等离子体沉积设备
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101743071A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200880024918.2

    申请日:2008-07-17

    Abstract: 一种通过等离子体沉积来使物品(14)的表面涂覆有薄膜聚合物层的设备(10),该设备包括:多个处理室(12a,12b,12c,...12n),一个或多个物品能被放进该多个处理室中的每一个处理室内;用于对所述处理室提供活性物质以便在所述室中形成等离子体的装置(18,19,20,21,22);多个感应装置(24),其与相应的处理室相关联,每一个感应装置可操作以在关联的处理室内感生电场,以便在所述活性物质被提供到该处理室时形成等离子体,使得所述物品表面能通过等离子体沉积而被涂覆有薄膜聚合物层;用于在感应装置中提供随时间变化的电流的装置(26);以及压力控制装置(28),其用于选择性地控制所述处理室中的压力,使得所述室中的任何一个或多个室中的压力能独立于所述室中其它室中的压力而被控制。

    由等离子体增强的化学气相沉积的多层涂层

    公开(公告)号:CN101031669A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200580032732.8

    申请日:2005-09-02

    Abstract: 本发明提供在有机聚合物基材的表面上通过大气压等离子体沉积制备多层涂层的方法,方法的步骤包括在第一步骤中由气态混合物的大气压等离子体沉积,沉积等离子体聚合的,光学透明,高度粘附的有机硅化合物的层(第一层)到有机聚合物基材的表面上,该气态混合物包括有机硅试剂化合物和任选地氧化剂和其后在第二步骤中由气态混合物的大气压等离子体沉积,沉积硅氧化物化合物的基本均匀层(第二层)到该第一层的曝露表面上,该气态混合物包括氧化剂和有机硅试剂化合物,其中在气态混合物中氧化剂对有机硅试剂化合物的摩尔比在第二步骤中比在第一步骤中大。

    真空成膜装置
    40.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1973059A

    公开(公告)日:2007-05-30

    申请号:CN200580020739.8

    申请日:2005-09-05

    Abstract: 本发明提供将圆筒构件的一部分作为靶使用,而且有意利用该圆筒构件附加等离子体聚合功能的的真空成膜装置。真空成膜装置(100)具备具有内部空间的导电性真空槽(13)、在内部空间(10)并排配置多个弯曲成扇形的弯曲构件(31、32),以此形成大致圆筒形从而形成的框体(15)、配置于被框体(15)包围的内部,沿着框体(15)的圆周方向形成磁场的磁场形成装置(33),弯曲构件(15、16)中的至少一个是使用于溅射的靶,而且是除了靶的框体(15)的区域外被使用于等离子体聚合的装置。

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