自动分析装置
    35.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103261876B

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201280004143.9

    申请日:2012-01-10

    Abstract: 提供一种自动分析装置,其不会导致装置的大型化以及复杂化,能够对由装置内部的温度变动引起的光学系统的热变形所导致的光量数据的变动进行修正,能够实现测定对象物质的高灵敏度的检测。来自测定对象物质的散射光通过受光窗(43),由以光轴为中心而在垂直方向上等角度或等间隔地对称配置的+θ散射光用探测器(45a)以及-θ散射光用探测器(45b)受光。光源(40)由光源支架(配置光源的基座部件)(46)固定,探测器(45a、45b)配置固定在探测器支架(配置各探测器的基座部件)(47)上。由此,通过比较来自各探测器(45a、45b)的光量数据的值,能够修正光学系统的热变形引起的光量数据的偏移。

    自动分析装置
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103261876A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201280004143.9

    申请日:2012-01-10

    Abstract: 提供一种自动分析装置,其不会导致装置的大型化以及复杂化,能够对由装置内部的温度变动引起的光学系统的热变形所导致的光量数据的变动进行修正,能够实现测定对象物质的高灵敏度的检测。来自测定对象物质的散射光通过受光窗(43),由以光轴为中心而在垂直方向上等角度或等间隔地对称配置的+θ散射光用探测器(45a)以及-θ散射光用探测器(45b)受光。光源(40)由光源支架(配置光源的基座部件)(46)固定,探测器(45a、45b)配置固定在探测器支架(配置各探测器的基座部件)(47)上。由此,通过比较来自各探测器(45a、45b)的光量数据的值,能够修正光学系统的热变形引起的光量数据的偏移。

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