一种超宽带双定向耦合器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119852672A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411965411.4

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本说明书公开了一种超宽带双定向耦合器,旨在解决难以同时优化频率范围、损耗特性、带宽、功率处理能力、结构复杂性、制造成本及抗干扰性能的问题,包括:外壳的两端分别安装有输入端口和输出端口,输入端口和输出端口分别与耦合单元的输入和输出连接,至少两个耦合单元设置在外壳内部,其中一个耦合单元与耦合端口连接,另一个耦合单元与隔离端口连接,耦合端口与隔离端口均安装在外壳上;其中,耦合单元的输入和输出之间通过同轴导体连接至输入端口和输出端口。本发明实现了增强的隔离度与噪声抑制、灵活的耦合度调节、宽广的工作频率范围、简化结构低成本制造以及大功率处理能力,从而在各种应用环境中提供卓越性能和可靠性。

    一种阻抗不对称衰减器衰减量的测量系统和方法

    公开(公告)号:CN117607559A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311466725.5

    申请日:2023-11-06

    Abstract: 本申请公开了一种阻抗不对称衰减器衰减量的测量系统和方法,解决了网络分析仪法不适用于不对称衰减器衰减量测量的问题。一种阻抗不对称衰减器衰减量的测量系统,包含网络分析仪和固定阻抗单元。所述固定阻抗单元用于提供一个固定阻抗,所述固定阻抗与待测的阻抗不对称衰减器并联后连接在网络分析仪两端。阻抗不对称衰减器的输入端阻抗与所述固定阻抗并联后等于网络分析仪的源阻抗。本申请有效的避免了因阻抗不匹配引起失配的测量误差;较常规方法对阻抗不对称衰减器的测量具有较好的适应性和准确性。

    一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法

    公开(公告)号:CN116559753A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310665915.3

    申请日:2023-06-06

    Abstract: 本发明公开一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法,所述系统包括:微波幅相单元、扫描设备单元和中心控制单元;微波幅相单元,用于接收信号并对所述信号进行幅度和相位测量;扫描设备单元,用于控制检测探头的接收位置和姿态;中心控制单元,用于对微波幅相单元和扫描设备单元远程控制,实时分析幅度和相位数据,自动化计算静区特性。根据扫描数据完成静区场幅度不平度、静区场相位不平度和静区场交叉极化三个指标量化,根据结果来评判紧缩场测试系统的性能,对于紧缩场初检和复检具有参考意,本发明还可帮助用户初检及后续复检紧缩场测试系统的性能。

    一种T型网络测量方法和系统

    公开(公告)号:CN112702127B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202011417029.1

    申请日:2020-12-07

    Abstract: 本发明公开一种T型网络测量方法和系统,解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法,包含:将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接,选定被测频率范围内的被校频率点,通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号,记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值;将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接,在所述被校频率点,保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号,记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值;计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法,可实现大范围、高精度T型网络电容测量。

    一种用于紧缩场校准的天线装置

    公开(公告)号:CN109301508B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201811124218.2

    申请日:2018-09-26

    Abstract: 本发明公开一种用于紧缩场校准的天线装置,包括校准频率低于40GHz的第一天线组件和高于40GHz的第二天线组件;以及安装有40GHz以下的低噪声放大器的固定组件;其中,所述固定组件上布置用于固定天线组件的若干调节孔,所述若干调节孔形成多个装配第一天线组件和第二天线组件的预设排列,从而两个天线组件可择一地装配在形成其中一个预设排列的若干调节孔上。通过设置的多组调节孔来实现对不同频率和尺寸的天线的安装,从而实现天线装置的通用性设计。

    一种T型网络测量方法和系统

    公开(公告)号:CN112702127A

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN202011417029.1

    申请日:2020-12-07

    Abstract: 本发明公开一种T型网络测量方法和系统,解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法,包含:将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接,选定被测频率范围内的被校频率点,通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号,记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值;将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接,在所述被校频率点,保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号,记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值;计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法,可实现大范围、高精度T型网络电容测量。

    一种柱面波幅度特性电调式补偿测量系统

    公开(公告)号:CN112649679A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011598741.6

    申请日:2020-12-30

    Abstract: 本发明公开一种柱面波幅度特性电调式补偿测量系统,该系统包括操作台、扫描架和静区柱面场,操作台上装有主控机,扫描架上装有功率放大器、矢量网络分析仪以及接收探头,接收探头通过直线扫描装置装在扫描架上,直线扫描装置上装有激光跟踪仪,激光跟踪仪通过电缆与主控机相连,扫描架底部设有控制机箱,接收探头通过低噪声放大器与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪与功率放大器相连,功率放大器通过控制机箱与馈源相连。本发明预先测得接收探头天线各个方向与主瓣的幅度偏差,利用激光跟踪仪实时测得探头接收天线扫描位置相对虚拟线源的夹角关系,通过相对幅度关系对实测数据进行相应角度幅度补偿,提高检测精度。

    一种柱面波幅度特性机械式补偿测量系统

    公开(公告)号:CN112557770A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202011601397.1

    申请日:2020-12-30

    Abstract: 本发明公开一种柱面波幅度特性机械式补偿测量系统,该系统包括操作台、扫描架和静区柱面场,扫描架上装有功率放大器、矢量网络分析仪以及接收探头,接收探头通过方位旋转云台装在扫描架的直线扫描装置上,扫描架与柱面场反射面之间的反射区域安装有激光跟踪仪,接收探头通过低噪声放大器与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪与功率放大器相连,功率放大器通过控制机箱与馈源相连。本发明通过设方位旋转云台,控制接收探头实时指向虚拟线源,通过设激光跟踪仪,实时测得探头接收天线扫描位置相对虚拟线源的夹角关系,通过控制方位旋转云台进行相应角度幅度补偿,从而避免了检测产生了偏差,提高了检测精度。

    一种畸变频谱测量装置和方法

    公开(公告)号:CN109324227A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201811380134.5

    申请日:2018-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种畸变频谱测量装置和方法,解决现有装置和方法设备复杂、实时处理能力差的问题。一种畸变频谱测量装置,包含:隔直网络模块、频谱分析仪;所述隔直网络模块用于滤除机载直流供电信号中的直流分量,输出畸变谐波信号;所述频谱分析仪用于接收所述畸变谐波信号,测量畸变参数,所述畸变参数包含畸变幅度、畸变频率。一种畸变频谱测量方法,包含:对所述机载直流供电信号滤除直流分量;对所述畸变谐波信号进行测量,得到畸变参数。本发明对畸变信号的幅度和频谱具有较好的适应性和完整性。

    一种场传感器校准系统和方法

    公开(公告)号:CN105527598A

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201510956142.X

    申请日:2015-12-17

    CPC classification number: G01R35/00 G01R29/08 H01Q1/36

    Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法,解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体,构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细,侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线,从顶面至底面逐渐变细,使得场传感器校准可使用的空间区域变大;在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域,在该立方体的顶点及各边中点设置参考点,分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度,得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式,提高了场传感器的校准精度。

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