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公开(公告)号：CN112798874B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202011537898.8
申请日：2020-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开本发明提供一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。所述方法，包含：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。所述系统使用所述方法。本发明实现了大尺寸EUT单天线等效测试。
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公开(公告)号：CN110988490A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911324935.4
申请日：2019-12-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/26
Abstract: 本申请提供了一种电源滤波器插入损耗的时域脉冲测量方法，可以解决目前电源滤波器插入损耗测量中，测量信号与实际工作信号类型相差较大，测量结果不能客观反映实际情况以及测量工作量庞大等问题。该方法使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，并通过时域－频域转换得到频率信息，一次测量即可完成全频段测量。本方法不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实；而且与原有方法相比，本测量方法的操作步骤更加简便，测量效率更高。
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公开(公告)号：CN110967562A
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201911182877.6
申请日：2019-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤：将电场传感器布置在第1个测试点；向所述电场传感器输入测试信号，直到所述电场传感器显示场强等于指定场强；保持所述信号频率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。
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公开(公告)号：CN110954567A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201911310125.3
申请日：2019-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种测量吸波材料反射率的方法，该方法包括在不同反射测试条件下，分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试，获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值；基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值，计算得到所述待测材料的反射率。本发明中采用的测量方法可有效地解决以上不足，该方法在不需要分离吸波材料或参考金属板反射信号的同时，通过改变测量距离，选择合理的测量方法，来计算获得平板吸波材料反射率。通过使用该方法，不仅可以减小信号时频域转换过程中的截断误差，还可以有效降低收发天线直接耦合信号与空间杂散信号对反射信号的影响，进而提高反射率测量准确度，减小测量误差。
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公开(公告)号：CN105486952B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201510956174.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105527598A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN104569940A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410796710.X
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置为圆心，分别以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射再直达处于测试区的待测目标的最远和最近的距离为半径在紧缩场暗室中构建两个圆球面；两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为同步散射点区域。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的存在干扰作用的散射信号的同步散射点最大区域。
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公开(公告)号：CN104569888A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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公开(公告)号：CN119827414A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411967099.2
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本说明书公开了一种用于里德堡原子制备的激光系统频率稳定的高集成度原子光谱装置及方法，涉及原子光谱频率稳定技术领域，旨在解决现有技术中集成度低、重量沉、鲁棒性差等问题，提升原子光谱装置的集成度、可靠性、实用性。本发明包括激光光谱原子气室；激光光谱原子气室包括两个腔体，其中一个腔体的端面连接有调制转移光谱饱和光输入光纤、调制转移光谱探测光输入光纤和调制转移光谱探测光输出光纤，另一个腔体的端面连接有EIT光谱耦合光输入光纤、EIT光谱探测光输入光纤和EIT光谱探测光输出光纤。本发明可以提升原子光谱装置的集成度、可靠性、实用性，可以同时实现调制转移光谱和EIT光谱无干扰得获取。
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公开(公告)号：CN114204244B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202111362108.1
申请日：2021-11-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种波束赋形天线测量装置，包括方位总装配体和俯仰总装配体，俯仰总装配体安装在方位总装配体上；方位总装配体上设置方位驱动总成，方位驱动总成用于驱动俯仰总装配体在水平范围内做方位转动运动；俯仰总装配体上设置俯仰轴承座，俯仰轴承座上设置俯仰驱动轴，俯仰驱动轴驱动连接俯仰装配架，俯仰装配架上设置镂空结构的末端安装支撑组件；俯仰驱动轴用于驱动俯仰装配架在竖直范围内做俯仰转动运动；末端安装支撑组件用于将被测试天线安装在其内部；能够减少或消除遮挡或反射的影响作用，提高波束赋形天线自身的指向精度和主波束幅值，避免金属结构对天线的影响，实现360°范围的俯仰转动运动。
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