公开(公告)号：TW201132951A

公开(公告)日：2011-10-01

申请号：TW099109120

申请日：2010-03-26

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟

IPC: G01N ,  G02F

Abstract: 一種液晶元件的光學參數量測方法，包含下列步驟：(A)提供一可垂直入射液晶元件局部面積的偏極化光束；(B)使該光束依序通過一相位延遲片與待測的液晶元件，並將穿透液晶元件的該光束分成一平行偏極化光束及一垂直偏極化光束；(C)連續地以一預定角度旋轉該相位延遲片，並每旋轉一次就擷取該平行偏極化光束所產生的第一影像畫面，以及該垂直偏極化光束所產生的第二影像畫面；(D)分析該等第一影像畫面與該等第二影像畫面，以獲得該平行偏極化光束與該垂直偏極化光束兩者的光強度比值；(E)依據該等光強度比值，求得液晶元件局部面積的光學參數二維空間分佈。

Abstract in simplified Chinese: 一种液芯片件的光学参数量测方法，包含下列步骤：(A)提供一可垂直入射液芯片件局部面积的偏极化光束；(B)使该光束依序通过一相位延迟片与待测的液芯片件，并将穿透液芯片件的该光束分成一平行偏极化光束及一垂直偏极化光束；(C)连续地以一预定角度旋转该相位延迟片，并每旋转一次就截取该平行偏极化光束所产生的第一影像画面，以及该垂直偏极化光束所产生的第二影像画面；(D)分析该等第一影像画面与该等第二影像画面，以获得该平行偏极化光束与该垂直偏极化光束两者的光强度比值；(E)依据该等光强度比值，求得液芯片件局部面积的光学参数二维空间分布。

公开(公告)号：TW555972B

公开(公告)日：2003-10-01

申请号：TW090112140

申请日：2001-05-21

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟 ,  郭文娟

IPC: G01N

Abstract: 本發明提出一種外差干涉表面電漿波感測裝置和方法，利用雙頻率線偏極化穩頻雷射同時在金屬薄膜界面上產生兩個表面電漿波。並藉由量測反射之外差干涉光信號振幅大小，即時量測生物及化學材料分子間之交互作用，反應速率和反應動力學等數據。本發明之外差干涉表面電漿波感測裝置與方法擁有高的偵測靈敏度和較大的線性偵測範圍。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提出一种外差干涉表面等离子波传感设备和方法，利用双频率线偏极化稳频激光同时在金属薄膜界面上产生两个表面等离子波。并借由量测反射之外差干涉光信号振幅大小，实时量测生物及化学材料分子间之交互作用，反应速率和反应动力学等数据。本发明之外差干涉表面等离子波传感设备与方法拥有高的侦测灵敏度和较大的线性侦测范围。

公开(公告)号：TW482891B

公开(公告)日：2002-04-11

申请号：TW089117389

申请日：2000-08-28

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟 ,  呂崇維 ,  鄧恢綱

IPC: G01B ,  G01N

Abstract: 本發明專利主要提出一種創新的干涉式橢圓儀量測方法及光電系統。它藉由Mach-Zehnder干涉儀、差動放大器和振幅解調裝置來完成橢圓參數的即時測量，並應用到兩介面間隙大小的動態測量上。

Abstract in simplified Chinese: 本发明专利主要提出一种创新的干涉式椭圆仪量测方法及光电系统。它借由Mach-Zehnder干涉仪、差动放大器和振幅解调设备来完成椭圆参数的实时测量，并应用到两界面间隙大小的动态测量上。

公开(公告)号：TW477105B

公开(公告)日：2002-02-21

申请号：TW089106723

申请日：2000-04-11

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟

IPC: H03D

Abstract: 相位調變信號在現代通訊、精密測量等領域中極為重要，其相位解調和頻率解調的能力會決定系統的品質表現。本發明專利主要是利用差動放大器將兩個相同振幅之相位調變測試信號和相位調變參考信號相減並放大，它不僅可以降低背景雜訊，更可將相位調變信號轉換成振幅調變信號，並利用振幅解調裝置即時量取振幅大小，進而求得相位差值；其偵測靈敏度大為提高，而且相位'差量測反應的能力亦大幅提高。由相位解調裝置中的計數器，可有效延伸相位差量測的範圍；同時，相位解調裝置中亦提供一微分電路，可即時獲得相位調變信號中的瞬間頻率，而使得本發明專利擁有頻率解調的能力。

Abstract in simplified Chinese: 相位调制信号在现代通信、精密测量等领域中极为重要，其相位解调和频率解调的能力会决定系统的品质表现。本发明专利主要是利用差动放大器将两个相同振幅之相位调制测试信号和相位调制参考信号相减并放大，它不仅可以降低背景噪声，更可将相位调制信号转换成振幅调制信号，并利用振幅解调设备实时量取振幅大小，进而求得相位差值；其侦测灵敏度大为提高，而且相位'差量测反应的能力亦大幅提高。由相位解调设备中的计数器，可有效延伸相位差量测的范围；同时，相位解调设备中亦提供一微分电路，可实时获得相位调制信号中的瞬间频率，而使得本发明专利拥有频率解调的能力。

公开(公告)号：TW457376B

公开(公告)日：2001-10-01

申请号：TW089117390

申请日：2000-08-28

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟 ,  鄧恢綱

IPC: G02B

Abstract: 本發明專利提出一創新的線偏極化相位偏移數位光纖通訊方法及系統，包含偏線極化雷射、相關調變裝置、極化保持光纖、差分放大裝置等﹔利用相位調變，外差干涉與差分放大技術得以傳輸數位訊號。本創新系統亦可擴充成多工通訊系統。

Abstract in simplified Chinese: 本发明专利提出一创新的线偏极化相位偏移数码光纤通信方法及系统，包含偏线极化激光、相关调制设备、极化保持光纤、差分放大设备等﹔利用相位调制，外差干涉与差分放大技术得以传输数码信号。本创新系统亦可扩充成多任务通信系统。

公开(公告)号：TW445373B

公开(公告)日：2001-07-11

申请号：TW087105688

申请日：1998-04-15

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟 ,  韓建遠 ,  郭文娟

IPC: G01N

CPC classification number: A61B5/14532 ,  A61B3/10 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/6821 ,  G01N21/21

Abstract: 本發明主要是藉由線偏極化雙頻穩頻雷射結合極化光分光片(polarized beam splitter)，兩組光偵檢器，兩組帶通濾波器，一組光電信號處理器，以及一組振幅量測裝置而成。它利用外差干涉信號的振幅大小因線偏極化光之旋轉角度隨時間之變化率而直接量取旋光物質溶液經滲透膜(semi-permeable membrane)之滲透速率。系統光學架構屬於極化光學共同路徑外差干涉儀，對外界環境的影響有免疫能力。它有即時而且準確的量測旋轉角度隨時間變化的能力。

Abstract in simplified Chinese: 本发明主要是借由线偏极化双频稳频激光结合极化光分光片(polarized beam splitter)，两组光侦检器，两组带通滤波器，一组光电信号处理器，以及一组振幅量测设备而成。它利用外差干涉信号的振幅大小因线偏极化光之旋转角度随时间之变化率而直接量取旋光物质溶液经渗透膜(semi-permeable membrane)之渗透速率。系统光学架构属于极化光学共同路径外差干涉仪，对外界环境的影响有免疫能力。它有实时而且准确的量测旋转角度随时间变化的能力。

公开(公告)号：TW445369B

公开(公告)日：2001-07-11

申请号：TW089107309

申请日：2000-04-18

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟

IPC: G01B ,  G01N

Abstract: 本發明係提供一種外差干涉儀量測系統，特別是指一種可達即時量測效果之非接觸式極化光外差干涉相位即時量測系統者,本案主要特徵係將來自外差干涉儀之光學信號以差動放大器相減並加以放大，致使輸出信號係將入射光信號之相位調變轉換為振幅調變之形式，可藉由直接度量其振幅大小而界定相位變化，從而有效提升量測之速率及靈敏度。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系提供一种外差干涉仪量测系统，特别是指一种可达实时量测效果之非接触式极化光外差干涉相位实时量测系统者,本案主要特征系将来自外差干涉仪之光学信号以差动放大器相减并加以放大，致使输出信号系将入射光信号之相位调制转换为振幅调制之形式，可借由直接度量其振幅大小而界定相位变化，从而有效提升量测之速率及灵敏度。

公开(公告)号：TW440682B

公开(公告)日：2001-06-16

申请号：TW089104991

申请日：2000-03-17

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟

IPC: G01B

Abstract: 本發明係提供一種相位差量測裝置及應用該裝置之外差干涉量測系統，特別是指一種可達即時量測效果之非接觸式極化光外差干涉相位即時量測系統者，本案主要特徵係將來自外差干涉儀之光學信號以差動放大器相減並加以放大，致使輸出信號係將入射光信號之相位調變轉換為振幅調變之形式，可藉由直接度量其振幅大小而界定相位變化，從而有效提升量測之速率及靈敏度。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系提供一种相位差量测设备及应用该设备之外差干涉量测系统，特别是指一种可达实时量测效果之非接触式极化光外差干涉相位实时量测系统者，本案主要特征系将来自外差干涉仪之光学信号以差动放大器相减并加以放大，致使输出信号系将入射光信号之相位调制转换为振幅调制之形式，可借由直接度量其振幅大小而界定相位变化，从而有效提升量测之速率及灵敏度。

公开(公告)号：TW434401B

公开(公告)日：2001-05-16

申请号：TW089116931

申请日：2000-08-21

Applicant: 周晟

Inventor： 周晟

IPC: G01B

Abstract: 本發明提出一種干涉條紋相位解調方法及裝置，可即時量測兩相同載波空間頻率和相同振幅大小的干涉條紋空間相位調變信號;藉由差動放大器相減並放大配合振幅解調裝置，可將空間相位調變信號轉換成振幅調變信號，空間相位可由振幅調變信號之振幅大小計算出來。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提出一种干涉条纹相位解调方法及设备，可实时量测两相同载波空间频率和相同振幅大小的干涉条纹空间相位调制信号;借由差动放大器相减并放大配合振幅解调设备，可将空间相位调制信号转换成振幅调制信号，空间相位可由振幅调制信号之振幅大小计算出来。

公开(公告)号：TW393575B

公开(公告)日：2000-06-11

申请号：TW088101282

申请日：1999-01-28

Applicant: 周晟 ,  韓建遠

Inventor： 周晟 ,  韓建遠

IPC: G01N

CPC classification number: G01N21/553 ,  G01N21/45

Abstract: 本發明提出一種光學共同路徑，以外差干涉及相位偵測技術為主的表面電漿波(SPW)生物感知器。它的特徵有(l)光學共同路徑架構(2)相位偵測(3)對環鏡干擾具有免疫力(4)高靈敏度以及即時偵測。利用線偏極化P波(TM wave)激發金屬表面電漿波並藉由量取反射的P波因溶液中抗原與抗體的結合而產生相位改變而進行快速檢驗，並確定其濃度大小。這種以量測相位取代反射光強度大小的表面電漿波生物感知器，其偵測靈敏度可大幅提高。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提出一种光学共同路径，以外差干涉及相位侦测技术为主的表面等离子波(SPW)生物感知器。它的特征有(l)光学共同路径架构(2)相位侦测(3)对环镜干扰具有免疫力(4)高灵敏度以及实时侦测。利用线偏极化P波(TM wave)激发金属表面等离子波并借由量取反射的P波因溶液中抗原与抗体的结合而产生相位改变而进行快速检验，并确定其浓度大小。这种以量测相位取代反射光强度大小的表面等离子波生物感知器，其侦测灵敏度可大幅提高。