公开(公告)号：CN102656441B

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201180002000.X

申请日：2011-02-15

Applicant: 光学传感器公司

Inventor： A·费蒂施 ,  L·克勒 ,  X·刘 ,  M·施伦佩尔 ,  K·B·赫布利

IPC: G01N21/3504 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N21/03 ,  G01N21/31 ,  G01N21/3518 ,  G01N21/39

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N21/031 ,  G01N21/274 ,  G01N21/31 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3518 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399

Abstract: 可通过确定第一光强度数据偏离存储的数据集合未超出预定的阈值偏差，来验证包括光源和探测器的分析系统的有效状态，其中所述第一光强度数据量化了来自光源的光在至少一次通过验证单元中的参考气体和零气体中的每一个之后，在探测器接收的所述光的第一强度。存储的数据集合表示在分析系统上进行的先前的仪器验证过程中采集的至少一个先前的测量。参考气体可包括已知量的分析物。可通过校正第二光强度数据来确定样本气体中的分析物的浓度，所述第二光强度数据量化了光至少一次通过验证单元中的参考气体和包含未知浓度的分析物化合物的样本气体中的每一个之后在探测器接收到的所述光的第二强度。还描述了相关的系统、方法和制造的产品。

公开(公告)号：CN104937394A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201380061074.X

申请日：2013-11-20

Applicant: 贝尔坦技术有限公司

Inventor： 弗兰克·费伟尔 ,  菲力浦·伯纳索科勒

IPC: G01N21/3504 ,  G01N33/00

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/42 ,  G01N21/47 ,  G01N33/0031 ,  G01N33/0036 ,  G02B26/0833

Abstract: 本发明提供了一种用于在观察空间区域(20)中光学地检测气体的检测器设备，该设备包括相机(22)和用于通过分析多个不同光谱带中的吸光度而在观察区域中连续地检测至少一种气体的装置。该设备还包括微镜的阵列(14)，所述微镜可在至少两个位置之间分别转向，在第一位置，所述微镜将来自观察区域的辐射通量(16)反射到用于检测所述光谱带中的气体的相机(22)，并且在第二位置，所述微镜将来自观察区域的辐射通量(16)反射到傅立叶变换红外光谱仪(24)。

公开(公告)号：CN104937392A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201480005889.0

申请日：2014-01-23

Applicant: 沙特基础全球技术有限公司

Inventor： 克里斯托弗·卢克·海因

IPC: G01N21/25 ,  G01N17/00

CPC classification number: G01N17/004 ,  B01J19/123 ,  G01J3/42 ,  G01N21/25 ,  G01N21/251 ,  G01N21/255 ,  G01N33/442

Abstract: 一种测定当暴露于光和热时热塑性材料的退化的方法包括：用期望波长的光在期望的辐照度下照射热塑性材料，同时将热塑性材料周围的环境空气维持在期望的温度。所述方法可用于测量透明、半透明和不透明热塑性材料如聚碳酸酯的变色速率，变色速率由通过或来自热塑性材料的透射或反射的白光的透射或反射光谱测定。

公开(公告)号：CN104903704A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201480004033.1

申请日：2014-06-19

Applicant: 罗斯蒙特分析公司

Inventor： 帕维尔·克卢钦斯基

IPC: G01N21/39 ,  G01J3/42

CPC classification number: G01N21/27 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/39

Abstract: 提供一种气体吸收光谱系统和方法。密封腔中设置有具有已知水分浓度的参考气体。照射光源(112)被设置在密封腔中并被构造成生成照射光束。测量室(104)联接到密封腔并被构造成暴露给气体样品(106)，使得穿过测量室(104)的照射光(118)穿过气体样品(106)。处理窗口(116)被设置在密封腔和测量室(104)之间。处理窗口(116)被构造成接收来自照射光源(112)的照射光束并反射照射光的第一部分(128)，同时允许照射光的第二部分(118)进入测量室(104)。参考探测器(110)被设置成接收照射光的第一部分(128)并提供参考探测器信号。测量探测器(108)被设置成在照射光的第二部分已传输通过测量室(104)后接收照射光的第二部分(124)并提供测量探测器信号。控制器(105)连接到参考探测器(110)和测量探测器(108)，并被配置成基于参考探测器信号和测量探测器信号提供经补偿的水分输出。

公开(公告)号：CN104903703A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201380069618.7

申请日：2013-12-25

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 村松尚 ,  森谷直司 ,  松田直树

IPC: G01N21/39

CPC classification number: G01N21/39 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3103 ,  G01N21/3504 ,  G01N2201/0612

Abstract: 提供一种即使在高速测定时也能进行精度良好的气体浓度等的测定的气体吸收分光装置以及气体吸收分光方法。将波长变化的激光照射于测定对象气体，求出表示通过了测定对象气体的所述激光的相对于波长的强度的变化的光谱线型。对于该光谱线型，在波长的各点在规定的波长宽度的范围内利用近似多项式进行多项式近似，基于各点的所述近似多项式的各项的系数，制作该光谱线型的包含零阶的n阶微分曲线。基于这样作成的包含零阶的n阶微分曲线，决定测定对象气体的物理量。

公开(公告)号：CN102741679B

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201180008288.1

申请日：2011-09-16

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 间濑健一郎 ,  太田祯章 ,  宫坂将稔

IPC: G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  B07C5/342 ,  B29B17/02

CPC classification number: G01N21/3563 ,  B07C5/342 ,  B29B17/02 ,  B29B2017/0203 ,  B29B2017/0279 ,  B29K2055/02 ,  B29K2105/0026 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/42 ,  G01N21/359 ,  G01N21/85 ,  G01N21/94 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/129 ,  Y02W30/622

Abstract: 本发明提供一种溴系难燃剂判定方法，其对由树脂构成的被判定物照射光，接收来自被照射了所述光的所述被判定物的反射光，基于所述反射光算出所述被判定物的吸收光谱，基于所述吸收光谱之中的1.42μm以上1.44μm以下的波带、1.45μm以上1.47μm以下的波带、1.66μm以上1.68μm以下的波带、1.72μm以上1.74μm以下的波带、1.92μm以上1.94μm以下的波带、2.11μm以上2.12μm以下的波带、2.17μm以上2.20μm以下的波带、2.31μm以上2.34μm以下的波带之中至少一个波带的吸收光谱，判定所述被判定物是否含有溴系难燃剂。

公开(公告)号：CN104769421A

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201380055603.5

申请日：2013-10-23

Applicant: 菲尼克斯电气公司

Inventor： 弗雷德·格鲁纳特 ,  弗雷德里克·海勒尔 ,  托马斯·尼姆茨

IPC: G01N21/89

CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8806

Abstract: 一种材料表面照明设备，包括：通过校准光(105)照明所述材料表面(103)的照明设备(101)；用于记录所述材料表面(103)响应于所述校准光(105)而发射的测量光(109)的记录设备(107)；以及用于记录所述测量光(109)的光谱特性的处理设备(111)，所述光谱特性表征了所述材料表面(103)的漫反射光谱，其中，所述照明设备(101)用于生成照明所述材料表面(103)的照明光(113)，该照明光具有与所述测量光(109)相对应的光谱特性。

公开(公告)号：CN103827643A

公开(公告)日：2014-05-28

申请号：CN201280041972.4

申请日：2012-06-12

Applicant: 迪亚菲尔公司

Inventor： 于格·塔里埃尔

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/552 ,  G01N21/85

CPC classification number: G01N21/8507 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/552 ,  G01N2021/8528

Abstract: 本发明涉及用于传感器的头部（500），其中传感器包括两段光纤，该两段光纤使红外光在至少一个红外波长传播并向外侧生成用于检测外部媒介的红外特征的倏逝波，所述头部（500）包括：形成弯曲部分（15）的光纤，该弯曲部分（15）用于连接两段光纤，并用于与外部媒介接触，以检测与沿光纤传播的倏逝波的传播相干扰的红外特征；以及用于保护弯曲部分（15）免受外部机械应力并且保证位于外部媒介与所述弯曲部（15）之间的接触区域（30）的装置（504、506）。

公开(公告)号：CN102194914B

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201110049029.5

申请日：2011-03-02

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 尾内敏彦

IPC: H01L31/108 ,  G01J3/42

CPC classification number: H01L27/1443 ,  G01J3/42 ,  H01L31/108

Abstract: 本发明涉及光学元件以及包含它的光学器件和太赫兹时域分光装置。该光学元件包含：具有比光的光子能量大的能量带隙的半导体层；和与半导体层电气接触的多个电极。所述电极中的至少一个形成在该电极和半导体层之间的肖特基结；该肖特基结具有比光的光子能量小的势垒高度。形成肖特基结的电极和半导体层之间的结表面的至少一部分包含：被布置为从半导体层的没有电极的表面用光照射的光照射表面；和被布置为与用光的照射而产生或检测的太赫兹波耦合的耦合结构的一部分。

公开(公告)号：CN102519595B

公开(公告)日：2013-10-09

申请号：CN201110406650.2

申请日：2011-12-07

Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院

Inventor： 刘文清 ,  江宇 ,  相连钦 ,  司福祺 ,  江庆五 ,  薛辉 ,  谢品华 ,  刘建国

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01N21/33 ,  G02B27/10 ,  G02B7/182 ,  G02B17/06 ,  G02B1/10 ,  G02B1/00

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G02B17/0804 ,  G02B17/0816 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/1013

Abstract: 一种星载差分吸收光谱仪的光学系统，由中继光学系统和Offner成像光谱仪系统组成，中继光学系统由中继反射镜、中继镜头及分色片构成；Offner成像光谱仪系统由入射狭缝、凸面光栅和凹面反射镜构成；中继光学系统利用分色片将探测波段分光形成四通道，分别由四组中继镜头聚集到光谱仪入射狭缝处。各波段光从光谱仪入射狭缝进入光谱仪，经凸面光栅分光后，光路转折聚焦到探测器上。本发明利用中继反射镜将光路转折，利用分色片将探测波段分为四个通道，从而提高系统的探测分辨率，保证测量准确性，使得整个光学系统体积紧凑。Offner成像光谱仪成像光谱性能优异，尤其对畸变的改善，易于整个系统的小型化、轻型化，适合空间技术应用。