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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101369321B1
公开(公告)日：2014-03-06
申请号：KR1020060065110
申请日：2006-07-11
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 식기세척기에 관한 것으로서, 특히 세척수를 가열시키는 히터의 설치구조에 관한 것이다.
본 발명에 의한 식기세척기는, 내부에 세척조가 마련된 본체와 세척수를 가열시키는 히터를 포함하여 구성되는 식기세척기에 있어서, 히터를 집수통에 설치하는 대신에 히터를 세척조의 바닥면 가장자리에 세척조의 둘레방향 설치하되, 히터가 외부로 노출되지 않도록 히터커버 또는 하부안내레일에 의해 형성된 함몰부에 삽입되게 설치하여, 세척조 내부의 외관상 미적 품질을 향상시키고, 또 화상으로 인해 신체 상해를 입는 것을 방지하는 효과가 있다.-
公开(公告)号：KR101301489B1
公开(公告)日：2013-08-29
申请号：KR1020090078037
申请日：2009-08-24
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: D06F58/26 , D06F58/04 , F24H3/0405
Abstract: 유입되는 공기를 예열하는 예열부를 포함시켜, 에너지 효율을 높인 의류건조기를 제공한다. 의류건조기는 본체와, 건조 대상물을 수용하며 회전 가능하게 설치되는 건조통과, 건조통으로 열풍을 공급하는 열풍 덕트를 포함하고, 열풍 덕트는 유입된 공기를 가열하는 가열부와, 가열부와 건조통을 연결시키며 가열된 공기의 유로를 형성하는 열풍 공급부를 포함하며, 가열부는 열을 발생시키는 히터부가 내부에 배치되는 제1가열부와, 제1가열부의 입구 및 외벽을 둘러싸며 제1가열부로 흐르는 공기 유로를 형성하는 제2가열부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 제2가열부는 제2가열부를 흐르는 공기와 접촉하도록 제1가열부의 외벽에 형성되는 적어도 하나의 예열핀(fin)을 포함할 수 있다.
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公开(公告)号：KR200464726Y1
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：KR2020070015062
申请日：2007-09-10
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 개시된 본 고안에 의한 의류건조기는 피건조물을 수용하는 회전드럼과, 회전드럼의 내부에 공기를 공급하기 위한 흡기덕트와, 회전드럼 내부의 공기를 배출시키기 위한 배기덕트와, 회전드럼으로 공급되는 공기를 가열하기 위한 가열장치와, 배기덕트를 통해 배출되는 공기가 흡기덕트로 유입될 수 있도록 흡기덕트와 배기덕트를 상호 연통시키는 연결유로와, 연결유로를 개폐시키는 유로개폐장치를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이러한 본 고안에 의한 의류건조기는 피건조물을 건조시키고 건조실에서 배출되는 열풍 중 일부가 연결유로를 통해 흡기덕트로 유입되어 재가열된 후 다시 건조실로 유입되기 때문에, 가열장치의 부하를 줄일 수 있고 건조효율을 높일 수 있다.
의류건조기, 배기덕트, 열풍, 회수, 연결유로, 유로개폐장치-
公开(公告)号：KR1020080065149A
公开(公告)日：2008-07-11
申请号：KR1020070002176
申请日：2007-01-08
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C29/44 , G11C7/1036 , G11C11/41 , G11C2029/2602
Abstract: A memory diagnosis test circuit and a test method using the same are provided to check a failure node of 6 transistors constituting an SRAM(Static Random Access Memory) cell. A memory core block(210) is arranged with a plurality of memory cells. A first shift register(230) selects one of word lines of the memory core block, in correspondence to a first input data signal inputted sequentially in response to a first clock signal. A second shift register(240) selects one of bit line pairs of the memory core block, in correspondence to a second input data signal inputted sequentially in response to a second clock signal. An analog mode control part(260) transmits the selected bit line pair data to a data line pair in response to an analog mode signal.
Abstract translation: 提供了一种存储器诊断测试电路和使用其的测试方法来检查构成SRAM（静态随机存取存储器）单元的6个晶体管的故障节点。 存储器核心块（210）布置有多个存储器单元。 第一移位寄存器（230）对应于响应于第一时钟信号顺次输入的第一输入数据信号，选择存储器核心块的一行字线。 第二移位寄存器（240）对应于响应于第二时钟信号顺序输入的第二输入数据信号选择存储器核心块的位线对之一。 模拟模式控制部分（260）响应于模拟模式信号将选择的位线对数据发送到数据线对。
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