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公开(公告)号：KR100560770B1
公开(公告)日：2006-03-13
申请号：KR1020030063625
申请日：2003-09-15
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김기열
IPC: G06K19/00
CPC classification number: G06K19/0723 , G06K7/0008 , G06K7/10297
Abstract: 본 발명에 따른 비접촉 집적회로 카드는 아날로그 인터페이스 블록, 범용 비동기화 송수신 블록 그리고 제어 블록을 포함한다. 상기 아날로그 인터페이스 블록은 수신된 무선 주파수 신호를 복수 개의 통신 프로토콜들에 각각 대응하도록 복조한다. 상기 범용 비동기화 송수신 블록은 상기 아날로그 인터페이스 블록에 의해서 복조된 신호들에 응답하여 상기 수신된 무선 주파수 신호의 통신 프로토콜을 판별하며, 상기 판별된 통신 프로토콜에 대응하는 플래그 신호를 출력한다. 상기 제어 블록은 상기 수신된 무선 주파수 신호의 통신 프로토콜에 따라 통신하도록 상기 플래그 신호에 응답하여 상기 아날로그 인터페이스 블록 및 상기 범용 비동기화 송수신 블록을 제어한다.
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公开(公告)号：KR100482371B1
公开(公告)日：2005-04-14
申请号：KR1020020065723
申请日：2002-10-28
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R31/2862 , G01R31/2867 , G01R31/2868
Abstract: 본 발명은 극저온의 환경 내에서 서리(frost)의 발생을 방지하고 복수 집적소자의 교환 및 연속적인 테스트 작업이 이루어질 수 있도록 하는 집적소자 테스트 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 그 특징적 구성은, 테스터 상부의 테스트 보드가 놓이는 부위와 공급노즐의 이동 범위를 포함한 영역을 구획하는 챔버와; 상기 챔버와 이웃하여 구획하고, 이들 사이에 제 1 도어와 다른 일측에 제 2 도어를 구비하여 그 개폐에 따라 연통하며, 테스트 수행의 전·후 과정의 시료가 놓이는 보조챔버; 및 상기 챔버 내에 구비되어 상기 챔버와 보조챔버 사이로 시료를 이송시키는 이송부를 포함하여 구성으로 이루어진다. 극저온의 환경에서 테스트 수행을 목적으로 투입되는 집적소자 등의 시료는 저온 저습이 유지되는 공간 내에 존재함에 따라 극저온의 환경을 계속적으로 유지하는 상태에서 대상 시료의 교환이 연속적으로 이루어지고, 이에 따라 테스트를 위한 시료의 교체시의 시간이 절감되며, 저습 상태의 유지를 통해 시료 및 시료와 전기적으로 연결되는 각부 구성의 손상 및 파손이 방지되는 효과가 있다.
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公开(公告)号：KR100374344B1
公开(公告)日：2003-05-17
申请号：KR1019950059453
申请日：1995-12-27
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김기열
IPC: H04M1/21
Abstract: PURPOSE: A method for registering a phone number during a communication is provided to allow a caller to register a phone number by receiving it as a DTMF signal from a callee who wants to inform the caller of the phone number. CONSTITUTION: A controller changes an operation mode of a first mobile phone corresponding to a mode function change key input(S44). At this time, as the first mobile phone is in a communication with a second mobile phone, the operation mode of the first mobile phone is changed from a call mode to a DTMF dial receiving mode. The controller waits for a DTMF dial transmitted from the second mobile phone to the first mobile phone(S48). When the DTMF dial is received from the second mobile phone, the first mobile phone displays the DTMF dial(S50). When a registration key is inputted, the controller registers the DTMF dial in an internal memory of the first mobile phone(S54).
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公开(公告)号：KR1019990085602A
公开(公告)日：1999-12-15
申请号：KR1019980018132
申请日：1998-05-20
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G04F10/10
Abstract: 본 발명은 타임 측정 시스템을 공개한다. 그 시스템은 입력 펄스에 응답하여 계수되고 소정 클럭 주기 후에 입력 펄스를 입력하여 출력하기 위한 소정 클럭 주기 후 입력 펄스 발생부, 소정 클럭 주기 후 입력 펄스 발생수단의 출력신호에 응답하여 입력 펄스를 소정수를 계수한 후 리셋되고 소정수로부터 계수를 반복하는 계수기, 계수기가 계수를 하는 동안에는 입력 펄스를 충전하고 유지하는 동작을 수행하고, 계수기가 리셋되면 입력 펄스를 방전하는 적분기, 및 적분기의 출력신호를 입력하고, 측정하고자 하는 특정 구간의 레벨을 입력함으로써 특정 구간의 타임을 측정하는 타임 측정부로 구성되어 있다. 따라서, 종래의 타임 측정 시스템에 주기적이거나 비주적인 입력 펄스를 계단파 형태의 신호로 변환하여 입력하고, 타임 측정 시스템에 측정하고자 하는 특정 구간의 트리거 레벨들을 입력함으로써 입력 펄스의 특정 구간의 타임을 측정할 수 있다.
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公开(公告)号：KR101053185B1
公开(公告)日：2011-08-01
申请号：KR1020050015493
申请日：2005-02-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G06K19/077
CPC classification number: G06K7/006 , G06K7/0021 , G06K2017/0067
Abstract: 본 발명에 따른 스마트 카드는 내부회로, 접촉식 인터페이스, 비접촉식 인터페이스와 전원전압제어블록을 구비한다. 접촉식 인터페이스는 전원단자를 통해 제1 전원전압을 공급하며, 비접촉식 인터페이스는 적어도 하나의 안테나를 통해 제2 전원전압을 공급한다. 전원전압 제어블록은 제1 전원전압 또는 제2 전원전압 중 최초로 인가된 전원전압을 사용하여 내부전원전압을 생성한 후 내부회로에 공급한다. 이를 통하여 접촉식 모드와 비접촉식 모드를 동시에 수행하는 혼합모드에서 모드변환시 내부회로에 대한 초기화를 재수행하지 않아도 되므로 혼합모드를 훨씬 안정되게 사용할 수 있다.
Abstract translation: 根据本发明的智能卡包括内部电路，接触接口，非接触式接口和电源电压控制块。 接触式接口经由电源端子提供第一电源电压，并且非接触式接口经由至少一个天线提供第二电源电压。 电源电压控制块使用第一电源电压或第二电源电压中的第一电源电压来产生内部电源电压，并将内部电源电压提供给内部电路。 因此，在同时执行接触模式和非接触模式的混合模式中，在模式转换期间不需要重新初始化内部电路，从而可以更加稳定地使用混合模式。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020060094376A
公开(公告)日：2006-08-29
申请号：KR1020050015493
申请日：2005-02-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G06K19/077
CPC classification number: G06K7/006 , G06K7/0021 , G06K2017/0067
Abstract: 본 발명에 따른 스마트 카드는 내부회로, 접촉식 인터페이스, 비접촉식 인터페이스와 전원전압제어블록을 구비한다. 접촉식 인터페이스는 전원단자를 통해 제1 전원전압을 공급하며, 비접촉식 인터페이스는 적어도 하나의 안테나를 통해 제2 전원전압을 공급한다. 전원전압 제어블록은 제1 전원전압 또는 제2 전원전압 중 최초로 인가된 전원전압을 사용하여 내부전원전압을 생성한 후 내부회로에 공급한다. 이를 통하여 접촉식 모드와 비접촉식 모드를 동시에 수행하는 혼합모드에서 모드변환시 내부회로에 대한 초기화를 재수행하지 않아도 되므로 혼합모드를 훨씬 안정되게 사용할 수 있다.
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公开(公告)号：KR100526864B1
公开(公告)日：2006-02-03
申请号：KR1019980018132
申请日：1998-05-20
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G04F10/10
Abstract: 본 발명은 타임 측정 시스템을 공개한다. 그 시스템은 입력 펄스에 응답하여 소정값을 계수한 후 리셋되는 계수기; 및 상기 게수기가 리셋되면 상기 입력 펄스를 출력하기 위한 입력버퍼; 상기 입력버퍼로부터 출력된 상기 입력 펄스를 입력 받아 미리 설정된 소정수만큼 계수한 후 리셋되고 상기 미리 설정된 소정수만큼 다시 계수를 반복하는 계수수단; 상기 계수수단이 계수를 하는 동안에는 상기 입력 펄스에 따른 전압을 충전하고 유지하는 동작을 수행하고, 상기 계수수단이 리셋되면 상기 입력 펄스를 방전하는 적분수단; 및 상기 적분수단로부터 출력되는 계단파의 출력신호를 입력하고, 측정하고자 하는 특정 구간의 상기 계단파의 출력신호에 대한 전압레벨이 입력됨에 따라 상기 특정 구간의 타임을 측정하는 타임 측정 수단으로 구성되어 있다. 따라서, 종래의 타임 측정 시스템에 주기적이거나 비주적인 입력 펄스를 계단파 형태의 신호로 변환하여 입력하고, 타임 측정 시스템에 측정하고자 하는 특정 구간의 트리거 레벨들을 입력함으로써 입력 펄스의 특정 구간의 타임을 측정할 수 있다.
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公开(公告)号：KR1020040037287A
公开(公告)日：2004-05-07
申请号：KR1020020065723
申请日：2002-10-28
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R31/2862 , G01R31/2867 , G01R31/2868
Abstract: PURPOSE: An integration device test system and a method for the same are provided to save the time required for exchanging the sample to be tested and to prevent the damage of the components electrically connected to the sample. CONSTITUTION: An integration device test system includes a chamber(50), an auxiliary chamber(60) and a transfer unit. The chamber(50) divides the top portion of the tester(10) into a portion to locate the test board(20) and an area including the moving range of the supplying nozzle(36). The auxiliary chamber(60) is located adjacent to the chamber(50) and provided with a first door and a second door(64) to insert the sample thereinto. And, the transfer unit is installed inside of the chamber(50) for transferring the sample between the chamber(50) and the auxiliary chamber(60).
Abstract translation: 目的：提供集成装置测试系统及其方法，以节省更换待测试样品所需的时间，并防止与样品电连接的部件损坏。 构成：集成装置测试系统包括腔室（50），辅助腔室（60）和传送单元。 室（50）将测试器（10）的顶部分成一部分以定位测试板（20）和包括供应喷嘴（36）的移动范围的区域。 辅助室（60）位于与室（50）相邻并设置有第一门和第二门（64）以将样品插入其中。 并且，转移单元安装在室（50）内部，用于在室（50）和辅助室（60）之间传送样品。
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公开(公告)号：KR1020030060140A
公开(公告)日：2003-07-16
申请号：KR1020020000675
申请日：2002-01-07
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R1/0483
Abstract: PURPOSE: A semiconductor device test system is provided to prevent frost from be formed at a bottom of a board by blocking air flow. CONSTITUTION: A temperature regulator(120) provides air having a very low or high temperature to a semiconductor integrated circuit chip(10) to have a predetermined temperature. The temperature regulator(120) has an air injection nozzle and a transparent cylinder. The semiconductor integrated circuit chip(10) is mounted on a test circuit board(130). A tester(110) is electrically connected to the test circuit board(130) and tests features of the semiconductor integrated circuit chip(10). A sealing section(140) is movably installed at a lower surface of the test circuit board(130) and seals the lower surface of the test circuit board(130). The sealing section(140) isolates the second surface of the test circuit board(130) from an atmosphere.
Abstract translation: 目的：提供半导体器件测试系统，以防止通过阻塞气流在板的底部形成结霜。 构成：温度调节器（120）向半导体集成电路芯片（10）提供具有非常低或高温度的空气以具有预定温度。 温度调节器（120）具有空气喷射喷嘴和透明圆筒。 半导体集成电路芯片（10）安装在测试电路板（130）上。 测试器（110）电连接到测试电路板（130）并测试半导体集成电路芯片（10）的特征。 密封部（140）可移动地安装在测试电路板（130）的下表面并密封测试电路板（130）的下表面。 密封部分（140）将测试电路板（130）的第二表面与大气隔离。
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公开(公告)号：KR1020000050362A
公开(公告)日：2000-08-05
申请号：KR1019990000182
申请日：1999-01-07
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: G01R29/00
Abstract: PURPOSE: A jitter measuring circuit is provided to obtain more precise test data and enhance the productivity by measuring a jitter difficult to be measured together with the removal of the TJD option. CONSTITUTION: A comparator(1) compares a measuring signal with a reference signal in a non-transition interval of the measuring signal and compares a clock with the reference signal in a transition interval of the measuring signal. A first programmable counter(2) counts the clock and generates an enable signal in case that the count value is the same as the reference signal. A memory(3) stores a comparison result signal outputted from the comparator(1). a second programmable counter(4) counts a period of the measuring signal and disables the comparator(1) in case that the count value is the same as the reference value.
Abstract translation: 目的：提供抖动测量电路，以便通过测量难以测量的抖动以及删除TJD选项来获得更精确的测试数据并提高生产率。 构成：比较器（1）将测量信号与测量信号的非转换间隔中的参考信号进行比较，并在测量信号的转换间隔中将时钟与参考信号进行比较。 第一个可编程计数器（2）对时钟进行计数，并在计数值与参考信号相同的情况下产生使能信号。 存储器（3）存储从比较器（1）输出的比较结果信号。 在计数值与参考值相同的情况下，第二可编程计数器（4）对测量信号的周期进行计数，并禁止比较器（1）。
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