; a light incident section 131 for guiding light from an inspection object to an inside of the housing 11; a wavelength variable interference filter 5 for taking out light having a predetermined wavelength from incident light; an imaging section 133 that receives the light taken out and images a spectral image; a controller 17 for executing component analysis of the inspection object on the basis of the spectral image; and a display 15 for displaying a component analysis result. The light incident section 131, the imaging section 133, and the controller 17 are provided inside the housing 11. The wavelength variable interference filter 5 comprises: a fixed substrate having a fixed reflection film; a movable substrate that is disposed opposite to the fixed substrate and has a movable reflection film opposite to the fixed reflection film via a gap between the reflection films; and an electrostatic actuator for changing a gap amount of the gap between the reflection films.

Abstract translation: 要解决的问题：提供能够以非接触的方式执行检查对象的部件分析并且便携性优异的小型部件分析器。解决方案：部件分析器10包括：壳体11; 光源部132; 用于将来自检查对象的光引导到壳体11的内部的光入射部131; 用于从入射光取出具有预定波长的光的波长可变干涉滤光器5; 摄像部133，其接收取出的光并对光谱图像进行成像; 控制器17，用于根据光谱图像执行检查对象的分量分析; 以及用于显示分量分析结果的显示器15。 光入射部分131，成像部分133和控制器17设置在壳体11的内部。波长可变干涉滤光器5包括：具有固定反射膜的固定基板; 可动基板，与所述固定基板相对设置，并且具有通过所述反射膜之间的间隙与所述固定反射膜相对的可动反射膜; 以及用于改变反射膜之间的间隙的间隙量的静电致动器。