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公开(公告)号：CN116113810A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202180057365.6
申请日：2021-07-27
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01J3/50
Abstract: 光学装置具备测光部(12A)、第1光学单元(11A)、测光部(12B)以及第2光学单元(11B)。第1光学单元(11A)具有最靠近物体侧的第1透镜(22A)，以及使来自第1部位(AR1)的光偏转并引导至第1透镜的第1棱镜(21A)。第2光学单元(11B)具有最靠近物体侧的第2透镜(22B)，以及使来自第2部位(AR2)的光偏转并引导至第2透镜(22B)的第2棱镜(21B)。从被测量物(1)到第1棱镜(21A)的第1光学单元(11A)的第1光轴(AX1)与从被测量物(1)到第2棱镜(21B)的第2光学单元(11B)的第2光轴(AX2)大致平行，且第1光轴(AX1)与第2光轴(AX2)之间的间隔小于第1透镜(22A)的中心与第2透镜(22B)的中心之间的距离。
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公开(公告)号：CN103201603B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201180052338.6
申请日：2011-09-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 平尾祐亮
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01B9/02061 , G01J3/4535
Abstract: 干涉仪（1）基于参照光检测器（25）的检测结果来检测移动镜（16）的位置，并且对测定干涉光进行计测，参照光源（21）构成为包含由半导体激光器构成的光源（21a）。参照光学系统（20）具有将从参照光源（21）射出的激光变换成准直光的参照光用准直光学系统（22），上述准直光相对固定镜（15）倾斜入射。
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公开(公告)号：CN116157657A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202180054564.1
申请日：2021-08-04
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01J3/02
Abstract: 测光装置(1)具备可变光衰减器(4)。可变光衰减器(4)包括多个光衰减滤光器和驱动装置(5)。多个光衰减滤光器各自包括干扰多层膜和透明基板。将多个光衰减滤光器中的任意两个的组合设为第一光衰减滤光器(光衰减滤光器(10))和第二光衰减滤光器(光衰减滤光器(20))。第一光衰减滤光器的第一透明基板(透明基板(11))的第一光路长度与第二光衰减滤光器的第二透明基板(透明基板(21))的第二光路长度不同。
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公开(公告)号：CN103201603A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201180052338.6
申请日：2011-09-06
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 平尾祐亮
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01B9/02061 , G01J3/4535
Abstract: 干涉仪（1）基于参照光检测器（25）的检测结果来检测移动镜（16）的位置，并且对测定干涉光进行计测，参照光源（21）构成为包含由半导体激光器构成的光源（21a）。参照光学系统（20）具有将从参照光源（21）射出的激光变换成准直光的参照光用准直光学系统（22），上述准直光相对固定镜（15）倾斜入射。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117651850A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202280049869.8
申请日：2022-07-05
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 一种波长测量装置，包括：分光单元(3)，对LED芯片(101)被激励而发出的光进行分光；受光单元(5)，具有按每个波长接收由分光单元(3)分光后的光的多个像素(51)；多个读出单元(52)、(54)、(55)、(513)，分别与多个像素(51)对应，读出来自各个像素的信号；以及运算单元(6)，基于由多个读出单元中的一部分读出单元而读出的信号，运算LED芯片(101)的代表波长。
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公开(公告)号：CN116457642A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202180075003.X
申请日：2021-11-05
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01J3/443
Abstract: 波长测定装置具备：分光单元(3)，对测定对象物(100)中包含的多个发光元件芯片(101)被激发而发出的光进行分光；受光单元(5)，具有多个像素(51)，该多个像素分多个区域地接收从各发光元件芯片的各发光面发出并被分光后的光；分离单元(6)，按照每个发光元件芯片(101)将基于受光结果而得到的测定数据分离；以及运算单元(6)，按照分离后的每个发光元件芯片(101)，根据针对发光面内的多个区域的每个波长的测定数据来运算代表波长。
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公开(公告)号：CN119816932A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202380063039.5
申请日：2023-08-28
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 提供波长测定装置、数据处理装置、波长测定方法以及程序，在使测定对象物所包含的多个发光元件芯片激励发光而测定各发光元件芯片的代表波长的情况下，能够有助于缩短测定时间而进行高效的测定。具备：单元(3)，对来自具有多个发光元件芯片(101)的测定对象物(100)的一维方向的多个微小部位的发光元件芯片被激励而发光的光进行分光；单元(300)，使分光单元或者测定对象物中的至少一者向与一维方向垂直的方向扫描；单元(5)，每次扫描时对分光出的每个微小部位的光进行受光；单元，基于发光元件芯片的位置相对于测定对象物的基准位置和扫描量，在由受光单元得到的每个微小部位的受光数据所构成的图像上，确定发光元件芯片的位置；以及运算单元(6)，基于与所确定的发光元件芯片的位置对应的受光数据来对发光元件芯片的代表波长进行运算。
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公开(公告)号：CN119325552A
公开(公告)日：2025-01-17
申请号：CN202380044166.0
申请日：2023-05-19
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Abstract: 本发明涉及数据处理装置、数据处理系统、数据处理方法以及程序。数据处理装置(3)具备：接收单元(35)，从能够测量测量对象物(4)的图像的每个像素的分光数据的高光谱设备(2)接收测量数据；检测单元(36)，检测接收到的测量数据的缺损的产生；以及文件生成单元(37)，在检测出测量数据的缺损的产生的情况下，生成在缺损的产生部位嵌入有能够确定缺损数据的确定值的测量数据文件。
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公开(公告)号：CN117716216A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202280051865.3
申请日：2022-07-25
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01J3/46
Abstract: 具备：二维分光单元(9)，对通过了物镜(2)的来自被摄体(100)的一维方向的多个微小部位(50)的光进行分光来取得分光数据，并且通过向与一维方向垂直的方向的扫描，取得针对被摄体的二维方向的区域的分光数据；以及摄像单元(8)，配置于物镜(2)的光轴上，能够对一维方向的各微小部位(50)的至少周边部进行摄像。
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