一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法

    公开(公告)号:CN106645239A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201710011976.2

    申请日:2017-01-08

    Applicant: 扬州大学

    CPC classification number: G01N23/201 G01N2223/054 G01N2223/62

    Abstract: 本发明提供一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法,将淀粉SAXS波谱数据录入数据处理软件,作波谱图,用图形处理软件,依图作相应参考线,并用相关工具定量测量所须参数,计算得淀粉颗粒的片层厚度;其中淀粉SAXS波谱数据为散射角度(x轴数据)和散射强度(y轴数据)。本发明提供的图形分析方法,可获得淀粉的片层厚度参数,满足淀粉研究的需要,同时操作简单,也满足未经过专业培训的科研工作者的需要;图形分析方法基于Photoshop软件,准确度和可控度较高,能够更加直观的研究淀粉片层厚度变化;图形分析方法基于同一相对模式,降低误差,结果更加真实可靠。

    一种可视化动态小角散射实验数据处理系统

    公开(公告)号:CN106442584A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610793655.8

    申请日:2016-08-31

    CPC classification number: G01N23/201

    Abstract: 本发明涉及一种可视化动态小角散射实验数据处理系统,包括:数据导入模块,用于获取小角散射实验数据;函数拟合模块,用于对所述小角散射实验数据进行函数拟合;可视化模块,用于对拟合过程及结果进行可视化;其中,所述函数拟合模块进行拟合的具体过程为:1)选择与散射强度相关的系统因子、形状因子和引入的分布函数的形式;2)根据步骤1)的选择结果计算总散射强度;3)考虑散射背底噪音以及大尺度晶体结构的影响,将所述总散射强度转化为有效散射强度;4)根据所述有效散射强度,采用最小二乘法进行数据拟合。与现有技术相比,本发明具有数据处理过程动态化、可操作性高、可视化等优点。

    依赖于角度的X射线衍射成像系统及其操作方法

    公开(公告)号:CN106062540A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201480063548.9

    申请日:2014-09-12

    Abstract: 一种具有系统轴线的x射线衍射成像(XDI)系统,包括至少一个x射线源,其被配置为生成朝向包括至少一种物质的对象引导的x射线。至少一个x射线源还被配置为利用从多个方向到达的x射线来照射在对象内限定的至少一个体元,每一个方向由相对于系统轴线的入射角来限定。该系统还包括至少一个检测器,其被配置为在x射线已经穿过对象之后检测经散射的x射线。该系统还包括耦合到至少一个检测器的至少一个处理器。该处理器被编程为生成对象体元的多个XDI轮廓。每一个XDI轮廓是相关联的入射角的函数。

    紧凑式X射线分析系统
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102792156A

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN201180013141.1

    申请日:2011-01-18

    CPC classification number: G01N23/201

    Abstract: 本发明涉及一种用于传输分析样品(50)所用的X射线光束的设备,其包括:光源单元(100),该光源单元(100)包括X射线发射装置;光学单元(200),该光学单元(200)放置在光源单元(100)的下游,所述光学块(200)包括具有反射表面(212)的光学单色器零件(210),设计该反射表面(212)来调整光源单元(100)利用一维或二维光学作用所发射的X射线;和X射线的限定装置(300),其包括:校准构件(310),其用于在空间上对由光学单色器零件(210)所调整的X射线进行限界,该校准构件设在光学单色器零件(210)下游,并且包括一个或多个具有部分(313)的板(311),所述部分(313)被布置成形成了限界孔口(312),所述部分(313)用限制X射线扩散的单晶体材料涂覆;X射线的切断构件(320),该X射线由光源单元(100)所发射,该切断构件(320)包括布置在传输设备中的X射线吸收装置,以切断未通过光学单色器零件(210)调整而有可能到达空间限界校准构件(310)的直接X射线光束。

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