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    Espectrómetro infrarrojo
    362.
    发明专利
    Espectrómetro infrarrojo 未知

    公开(公告)号：ES2597456T3

    公开(公告)日：2017-01-18

    申请号：ES08709427

    申请日：2008-02-15

    Applicant: THE SCIENCE AND TECH FACILITIES COUNCIL

    Inventor： WEIDMANN DAMIEN

    IPC: G01J3/42 ,  G01J3/08 ,  G01N21/27 ,  G01N21/35 ,  G01N21/39

    Abstract: Un espectrofotómetro infrarrojo IR para la determinación de la relación isotópica en una muestra, que comprende: un primer láser IR ajustable para proporcionar un primer haz a una primera longitud de onda; un segundo láser IR ajustable para proporcionar un segundo haz a una segunda longitud de onda diferente de la primera longitud de onda; una primera celda de absorción (20) para contener una muestra de referencia de relación isotópica conocida y dispuesta para recibir ambos primer y segundo haces; una segunda celda de absorción (30) para contener una muestra de relación isotópica desconocida y dispuesta para recibir ambos primer y segundo haces; un primer detector de absorción óptica dispuesto para detectar dicha primera longitud de onda; un segundo detector de absorción óptica dispuesto para detectar dicha segunda longitud de onda; y un entrelazador (40) dispuesto de tal forma que, alternativamente, la radiación IR transmitida a través de la primera o de la segunda celda de absorción (20, 30) se dirige hacia dichos primero y segundo detectores de absorción óptica, de tal forma que conmuten la radiación IR detectada en el primer y segundo detector de absorción óptica, entre cualquiera de: la radiación IR transmitida a través de la primera celda de absorción (20); o la radiación IR transmitida a través de la segunda celda de absorción (30).

    Urządzenie skupiające promieniowanie źródła światła
    363.
    发明专利
    Urządzenie skupiające promieniowanie źródła światła 未知

    公开(公告)号：PL401420A1

    公开(公告)日：2014-05-12

    申请号：PL40142012

    申请日：2012-10-30

    Applicant: INST TECH ELEKTRONOWEJ

    Inventor： BOROWICZ LECH ,  NIEMIEC MAREK ,  NIEMIEC MAREK J ,  LATEK MARIUSZ

    IPC: G01J3/00 ,  G01J3/08 ,  G01J3/12 ,  G01J3/14

    Abstract: Przedmiotem wynalazku jest urządzenie skupiające promieniowanie źródła światła za pomocą elementów optycznych, takich jak soczewki i zwierciadła, na szczelinie monochromatora. Urządzenie to posiada część soczewkową, w której wychodząca ze źródła promieniowania (1) wiązka jest kolimowana oraz bezaberacyjną część zwierciadlaną (3), w której na elemencie ogniskującym jest zakrzywiana pod kątem 90° i kierowana na szczelinę wejściową monochromatora (4) znajdującą się w stałej odległości (L) od elementu ogniskującego. W urządzeniu tym dla określonej długości fali z przedziału 190-700nm, element soczewkowy (2) znajduje się w odpowiedniej odległości od centralnego źródła promieniowania (1). Odległość ta spełnia warunek minimalizacji średniego kwadratowego odchylenia rzeczywistej powierzchni falowej tworzonej przez element (2) od sferycznej powierzchni odniesienia tego elementu.

    An emission spectrometer and method of operation
    364.
    发明专利
    An emission spectrometer and method of operation 未知

    公开(公告)号：AU2012211024A1

    公开(公告)日：2013-08-01

    申请号：AU2012211024

    申请日：2012-01-11

    Applicant: TECH RESOURCES PTY LTD

    Inventor： MORESCHINI PAOLO ,  COHEN JOANNA ,  PAULSEN GALE ,  CARTER GEOFFREY ALAN

    IPC: G01J3/443 ,  G01J3/08

    Abstract: A method of calibrating an emission spectrometer (10) having a detector (11) capable of detecting spectral components of incident radiation, and a measurement optical path (28) which directs an energy beam (26) to a sample (20) and radiation emitted by the sample when irradiated by the energy beam to the radiation detector (11). The method comprises directing radiation of known spectral characteristic along an alternate path to the detector (11). The detector (11) to detects spectral characteristics of the radiation and makes a comparison with the known spectral characteristics. Drift data is determined on a basis of any variation between the detected and known spectral characteristics. The drift data is stored and subsequently used to adjust detected spectral characteristics of a sample in the measurement optical path (28) produce a drift calibrated output spectral analysis of the sample.

    TIME-SERIES CONVERSION PULSE SPECTROMETER
    366.
    发明专利
    TIME-SERIES CONVERSION PULSE SPECTROMETER 未知

    公开(公告)号：HK1131437A1

    公开(公告)日：2010-01-22

    申请号：HK09111035

    申请日：2009-11-26

    Applicant: JAPAN SCIENCE & TECH AGENCY ,  IHI CORP ,  IHI

    IPC: G01J3/42 ,  G01J20060101 ,  G01J3/08 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3586 ,  G01N21/64

    Abstract: It is an object to provide a time-domain pulsed spectroscopy apparatus in which time-domain pulsed spectroscopy of multiple samples, states thereof, and so on can be carried out easily and in a short period of time. A time-domain pulsed spectroscopy apparatus of the present invention comprises a pulsed laser light source; a splitting unit configured to split pulsed laser light from the pulsed laser light source into excitation pulsed laser light and detection pulsed laser light; a pulsed-light emitting unit; a detector; a sample holder configured to hold the sample; and sample-unit entrance and exit optical systems configured to guide the pulsed light from the pulsed-light emitting unit to the sample and to guide to the detector pulsed light reflected from or transmitted through the sample due to the irradiation; wherein the time-domain pulsed spectroscopy apparatus further comprises: at least one optical-path-length varying unit for setting a photometric range, disposed in an incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in a detection-side optical path from the splitting unit to the detector; and at least one optical delay unit for the wave form signal measurement, disposed in the incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in the detection-side optical path from the splitting unit to the detector.

    368.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE60219883T2

    公开(公告)日：2008-01-17

    申请号：DE60219883

    申请日：2002-10-04

    Applicant: HITACHI HIGH TECH CORP

    Inventor： SAITO MICHIHIRO ,  TAKAHASHI SATOSHI ,  MATSUMOTO KOICHI

    IPC: G01N21/64 ,  G01J3/08 ,  G01J3/44 ,  G01N21/25

    Abstract: At the time of analytical measurement of a sample by the fluorescence measuring device or the phosphorescence measuring device, both the optical path of exciting light emitted from the light source 1 to the sample 6 and the optical path of fluorescence or phosphorescence emitted from the sample to the detection unit 10 are shut off. Both are shut off by one chopper 11, 12.

    A SPECTROMETRIC APPARATUS FOR MEASURING SHIFTED SPECTRAL DISTRIBUTIONS
    369.
    发明专利
    A SPECTROMETRIC APPARATUS FOR MEASURING SHIFTED SPECTRAL DISTRIBUTIONS 未知

    公开(公告)号：CA2609704A1

    公开(公告)日：2006-12-14

    申请号：CA2609704

    申请日：2006-06-08

    Applicant: RSP SYSTEMS APS

    Inventor： HENNEBERG MORTEN ,  BANKE STEPHAN OVESEN

    IPC: G01J3/44 ,  G01J3/08

    Abstract: This invention relates to a spectroscopic apparatus for measuring at least two spectrally shifted spectral distributions of a light beam, said apparatus comprises a dispersive element adapted to generate a spatial dispersion of the spectral components in a light beam when said dispersive element is being illuminated by said light beam; and a detector adapted to measure the intensity of at least a part of said dispersed spectral components where said apparatus further comprises an optical shifting means adapted to illuminate said dispersive element in at least two different ways, such that said light beam hits said dispersive element differently, and whereby said dispersive element generates at least two spatially shifted spatial dispersions of the spectral components in said light beam. The invention further relates to a probing system comprising said spectroscopic apparatus for measuring at least two spectrally shifted spectral distributions of a light beam, and a method for measuring at least two spectrally shifted spectral distributions of a light beam.

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