-
公开(公告)号：CN119354502B
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411904741.2
申请日：2024-12-23
Applicant: 希烽光电科技(南京)有限公司 , NANO科技(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正系统，包括光源模块、偏振控制模块、光功率监测模块、光传输模块和光功率探测模块；光源模块输出光束用于光芯片测试，入射至偏振控制模块；偏振控制模块将光源模块的输出光束调制为具有特定偏振状态的光；光功率监测模块用于监测检测偏振控制模块输出光功率；光传输模块用于连接光功率监测模块和光功率探测模块；光功率探测模块用于测试和记录光传输模块的输出光功率。本发明还公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正方法。优点，该系统是一个多光强测试系统，并需要校准光器件作为定标使用；该方法通过芯片测试系统的线性扰动理论对光芯片测量噪声进行多项式拟合，实现光芯片测试系统的噪声校正。
-
公开(公告)号：CN119845412A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411933120.7
申请日：2024-12-26
Applicant: 姜洪涛
Inventor： 姜洪涛
Abstract: 本发明属于光辐射测量技术领域，且公开一种智能光合照度仪，该照度仪包块有多传感器模块、MCU微控制器模块、BP算法中心模块、LED显示器模块和手持外壳；基于上述模块，该照度仪的具体使用方法如下：S1：设备准备与校准：S2：设置测量参数：S3：采集数据：S4：数据预处理：S5：构建BP神经网络模型：S6：训练BP神经网络模型：S7：应用模型与调整种植策略。本发明通过智能光合照度仪结合了高精度传感器与先进的数据分析技术，为农业生产带来了显著的好处，通过精确测量叶绿素吸收波长的照度、温度、气体浓度关键参数，该仪器能够实时反映农作物的生长环境状况，其数据预处理功能确保了分析质量。
-
公开(公告)号：CN119609422B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202510151759.8
申请日：2025-02-12
Applicant: 深圳市镭硕光电科技有限公司
Inventor： 卫绍杰
Abstract: 本发明公开了一种激光雕刻装置及光束质量检测方法，属于激光雕刻校准技术领域，包括激光发射器、激光头、转动杆以及激光定时定位校对机构；其中激光定时定位校对机构包括齿轮、齿条、套块、螺杆以及滑框；还包括激光偏移自检校对机构和激光多点位强度自检校对机构。本发明通过激光定时定位校对机构，具有及时提供自检校对数据，维修人员根据激光束故障校对数据快速确定故障原因，激光雕刻装置加工后期维修效率大幅度提高，激光雕刻装置加工故障持续时间大幅度缩短的优点，从而解决了无法快速对激光雕刻装置进行维修，导致激光雕刻装置加工后期维修效率大幅度降低，激光雕刻装置加工的故障持续时间大幅度延长的问题。
-
公开(公告)号：CN119826967A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411867476.5
申请日：2024-12-18
Abstract: 本发明提供了一种用于正弦门控单光子探测器的前端门电路芯片和系统，可以应用于单光子探测技术领域。该芯片包括：符合门信号生成模块，配置为对输入至前端门电路芯片的频率参考信号进行带通滤波和低噪声放大，得到中间符合门信号，对中间符合门信号进行移相得到符合门信号，并输出符合门信号；正弦门信号生成模块，与门信号生成模块电连接，配置为接收中间符合门信号，对中间符合门信号进行放大得到中间正弦门信号，对中间正弦门信号滤波得到正弦门信号，并输出正弦门信号；正弦门幅检波信号生成模块，与正弦门信号生成模块电连接，配置为接收中间正弦门信号，对中间正弦门信号进行检波和放大得到正弦门幅检波信号，并输出正弦门幅检波信号。
-
公开(公告)号：CN114923566B
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202210392624.7
申请日：2022-04-13
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明提出了一种脉冲激光器中连续光成分的鉴别方法，运用大能量纳秒脉冲激光器和光子晶体光纤结合的超连续谱展宽激光技术，属于激光技术和非线性光学领域。脉冲激光器的输出信号多由示波器的光电探测器进行响应，光电信号转化进程中易出现数据失真。此外，脉冲激光在放大过程中也易产生连续光成分。本发明从超连续谱激光展宽技术出发，比较恒定脉冲能量下的超连续谱光学性能，间接实现了脉冲信号中连续光成分的定性分析，反向推演广义非线性薛定谔方程得到连续光成分的相对含量。本发明具有严谨性，普适性，为确定脉冲激光器中连续光成分的存在提供了一种思路，对大能量脉冲激光器的设计和实际应用具有重要意义。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119816932A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202380063039.5
申请日：2023-08-28
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 提供波长测定装置、数据处理装置、波长测定方法以及程序，在使测定对象物所包含的多个发光元件芯片激励发光而测定各发光元件芯片的代表波长的情况下，能够有助于缩短测定时间而进行高效的测定。具备：单元(3)，对来自具有多个发光元件芯片(101)的测定对象物(100)的一维方向的多个微小部位的发光元件芯片被激励而发光的光进行分光；单元(300)，使分光单元或者测定对象物中的至少一者向与一维方向垂直的方向扫描；单元(5)，每次扫描时对分光出的每个微小部位的光进行受光；单元，基于发光元件芯片的位置相对于测定对象物的基准位置和扫描量，在由受光单元得到的每个微小部位的受光数据所构成的图像上，确定发光元件芯片的位置；以及运算单元(6)，基于与所确定的发光元件芯片的位置对应的受光数据来对发光元件芯片的代表波长进行运算。
-
公开(公告)号：CN119816706A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202380062750.9
申请日：2023-08-31
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: G01J1/42
Abstract: 一种采用相反面向的环境光传感器和邻近度传感器的传感器集成电路(IC)及相关的电子设备和制造方法。作为示例，传感器IC可被集成到电子设备(例如，可穿戴设备)中，以检测用户的邻近度和环境光，以控制电子设备的功能。为了使邻近度传感器和环境光传感器在封装中以不同(例如，相反)的方向面向外设置在传感器IC中，以朝向用户和用户对环境光的体验对齐，邻近度传感器和环境光传感器被设置在传感器IC的不同侧。以此方式，环境光传感器可以面向电子设备的用户感知到的环境光的方向，并且邻近度传感器从电子设备的不同侧检测用户。
-
公开(公告)号：CN119815937A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411803339.5
申请日：2024-12-10
Applicant: 南京航空航天大学
Abstract: 本发明公开一种非可见光式紫外红外双极性探测器及制备方法。探测器包括：GaN外延片、ZnO:Ga微米线、GaAs外延片、Ti/Au电极、PDMS绝缘层。通过化学气相沉积的方法生长出高结晶质量的ZnO:Ga微米线，将ZnO:Ga微米线转移至镀有Ti/Au电极的GaAs外延片。在ZnO:Ga微米线两侧贴有PDMS薄膜，并在微米带ZnO:Ga微米线顶端覆盖有镀有Ti/Au电极的双抛GaN外延片。双抛GaN外延片作为探测偏振光的窗口，实现基于GaN/ZnO:Ga/GaAs异质结的非可见光式双极性探测器。在零偏压条件下，当器件被紫外光照射时，所产生的电流为正；当器件被红外光照射时，所产生的电流为负；当器件被可见光照射时，几乎不产生任何电流。该发明通过合理的材料和结构设计，为实现稳定的非可见光式紫外红外双极性探测器提供可行的方案。
-
公开(公告)号：CN119803868A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202510026128.3
申请日：2025-01-08
Applicant: 中国汽车工程研究院股份有限公司 , 中汽院智能网联科技有限公司
IPC: G01M11/02 , G01M17/007 , G01J1/10 , G01J1/42
Abstract: 本说明书实施例公开了一种自适应远光灯的眩光协同测试方法、装置及电子设备。该方法包括通过先获取目标车辆在场地测试中的测试数据，并基于测试数据中的总线数据对目标车辆进行暗室灯光测试，得到各目标时刻对应的光形数据，再根据测试数据中的惯导数据确定各光形数据对应的目标照度范围，最后通过各两两配对的目标照度范围和理论眩光受影响范围的比对结果确定自适应远光灯的眩光测试结果。通过将场地测试中获取的测试数据通过数据回灌至暗室灯光测试场景中，进行自适应远光灯的眩光协同测试，保证了既能模拟真实道路驾驶条件环境，又能在暗室测试环境中准确高效的确定各目标时刻的目标照度范围，提升了自适应远光灯眩光测试的准确度和效率。
-
公开(公告)号：CN119803688A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411966128.3
申请日：2024-12-30
Applicant: 华南师范大学
Abstract: 本发明涉及一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统，包括依次处于同一光路中的前选择光偏振单元、相位补偿器、样品耦合单元、后选择光偏振单元、光谱仪，相位补偿器通过与其电连接的伺服电机控制引入相位量，处理器通过控制伺服电机调节相位补偿器的引入相位量。该系统计算样品光在弱值放大线性区的相位与相位补偿器的相位和来计算待测样品的光学相位，提高了测量的抗噪能力，有效避免样品光受人为干扰导致的测量结果不准确的问题；通过平均波长变化趋势、光强度变化趋势和平均波长‑相位差数据集可快速调节到弱值放大线性区，解决现有基于弱值放大技术测量样品光学相位时需要花费大量时间与精力去寻找合适的测量点的问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
111214
records
(took 0.074 seconds)
