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公开(公告)号：CN117517198A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202310760850.0
申请日：2023-06-26
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 希望能够校正由污垢引起的检测信号的增减。本发明提供一种水质分析装置，对试料水中包含的测定对象物质的浓度进行测定，包括：具有透过光的壁部和被壁部包围的内部空间且试料水通过内部空间的流动池；朝向流动池照射光的光源；在试料水流入了流动池的状态下，基于从光源向流动池照射光源光时的来自流动池的被测定光，对试料水中包含的测定对象物质的浓度进行测定的浓度测定部；基于使测定对象物质的浓度已知的参照水流入流动池的状态下的、来自流动池的被测定光的光量，对由流动池的污垢引起的光衰减量进行检测的污垢检测部；以及基于由流动池的污垢引起的光衰减量，对流入了试料水时的所述测定对象物质的浓度的测定结果进行校正的污垢校正部。
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公开(公告)号：CN117413169A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202280036948.5
申请日：2022-05-13
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/15
Abstract: 本发明提供一种水质分析装置，是对样品水中包含的测定对象物质的浓度进行测定的水质分析装置，包括：流动池，该流动池具有透过光的壁部、和被所述壁部包围的内部空间，所述样品水通过所述内部空间；光源，该光源朝向所述流动池照射光；光源监视器，该光源监视器对所述光源照射的所述光的光量即光源光量进行检测；透射光检测部，该透射光检测部对透过所述流动池的透射光的光量即透射光量进行检测；以及污垢检测部，该污垢检测部基于所述光源光量和所述透射光量，检测所述流动池的所述壁部的污垢。
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公开(公告)号：CN116261659A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202180058936.8
申请日：2021-07-28
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/49
Abstract: 本发明提供一种水质分析装置，测定样品水中的测定对象物质的浓度，包括：浊度计，其测定来自测定对象物质的散射光或透射光的强度并测定样品水的浊度；荧光计，其对测定对象物质的荧光强度进行测定；荧光强度校正部，其基于样品水的浊度校正测定对象物质的荧光强度；以及浓度运算部，其基于荧光强度校正水溶液的荧光强度的测定结果，设定用于将测定对象物质的荧光强度换算为测定对象物质的浓度的浓度校正系数,所述荧光强度校正水溶液包含荧光强度特性具有灵敏度的波长范围与测定对象物质重叠并且浓度已知的荧光强度校正用物质。
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公开(公告)号：CN106353239B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201610405269.7
申请日：2016-06-08
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。
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公开(公告)号：CN107340209A
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201710281182.8
申请日：2017-04-26
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N33/0036 , G01N1/2202 , G01N33/0042 , G01N2001/2223 , G01N2015/0046 , G01N15/06 , G01N15/0656 , G01N2015/0693
Abstract: 分析以气体形态排出的对象成分的产生源。提供一种产生源分析装置，其包含获取含对象成分的气体的浓度测定值和与气体关联而产生的粒子成分的浓度测定值的获取部以及根据气体的浓度测定值与粒子成分的浓度测定值来分析从测定地点到对象成分产生源的距离的分析部。获取部可获取生成粒子成分的原料即前驱气体的浓度测定值与由前驱气体产生的二次生成粒子成分的浓度测定值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107271225A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710176345.6
申请日：2017-03-23
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N15/0205 , G01K7/22 , G01K13/00 , G01N1/2214 , G01N1/44 , G01N15/0625 , G01N15/14 , G01N15/1425 , G01N2015/0046 , G01N2015/0681 , G01N1/2247 , G01N15/0211 , G01N2015/1486 , G05D23/24
Abstract: 本发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线，使捕获体的温度上升。由此，粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时，在不控制捕获体的温度的情况下，捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有：捕获体，其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子；能量线照射部，其向被捕获体捕获的粒子照射能量线；分析器，其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析，捕获体具有温度测定部，粒子成分分析装置还具备控制部，控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
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公开(公告)号：CN107014723A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201611062425.0
申请日：2016-11-28
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种搭载粒子测量部和成分分析部的粒子分析装置，可在防止检测灵敏度降低的同时，扩大测量范围。该粒子分析装置包括：粒子测量部，其基于试样气体中粒子所散射的激光，测量所述试样气体中的粒子的数量或者浓度；成分分析部，其测量试样气体中不同成分的粒子的含量；流路，其一端和试样气体源连接，在另一端侧的分支点，分为第1流路和第2流路，第1流路将试样气体导入粒子测量部，第2流路将试样气体导入成分分析部；第1调整部，其设置在所述第1流路，利用稀释气体稀释试样气体，通过将稀释后的试样气体导入粒子测量部，来调整粒子测量部的测量范围；以及第2调整部，其设置在第2流路，对将试样气体导入成分分析部的导入时间进行调整。
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公开(公告)号：CN106605139A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201580045686.9
申请日：2015-04-30
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/39 , G01N21/3504
Abstract: 提供一种船舶用激光气体分析仪，其为难以发生光轴偏差的结构，并且在一般海域不进行分析，仅在特定海域进行分析，由此可排除一般海域的废气的影响，以可长期地对废气中的低浓度测定对象气体的气体浓度进行正确的分析。船舶用激光气体分析仪1被构成为，筒形形状的气室20配置在通道100的外侧，并且通道侧气体导入部40的开口部41配置在测定对象气体流动的通道100的流路上，仅在如特定海域那样含有低浓度测定对象气体的废气流动时，控制部80才使导入侧阀门60和导出侧阀门70打开以将废气导入气室20内并对其进行测定。
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公开(公告)号：CN106323823A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610140671.7
申请日：2016-03-11
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种能够通过更简便的装置结构来探测在粒子的测量中使用的谐振激光的振荡模式及其变化的粒子测量装置。该粒子测量装置具备：光谐振器，其使激光在两个相向的反射镜之间往复，来形成使该激光的能量放大而得到的谐振激光；粒子输送单元，其以使作为测定对象的气溶胶的粒子横穿所述谐振激光的光路的方式输送该粒子；散射光接收单元，其接收在所述气溶胶的粒子被所述谐振激光照射时产生的散射光；以及处理装置，其接收由所述散射光接收单元接收光而得到的受光信号，其中，所述处理装置构成为：基于所述受光信号来输出受光脉冲，导出所述受光脉冲中的在时间上相邻的受光脉冲的脉冲间时宽。
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公开(公告)号：CN106290084A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610140820.X
申请日：2016-03-11
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N33/0004 , G01N15/0205 , G01N15/1012 , G01N15/1459 , G01N2015/0046 , G01N2015/1486 , G01N2015/1493 , G01N15/06 , G01N2015/0693 , G01N2201/06113
Abstract: 提供一种粒子复合分析装置的校正方法以及粒子复合分析装置，在适于多方面地分析测定对象粒子的粒子复合分析装置中能简便且准确地进行为了维持、提高装置的可靠度而需定期进行的装置的校正操作。在该粒子复合分析装置中，具备粒子测量装置和粒子成分分析装置，向粒子测量装置和粒子成分分析装置导入至少已知数量、大小及成分的校正粒子来进行分析，基于由粒子测量装置测定出的校正粒子的数量和大小对粒子测量装置的灵敏度进行校正，基于由粒子成分分析装置测定出的校正粒子的成分量对粒子成分分析装置的灵敏度进行校正。另外，基于粒子成分分析装置的捕捉体上的校正粒子的捕捉状态对导入到粒子成分分析装置的粒子相对于捕捉体的照射轴进行校正。
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