Abstract:
L'invention concerne un outil d'analyse d'échantillon comprenant une chambre d'échantillon servant à maintenir un échantillon. L'outil comprend aussi un filtre à large bande sélectif selon l'angle disposé le long d'un chemin optique avec la chambre d'échantillon. L'outil comprend aussi un transducteur de rayonnement électromagnétique (ER) qui émet un signal en réponse au rayonnement électromagnétique qui traverse le filtre à large bande sélectif selon l'angle. L'outil comprend aussi un dispositif d'enregistrement qui enregistre des données correspondant à la sortie de signaux à partir du transducteur d'ER, les données indiquant une propriété de l'échantillon.
Abstract:
Se describen sistemas y métodos para reducir la delaminación o craqueo en un apilamiento de películas con múltiples capas fabricado sobre un sustrato. El apilamiento de películas con múltiples capas se diseña para procesar ópticamente una radiación electromagnética puesta en contacto con el fluido de muestra para medir varias características químicas o físicas de un fluido de producción de un pozo. Los sistemas y métodos miden in situ una característica del apilamiento de películas con múltiples capas durante la fabricación y comparan las características medidas con un criterio de referencia. Se ha predeterminado el criterio de referencia para representar el inicio de la delaminación o craqueo. Si el criterio de referencia se cumple, el apilamiento de películas con múltiples capas se modifica para reducir la posibilidad de delaminación o craqueo. Se presentan otros sistemas y métodos.
Abstract:
Disclosed are methods of fabricating an integrated computational element for use in an optical computing device. One method includes providing a substrate that has a first surface and a second surface substantially opposite the first surface, depositing multiple optical thin films on the first and second surfaces of the substrate via a thin film deposition process, and thereby generating a multilayer film stack device, cleaving the substrate to produce at least two optical thin film stacks, and securing one or more of the at least two optical thin film stacks to a secondary optical element for use as an integrated computational element (ICE).
Abstract:
Systems and methods of controlling a deposition rate during thin-film fabrication are provided. A system as provided may include a chamber, a material source contained within the chamber, an electrical component to activate the material source, a substrate holder to support the multilayer stack and at least one witness sample. The system may further include a measurement device and a computational unit. The material source provides a layer of material to the multilayer stack and to the witness sample at a deposition rate controlled at least partially by the electrical component and based on a correction value obtained in real-time by the computational unit. In some embodiments, the correction value is based on a measured value provided by the measurement device and a computed value provided by the computational unit according to a model.
Abstract:
A contrast device for analysis of a wellbore fluid includes: a substrate; and a contrast agent adhered to the substrate, wherein the contrast agent is configured to respond to an analyte within the wellbore fluid thereby altering a measurable characteristic of the contrast agent. A system including the contrast device may further include an energy source and a detector to facilitate measuring the characteristic of the contrast agent.
Abstract:
Ein System, umfassend (i) ein optisches Dünnschichtelement, das ein Substrat und einen Dünnschichtstapel (≥2 Filmschichten; gleichmäßige Dickenvariation von weniger als ± 5 % in einem beliebigen 10 mm2-Stapel) umfasst, die auf der ersten Seite des Substrats abgeschieden sind; (ii) Halter mit mindestens einer Öffnung; wobei der Halter eine Innenseite und eine Außenseite mit einer abgeschrägten Kante hat, die sich in eine Lippe mit einer flachen Seite und einer abgeschrägten Kantenseite erstreckt; wobei abgeschrägte Kante/abgeschrägte Kantenseite der Lippenformwinkel
Abstract:
A device for coating an interior surface of a housing defining a volume comprising a plurality of reactant gas sources including reactant gases for one or more surface coating processes; first and second closures to sealingly engage with an inlet and outlet of the volume of the housing to provide an enclosed volume; a delivery line fluidically coupled to the first closure and the plurality of reactant gas sources to deliver the reactant gases to the enclosed volume; and an output line fluidically coupled to the second closure to remove one or more reactant gases, byproduct gases, or both from the enclosed volume. A method for coating an interior surface of a housing is also provided.
Abstract:
An integrated computing element for an optical computing device includes a flexible optical substrate. The integrated computing element also includes at least one optical thin film deposited on a first surface of the flexible optical substrate. The at least one optical thin film is configured to selectively pass fractions of electromagnetic radiation at different wavelengths.
Abstract:
Eine optische Rechenvorrichtung beinhaltet eine Lichtquelle, die elektromagnetische Strahlung in einen Strahlengang emittiert, der sich von der Lichtquelle zu einem Detektor erstreckt. Eine Substanz interagiert optisch mit der elektromagnetischen Strahlung. Eine Prozessoranordnung ist in dem Strahlengang positioniert und beinhaltet eine Vielzahl von integrierten Rechenelement-(ICE)-Kernen, die mit der elektromagnetischen Strahlung optisch interagieren, wobei der Detektor modifizierte elektromagnetische Strahlung empfängt, die durch optische Interaktion der elektromagnetischen Strahlung mit der Substanz und dem Prozessor generiert wird. Eine Gewichtungsanordnung ist in dem Strahlengang positioniert und beinhaltet eine Vielzahl von Gewichtungsvorrichtungen, die entsprechende Gewichtungsfaktoren auf die modifizierte elektromagnetische Strahlung optisch anwenden. Eine Anordnung winkelselektiver Breitbandfilter (BASF) ist in dem Strahlengang positioniert, um elektromagnetische Strahlung mit einem vorbestimmten Einfallswinkel selektiv passieren zu lassen. Der Detektor generiert ein Ausgangssignal, das für eine Charakteristik der Substanz bezeichnend ist.