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    質量分析装置
    34.
    发明专利
    質量分析装置 有权
    质谱仪

    公开(公告)号：JPWO2013168220A1

    公开(公告)日：2015-12-24

    申请号：JP2014514250

    申请日：2012-05-08

    Applicant: 株式会社島津製作所

    Inventor： 下村　学 ,  学 下村

    IPC: H01J49/26 ,  H01J49/06

    CPC classification number: H01J49/068 ,  G01T1/28 ,  H01J49/025 ,  H01J49/24

    Abstract: イオン検出器(5)と一体である取付板(10)のフランジ(10a)をOリング等の緩衝部材(12)を介して真空チャンバ(1)の内面に固定する。真空チャンバ(1)は付設されたターボ分子ポンプにより機械的に振動するが、緩衝部材(12)により振動が吸収されるので、イオン検出器(5)の振動は抑制される。その結果、イオン検出器(5)の振動に伴って検出信号に重畳されるノイズが軽減される。このようにして、簡単で廉価な構成により、検出信号の品質を高めることができる。

    Abstract translation: 离子检测器（5）的凸缘安装板（10）是经由缓冲部件（12）和（10a）的积分，例如固定到真空室（1）的内表面的O形环。 真空室（1）机械地由涡轮分子泵安装振动时，振动被缓冲部件（12），所述离子检测器（5）被抑制的振动吸收。 其结果是，噪声叠加在与所述离子检测器（5）的振荡的检测信号被减小。 以这种方式，通过简单且廉价的结构，能够提高检测信号的质量。

    MASS ANALYSER
    38.
    发明申请
    MASS ANALYSER 审中-公开
    质量分析仪

    公开(公告)号：WO2015173616A1

    公开(公告)日：2015-11-19

    申请号：PCT/IB2015/000609

    申请日：2015-04-29

    Applicant: SHIMADZU CORPORATION

    Inventor： DING, Li ,  RUSINOV, Aleksandr

    IPC: H01J49/40 ,  H01J49/28 ,  H01J49/06

    CPC classification number: H01J49/401 ,  H01J49/065 ,  H01J49/067 ,  H01J49/068 ,  H01J49/282 ,  H01J49/406

    Abstract: A mass analyser comprises a pair of electrode arrays. Each array has a set of focusing electrodes which are supplied, in use, with voltage to create an electrostatic field in a space between the electrode arrays causing ions to undergo periodic, oscillatory motion in the space, ions passing between electrodes of the sets of focusing electrodes and being repeatedly focused at a centre plane, mid- way between the electrode arrays. At least one electrode of each set of focusing electrodes has an electrode surface closer to the centre plane than the electrode surfaces of other electrodes of the same set. The analyser may be an ion trap mass analyser or a multi-turn ToF mass analyser.

    Abstract translation: 质量分析器包括一对电极阵列。 每个阵列具有一组聚焦电极，其在使用中被提供电压以在电极阵列之间的空间中产生静电场，导致离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子通过聚焦组的电极之间 电极并且在电极阵列之间的中间反复聚焦在中心平面处。 每组聚焦电极的至少一个电极具有比相同组的其它电极的电极表面更靠近中心平面的电极表面。 分析仪可以是离子阱质谱仪或多圈ToF质谱仪。

    ION GUIDE CONSTRUCTION METHOD
    39.
    发明申请
    ION GUIDE CONSTRUCTION METHOD 审中-公开
    离子指导方法

    公开(公告)号：WO2013140139A2

    公开(公告)日：2013-09-26

    申请号：PCT/GB2013050643

    申请日：2013-03-15

    Applicant: MICROMASS LTD

    Inventor： GARSIDE JOHN RICHARD ,  GREEN MARTIN RAYMOND ,  KENNY DANIEL JAMES ,  LOCKETT JEFFREY ELLIS ,  MOULDS RICHARD BARRINGTON

    IPC: H01J49/06

    CPC classification number: H01J49/065 ,  H01J49/066 ,  H01J49/068 ,  Y10T29/49126

    Abstract: A method of constructing an ion guide is disclosed comprising providing an elongated spine member (4) and a plurality of plates (2). Each plate (2) comprises an aperture therethrough for receiving the spine member (4) and at least one electrode (3) for use in guiding ions. The apertures (5) of the plates (2) are arranged around the spine member (4) and the plates (2) are arranged along the spine member (4). The plates (2) are then locked in position on the spine member such that the plates (2) are fixed axially with respect to the spine member (4) and so that the electrodes 3 of the plates (2) are arranged so as to form an array of electrodes (1) for use in guiding ions.

    Abstract translation: 公开了一种构造离子导向器的方法，其包括提供细长的脊柱构件（4）和多个板（2）。 每个板（2）包括穿过其的孔，用于接纳脊柱构件（4）和用于引导离子的至少一个电极（3）。 板（2）的孔（5）围绕脊柱构件（4）布置，并且板（2）沿着脊柱构件（4）布置。 然后将板（2）锁定在脊柱构件上的适当位置，使得板（2）相对于脊柱构件（4）轴向固定，使得板（2）的电极3被布置成 形成用于引导离子的电极阵列（1）。

    四重極型質量分析装置
    40.
    发明申请
    四重極型質量分析装置 审中-公开
    QUADRUPOLE MASS SPECTROSCOPE

    公开(公告)号：WO2011081188A1

    公开(公告)日：2011-07-07

    申请号：PCT/JP2010/073736

    申请日：2010-12-28

    Applicant: キヤノンアネルバ株式会社 ,  塩川 善郎 ,  中村 恵 ,  彭 強

    Inventor： 塩川　善郎 ,  中村　恵 ,  彭　強

    IPC: H01J49/42 ,  C23C14/34 ,  G01N27/62 ,  H01J49/06

    CPC classification number: H01J49/4215 ,  H01J49/068

    Abstract: 本発明は、イオン源からの迷光が検出器に入射することを低減して感度（Ｓ／Ｎ）を上げることが可能な四重極型質量分析装置を提供する。本発明の一実施形態に係る四重極型質量分析装置（１００）は、イオン源（１０１）と、円環状の金属皮膜を有する四重極型質量分析器（１０２）と、該四重極型質量分析器を通過したイオンを検出して信号とする検出器（１０３）とを備える。上記四重極型質量分析器は非直線状であり、該非直線状の四重極型質量分析器により、イオン源から四重極型質量分析器を通して検出器が見込めないように、四重極型質量分析器は構成されている。上記金属皮膜は、絶縁支持体に形成されており、該絶縁支持体の嵌め合いによって組み立てられている。

    Abstract translation: 提供了能够通过降低来自检测器上的离子源的杂散光的入射来提高灵敏度（S / N）的四极质谱仪。 具体公开了具备离子源（101），四极质谱仪（102），具有环状金属膜的四极杆质谱仪（100），以及检测器（103），该检测器检测已经通过的离子 通过四极杆质谱仪。 四极质谱仪是非线性的，由于使用非线性四极杆质谱仪，四极质谱仪被配置为使得通过来自离子源的四极杆质谱仪不能看见检测器。 金属膜形成在绝缘支撑件上，并通过将绝缘支撑件彼此配合而组装。

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