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公开(公告)号：CN109308929A
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201810722252.3
申请日：2018-06-29
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 为了操作包括多个NAND串的存储器设备，当选择的字线的电压增加时，使多个NAND串中未选择的NAND串浮置，以使得未选择的NAND串的沟道电压升高。当选择的字线的电压降低时，使未选择的NAND串的沟道电压放电。当选择的字线的电压增加时，可以通过使未选择的NAND串浮置以使得未选择的NAND串的沟道电压的升高与选择的字线的电压的增加一起发生来降低负载，当选择的字线的电压降低时，可以通过在选择的字线的电压降低时使未选择的NAND串的升高的沟道电压放电来降低负载。通过这样降低选择的字线的负载，可以缩短电压建立时间并提高存储器设备的操作速度。
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公开(公告)号：CN109285848A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201810503286.3
申请日：2018-05-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/307 , H01L51/441 , H01L51/447 , H01L27/14601
Abstract: 一种图像传感器包括设置在半导体基板上并具有开口的绝缘图案、设置在绝缘图案的开口内的滤色器、设置在滤色器上的盖绝缘层、设置在盖绝缘层上并具有与滤色器重叠的部分的第一电极、围绕第一电极的侧表面的分隔结构、以及设置在第一电极上的光电层。分隔结构包括由不同材料形成的第一绝缘层和第二绝缘层。
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公开(公告)号：CN106971754A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201610951508.9
申请日：2016-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/16
CPC classification number: G11C16/3445 , G11C11/5635 , G11C16/0483 , G11C16/08 , G11C16/10 , G11C16/14 , G11C16/16 , G11C16/26
Abstract: 一种非易失性存储器设备可以包括存储单元阵列、地址译码器电路、页面缓冲器电路以及控制逻辑电路。擦除操作包括迭代地执行擦除循环，该擦除循环包括：擦除部分，在其中擦除电压被施加到所选择的存储器块的存储单元；以及擦除验证部分，在其中使用擦除验证电压来验证所选择的存储器块的存储单元。如果在擦除验证部分中所选择的存储器块的存储单元被确定为擦除通过，则控制逻辑电路可监视所选择的存储器块的存储单元。如果所监视的结果指示所选择的存储器块的存储单元处于异常状态，则控制逻辑电路向所选择的存储器块的存储单元施加额外的擦除电压。
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公开(公告)号：CN106847338A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611079351.1
申请日：2016-11-30
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/26
Abstract: 本发明提供了非易失性存储器装置、存储器系统及操作它们的方法。提供了如下一种操作包括三维(3D)存储器单元阵列的非易失性存储器装置的方法。利用第一读电压电平对连接至第一字线的第一存储器单元执行第一读操作。如果第一读操作失败，则对第一存储器单元执行读重试操作，以将读重试电压电平设为第二读电压电平。基于第一读电压电平与第二读电压电平之间的差来确定读偏移表。读偏移表存储多个读电压偏移。利用通过利用读偏移表确定的第三读电压电平对连接至第二字线的第二存储器单元执行第二读操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103219040A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201310021664.1
申请日：2013-01-21
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C16/10 , G11C16/24 , G11C16/3427
Abstract: 根据示范性实施例，一种非易失性存储器件：第一存储单元，被配置成存储第一数据样式；第二存储单元，被配置成被使用编程电压编程；和，耦合编程控制单元。耦合编程控制单元可以被配置成执行用于验证第一存储单元是否被利用第一数据样式编程的验证操作。所述验证操作可以给第一存储单元提供对应于第一数据样式的验证电压。耦合编程控制单元可以被配置成当第一存储单元上的验证操作指示通过时结束编程第二存储单元。
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公开(公告)号：CN118553292A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410005602.X
申请日：2024-01-03
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种非易失性存储装置和控制非易失性存储装置的方法。该控制非易失性存储装置的方法包括：基于写入地址确定与写入地址相对应的非易失性存储装置的选定存储单元是否被包括在过擦除群组中；基于选定存储单元被包括在过擦除群组中，执行预编程操作以增大选定存储单元的过擦除状态的阈值电压；以及在预编程操作完成之后，执行数据编程操作以将写入数据存储在选定存储单元中。
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公开(公告)号：CN118538254A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410185758.0
申请日：2024-02-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C5/14 , G11C7/12 , G11C8/08 , G11C8/10 , G11C13/00 , G11C16/08 , G11C16/14 , G11C16/30 , G11C16/24
Abstract: 一种存储器件包括：存储单元阵列，包括多个存储块；电压发生器，被配置为生成擦除电压和行线电压，以提供给多个存储块中要对其执行擦除操作的目标块；以及控制逻辑电路，被配置为控制存储单元阵列和电压发生器，其中，在擦除操作期间，在预充电电压被施加到与目标块连接的多条串选择线之后，控制逻辑电路还被配置为向连接到多条串选择线的多条位线提供擦除电压，其中，多条串选择线包括第一串选择线和第二串选择线，其中，第一串选择线与连接到目标块的多条字线的端部之间的第一距离小于第二串选择线与多条字线的端部之间的第二距离，并且其中，连接到第一串选择线的第一晶体管的第一阈值电压高于连接到第二串选择线的第二晶体管的第二阈值电压。
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公开(公告)号：CN118298879A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410005838.3
申请日：2024-01-03
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C16/08
Abstract: 提供了一种操作存储器装置的方法和存储器装置，所述方法包括：在字线设置时段中将通过电压施加至多条字线；在字线设置时段中在第一时间点将导通电压施加至未选择的地选择线；在字线设置时段中在第二时间点通过将预充电电压施加至公共源极线来增大所述多条字线的电压；在字线设置时段中在第三时间点将截止电压施加至未选择的地选择线；以及在字线设置时段中在第四时间点将地电压施加至公共源极线。
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