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公开(公告)号：CN101049232B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200610074677.5
申请日：2006-04-07
Applicant: 周晟
Abstract: 一种光学断层影像扫描方法，适用于测量一介质，并包含以下步骤：(A)提供双频率相互关联光子对低同调性光束，且所述光束间的光程差小于所述光束的同调长度，(B)将所述光束聚焦于该介质中的不同深度位置，则所述光束被该介质反射后而成为信号光束，(C)由一包括一透镜及一位于该透镜的焦点上的针孔的信号处理单元分析被该介质反射后的所述信号光束，以获得该介质的断层影像。
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公开(公告)号：CN101049232A
公开(公告)日：2007-10-10
申请号：CN200610074677.5
申请日：2006-04-07
Applicant: 周晟
Abstract: 一种光学断层影像扫描方法，适用于测量一介质，并包含以下步骤：(A)提供双频率相互关联光子对低同调性光束，且所述光束间的光程差小于所述光束的同调长度，(B)将所述光束聚焦于该介质中的不同深度位置，则所述光束被该介质反射后而成为信号光束，(C)由一包括一透镜及一位于该透镜的焦点上的针孔的信号处理单元分析被该介质反射后的所述信号光束，以获得该介质的断层影像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：TW528851B
公开(公告)日：2003-04-21
申请号：TW090126150
申请日：2001-10-23
Applicant: 周晟
Abstract: 利用雙頻率相互垂直圓偏極化穩頻雷射在旋光溶液中因不同圓偏極化的傳播速度不同而造成外差干涉信號相位的改變，藉由參考光信號和通過旋光溶液之外差干涉信號相互乘積，所輸出的信號再通過低通濾波器而即時量測經放大後之相位差信號的振幅大小，而提高偵測旋光角度的靈敏度。本發明的特點是即時且能精確的量測旋光溶液的旋轉角度和旋光溶液的濃度，可應用在不同的領域中。
Abstract in simplified Chinese: 利用双频率相互垂直圆偏极化稳频激光在旋光溶液中因不同圆偏极化的传播速度不同而造成外差干涉信号相位的改变，借由参考光信号和通过旋光溶液之外差干涉信号相互乘积，所输出的信号再通过低通滤波器而实时量测经放大后之相位差信号的振幅大小，而提高侦测旋光角度的灵敏度。本发明的特点是实时且能精确的量测旋光溶液的旋转角度和旋光溶液的浓度，可应用在不同的领域中。
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公开(公告)号：TW200739033A
公开(公告)日：2007-10-16
申请号：TW095112404
申请日：2006-04-07
Applicant: 周晟 CHOU, CHIEN
Inventor： 周晟 CHOU, CHIEN , 郭文娟
IPC: G01B
CPC classification number: G01B9/02091 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , A61B5/0261 , G01B9/02002 , G01B9/02097 , G01B2290/70 , G01N21/4795
Abstract: 一種光學斷層影像掃描方法,適用於量測一介質,並包含以下步驟:(A)提供雙頻率相互關聯光子對低同調性光束,且該等光束間的光程差小於該等光束的同調長度。(B)將該等光束聚焦於該介質中的不同深度位置,則該等光束被該介質反射後而成為訊號光束。(C)由一包括一透鏡及一位於該透鏡的焦點上之針孔的訊號處理單元分析被該介質反射後的該等訊號光束,以獲得該介質的斷層影像。
Abstract in simplified Chinese: 一种光学断层影像扫描方法,适用于量测一介质,并包含以下步骤:(A)提供双频率相互关联光子对低同调性光束,且该等光束间的光程差小于该等光束的同调长度。(B)将该等光束聚焦于该介质中的不同深度位置,则该等光束被该介质反射后而成为信号光束。(C)由一包括一透镜及一位于该透镜的焦点上之针孔的信号处理单元分析被该介质反射后的该等信号光束,以获得该介质的断层影像。
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公开(公告)号：TW555972B
公开(公告)日：2003-10-01
申请号：TW090112140
申请日：2001-05-21
Applicant: 周晟
IPC: G01N
Abstract: 本發明提出一種外差干涉表面電漿波感測裝置和方法，利用雙頻率線偏極化穩頻雷射同時在金屬薄膜界面上產生兩個表面電漿波。並藉由量測反射之外差干涉光信號振幅大小，即時量測生物及化學材料分子間之交互作用，反應速率和反應動力學等數據。本發明之外差干涉表面電漿波感測裝置與方法擁有高的偵測靈敏度和較大的線性偵測範圍。
Abstract in simplified Chinese: 本发明提出一种外差干涉表面等离子波传感设备和方法，利用双频率线偏极化稳频激光同时在金属薄膜界面上产生两个表面等离子波。并借由量测反射之外差干涉光信号振幅大小，实时量测生物及化学材料分子间之交互作用，反应速率和反应动力学等数据。本发明之外差干涉表面等离子波传感设备与方法拥有高的侦测灵敏度和较大的线性侦测范围。
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公开(公告)号：TW445373B
公开(公告)日：2001-07-11
申请号：TW087105688
申请日：1998-04-15
Applicant: 周晟
IPC: G01N
CPC classification number: A61B5/14532 , A61B3/10 , A61B5/14558 , A61B5/6821 , G01N21/21
Abstract: 本發明主要是藉由線偏極化雙頻穩頻雷射結合極化光分光片(polarized beam splitter)，兩組光偵檢器，兩組帶通濾波器，一組光電信號處理器，以及一組振幅量測裝置而成。它利用外差干涉信號的振幅大小因線偏極化光之旋轉角度隨時間之變化率而直接量取旋光物質溶液經滲透膜(semi-permeable membrane)之滲透速率。系統光學架構屬於極化光學共同路徑外差干涉儀，對外界環境的影響有免疫能力。它有即時而且準確的量測旋轉角度隨時間變化的能力。
Abstract in simplified Chinese: 本发明主要是借由线偏极化双频稳频激光结合极化光分光片(polarized beam splitter)，两组光侦检器，两组带通滤波器，一组光电信号处理器，以及一组振幅量测设备而成。它利用外差干涉信号的振幅大小因线偏极化光之旋转角度随时间之变化率而直接量取旋光物质溶液经渗透膜(semi-permeable membrane)之渗透速率。系统光学架构属于极化光学共同路径外差干涉仪，对外界环境的影响有免疫能力。它有实时而且准确的量测旋转角度随时间变化的能力。
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公开(公告)号：TW356517B
公开(公告)日：1999-04-21
申请号：TW087100819
申请日：1998-01-21
Applicant: 周晟
IPC: G01N
Abstract: 本發明主要是藉由線偏極化雙頻穩頻雷射結合極化光分光片(polarized beam splitter)，兩組光偵檢器，兩組帶通濾波器，一組光電信號處理器，以及一組振幅量測裝置而成。它利用外差干涉信號的振幅大小直接量取旋光物質（包含固體及液體）之旋轉角度，並藉由個人電腦計算出對應之物理量，例如光折射率或濃度等。它的光學架構屬於極化光學共同路徑外差干涉儀，對外界環境的影響有免疫能力。本系統有即時而且準確的量測旋光性物質旋轉角度的能力。
Abstract in simplified Chinese: 本发明主要是借由线偏极化双频稳频激光结合极化光分光片(polarized beam splitter)，两组光侦检器，两组带通滤波器，一组光电信号处理器，以及一组振幅量测设备而成。它利用外差干涉信号的振幅大小直接量取旋光物质（包含固体及液体）之旋转角度，并借由个人电脑计算出对应之物理量，例如光折射率或浓度等。它的光学架构属于极化光学共同路径外差干涉仪，对外界环境的影响有免疫能力。本系统有实时而且准确的量测旋光性物质旋转角度的能力。
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