-
公开(公告)号：KR100448913B1
公开(公告)日：2004-09-16
申请号：KR1020020000675
申请日：2002-01-07
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R1/0483
Abstract: Test system for integrated circuit chips has a test circuit board (130), a temperature control unit (120) and a test unit (110), suitable for determination of the properties of a number of integrated circuit chips. The chips under test are placed on the upper surface of the test circuit board. A sealing unit (140) is brought into contact with the second lower surface of the test circuit board to isolate at least a part of it against the surrounding air.
Abstract translation: 用于集成电路芯片的测试系统具有测试电路板（130），温度控制单元（120）和测试单元（110），适用于确定多个集成电路芯片的属性。 被测芯片放置在测试电路板的上表面。 密封单元（140）与测试电路板的第二下表面接触以将其至少一部分与周围空气隔离。
-
公开(公告)号：KR1020010082783A
公开(公告)日：2001-08-31
申请号：KR1020000006149
申请日：2000-02-10
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
Abstract: PURPOSE: A multi-testing method of semiconductor devices is provided which simultaneously multi-tests many devices with one source and meter to shorten a period of time required for the testing. CONSTITUTION: Multi-testing of semiconductor devices is performed in a manner that multiple input signals are converted into multi-tone to be applied to semiconductor devices(10,11,12) through a single source(1a), and output signals of the semiconductor devices are combined and separated through a single meter(3). The multi-tone is generated through software processing. The multi-tone passes through a low pass filter and band pass filter to be input to corresponding semiconductor devices.
Abstract translation: 目的：提供半导体器件的多重测试方法，同时对具有一个源和仪表的许多器件进行多测试，以缩短测试所需的时间。 构成：以多个输入信号通过单个源（1a）将多个输入信号转换为应用于半导体器件（10,11,12）的多色调，并且半导体器件的输出信号的方式执行半导体器件的多重测试 设备通过单个仪表（3）组合和分离。 多音调是通过软件处理产生的。 多音调通过低通滤波器和带通滤波器输入到相应的半导体器件。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020010075901A
公开(公告)日：2001-08-11
申请号：KR1020000002837
申请日：2000-01-21
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G11C29/00
Abstract: PURPOSE: A method for measuring a rising/falling time of a signal waveform using a comparator is provided to reduce a cost and a time for test by decreasing a size of a component when measuring a rising/falling time an output waveform of a device. CONSTITUTION: A counter(10) receives an ACK signal outputted from a measuring device and performs a counting operation. The counter(10) outputs a count signal according to the counting operation. A count comparator(20) compares a setup signal of a signal setup portion(50) with an output signal of the counter(10) and outputs a compared signal to a buffer(30). The buffer(30) stores output signals of the measuring device and outputs the stored output signals to a comparator(40). The comparator(40) compares the output signal of the buffer(30) with a value inputted to a reference voltage terminal and transits a low signal to a high signal. The signal setup portion(50) sets up a signal compared with the count signal.
Abstract translation: 目的：提供一种使用比较器测量信号波形的上升/下降时间的方法，用于通过在测量装置的输出波形的上升/下降时间时减小部件的尺寸来降低成本和测试时间。 构成：计数器（10）接收从测量装置输出的ACK信号并执行计数操作。 计数器（10）根据计数操作输出计数信号。 计数比较器（20）将信号设置部分（50）的设置信号与计数器（10）的输出信号进行比较，并将比较的信号输出到缓冲器（30）。 缓冲器（30）存储测量装置的输出信号，并将所存储的输出信号输出到比较器（40）。 比较器（40）将缓冲器（30）的输出信号与输入到参考电压端子的值进行比较，并将低信号转换成高信号。 信号设置部分（50）与计数信号相比建立一个信号。
-
公开(公告)号：KR1020010017171A
公开(公告)日：2001-03-05
申请号：KR1019990032547
申请日：1999-08-09
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R19/25
Abstract: PURPOSE: A measurement device for pulse is provided to measure the rise and fall time of a high frequency pulse waveform by using a test option(time measurement system). CONSTITUTION: A pulse rise and fall time measurement device comprises a pulse wave supply unit(10) blocking an input pulse wave and outputting after a determined period; a count unit(20) counting an output pulse of the apply unit and generating a control signal and resetting as the numbered counts reach a determined number; an integral unit(30) generating step wave by repeatedly charging and maintaining the output pulse and discharging the charged voltage; a selective level attenuation unit(40) outputting the output signal of the integral unit equally or outputting after reducing a specific level; a time measurement unit(50) measuring the rise and fall time of the input pulse wave from the selective level attenuation unit. A test cost is reduced because an expensive test equipment is not needed to measure the rise and fall time of an input/output pulse waveform of various devices.
Abstract translation: 目的：提供脉冲测量装置，通过使用测试选项（时间测量系统）测量高频脉搏波形的上升和下降时间。 构成：脉冲上升和下降时间测量装置包括：脉冲波供给单元（10）阻挡输入脉冲波并在确定的时间段之后输出; 计数单元（20），对所述应用单元的输出脉冲进行计数，并且产生控制信号并且当所述编号的计数达到确定的数量时重置; 整体单元（30），通过反复充电并保持所述输出脉冲并放电所述充电电压来产生步进波; 选择电平衰减单元（40），平均地输出所述积分单元的输出信号，或者在降低特定电平之后输出; 测量来自选择电平衰减单元的输入脉波的上升和下降时间的时间测量单元（50）。 测试成本降低，因为不需要昂贵的测试设备来测量各种设备的输入/输出脉冲波形的上升和下降时间。
-
公开(公告)号：KR1019980016854A
公开(公告)日：1998-06-05
申请号：KR1019960036548
申请日：1996-08-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H03K4/02
Abstract: 본 발명은 버스트성 신호의 변환장치에 관한 것으로서 특히, 버스트신호가 시작되는 시점과 버스트신호가 끝나는 시점에서 소정의 구형파를 발생하는 버스트성 신호의 변환장치에 관한 것이다.
본 발명의 장치는 버스트성 신호를 입력받아 시작점과 끝점을 검출하며, 버스트성 신호의 진폭을 검파하는 버스트신호 검파회로; 버스트신호 검파회로에서 손실된 신호를 보상한 후 소정레벨로 증폭하는 증폭회로; 및 증폭회로의 출력을 입력받아 잡음성분을 제거하는 저역통과필터를 포함한다.
따라서, 본 발명은 버스트성 신호의 시작점과 끝점에서 구형파펄스를 발생시킴으로써 버스트성 신호의 펄스폭을 정확하게 측정할 수 있으며, 하드웨어의 크기가 작아 계측장비의 테스트 보드내에 용이하게 부착시킬 수 있다.-
公开(公告)号：KR1019970055300A
公开(公告)日：1997-07-31
申请号：KR1019950050047
申请日：1995-12-14
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H03H7/38
Abstract: 본 발명은 수동소자 임피이던스 정합회로에 관한 것으로서, 특히 피측정 제품과 측정장치를 연결하는 임피던스 정합회로에 있어서, 상기 임피던스 정합회로는 측정장치에서 피측정 제품을 바라보았을때의 임피이던스 Z1, 피측정 제품에서 측정장치를 바라보았을때의 임피이던스 Z2라고 할때, 다음 수식
R2=(Z2-Rs*voltage-gain
2 ) / (2*voltage-gain)
R3=(Z2*voltage-gain*R2) / (Z2-Z2*voltage-gain-voltage-gain*R2)
R1=Z1*R2*R3 / (Z2*R2+(Z2-Z1)*R3)
에 의해 저항값이 결정되는
회로망을 구성하는 저항들을 구비한 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명에서는 간단한 저항 조합으로 구성되어 가격이 저렴하고 주파수 대역에 대한 제한이 없을뿐만 아니라, 입출력 장치 및 집적회로등의 테스트나 응용회로에 적용되어 특성이 양호한 정합회로를 구현할수가 있다. -
-
-
-
-
-
Search Results
37
records
(took 0.024 seconds)
