微型光谱仪和用于在成像模式与光谱仪模式之间切换微型光谱仪的方法

    公开(公告)号:CN108496066A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201680080692.2

    申请日:2016-12-05

    Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪(10),包括:-探测单元(7),用于检测光学参量;和-光学单元,包括极化器(2)、Savart元件(40)和分析器(5),所述Savart元件包括第一双折射元件(4a)和第二双折射元件(4b),其特征在于,-在极化器(2)和Savart元件(40)之间的光路中布置第一液晶元件(3a),其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射(103)的第四极化轴(203)调整为,使得从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件(4a)并且从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的光谱仪模式中在第一双折射元件(4a)中被分裂成第一正常射束(500b)和第一异常射束(500a),并且-其中在Savart元件(40)后方的光路中布置分析器(5),并且-在分析器(5)后方的光路中布置探测单元(7)。

    光谱计装置
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101802572A

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200880020833.7

    申请日:2008-05-09

    Abstract: 一种光谱计装置(10)具有光谱计,用于在探测器(34)上产生来自辐射源的辐射的光谱,它包含有一个成像的,光学的利特罗装置(18,20),用于使进入光谱计装置里的辐射(16)成像在一个图像平面里,有第一分散装置(28,30),用于对进入光谱计装置里的辐射的第一波长范围进行光谱分解,还有第二分散装置(58,60),用于对进入光谱计装置里的辐射的第二波长范围进行光谱分解,以及有一个共同的布置在成像光学机构的图像平面里的探测器(34),其特征在于,成像的光学机构(18,20)包括有在两个位置(20,50)之间运动的元件(20),其中射入光谱计装置里的辐射在第一位置上通过第一分散装置,而在第二位置上通过第二分散装置进行传导。

    时间序列变换脉冲分光计测装置

    公开(公告)号:CN101487793A

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200810190657.3

    申请日:2004-08-19

    CPC classification number: G01J3/08 G01N21/3586 G01N2201/0696 G01N2201/0698

    Abstract: 一种提供时间序列变换脉冲分光计测装置,其可容易地在短时间内进行多种试样或其状态等的时间序列变换脉冲分光计测。本发明的时间序列变换脉冲分光计测装置具有:脉冲激光光源;分割装置,其将来自该脉冲激光光源的脉冲激光分割为激发用脉冲激光光束和检测用脉冲激光光束;脉冲光辐射装置;检测装置;保持试样的试样保持部;试样部射入射出光学系统,具有:至少一个测光区域设定用的光程变更装置,其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光路的任一个;至少一个时间序列信号测定用光学延迟装置,其配备在从分割装置到脉冲光辐射装置的入射侧光路及/或从分割装置到检测装置的检测侧光的任一个。

    一种基于CRDS的快速扫描关断装置及方法

    公开(公告)号:CN119510300A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411662959.1

    申请日:2024-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于CRDS的快速扫描关断装置及方法,涉及激光谱技术领域,该装置包括标准具光学结构,用于将激光器的输出经过准直和反射调整后,分为透射光和反射光;激光器波长控制模块,用于将激光器波长设定到目标波长;比较电路模块,用于当实时透过率和目标透过率一致时,对衰荡信号采集电路使能和阈值比较器使能,当衰荡腔内的光信号达到预设阈值时,则关闭激光器电流,使进入衰荡腔的光信号被关闭,并记录衰荡曲线;波长匹配模块,用于当实时透过率和目标透过率一致时,用于通过预设匹配机制对激光波长与衰荡腔波长进行匹配,使衰荡腔内光信号大于设定阈值。本发明提高了入腔功率及单条衰荡曲线的信噪比。

    具有内置校准路径的光谱仪
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118891498A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202380023127.2

    申请日:2023-02-24

    Abstract: 本发明涉及一种用于光谱仪装置(110)的使用中校准方法。该方法包括:a)提供至少一个光谱仪装置(110),该光谱仪装置包括光学特性不同的至少一个光学测量元件(116)和至少一个光学校准元件(122);b)提供至少一个样本(120);c)使用光谱仪装置(110)执行至少两个测量,具体地至少两个连续测量,其中,这些测量中的一个是在具有样本(120)的情况下执行的,并且这些测量中的一个是在没有样本(120)的情况下执行的,i.其中,在具有样本(120)的情况下执行测量包括通过使用光学测量元件(116)经由光学测量路径(118)照射光谱仪装置(110)的检测器(112),光学测量路径(118)包括在至少一个样本(120)处的至少一次反射,并且ii.其中,在没有样本(120)的情况下执行测量包括通过使用光学校准元件(122)经由独立于光学测量路径(124)的光学校准路径(124)照射检测器(112),光学校准路径(124)包括至少一次与光学校准元件(122)的相互作用,但不与样本(120)相互作用,并且其中,光学校准路径(124)布置在光谱仪装置(110)内,具体地在光谱仪装置的壳体(125)内;d)由至少一个检测器(112)根据在没有样本(120)的情况下的测量生成至少一个第一检测器信号Sd1并且根据在具有样本(120)的情况下的测量生成至少一个第二检测器信号Sd2;e)从第一检测器信号Sd1和第二检测器信号Sd2导出至少一个样本(120)的至少一个经校准的光学特性。进一步地,披露了一种被配置成执行使用中校准方法的光谱仪装置(110)及其各种用途。

    光谱仪和利用其的光谱测量方法

    公开(公告)号:CN109642822B

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN201780050521.X

    申请日:2017-07-31

    Abstract: 公开了一种光谱仪,其设置有:第一单位光谱滤波器,其用于吸收或反射目标物体的光谱的部分波长带中的入射光;第二单位光谱滤波器,其用于吸收或反射与所述部分波长带不同的波长带中的光;第一光检测器,其用于检测通过第一单位光谱滤波器的第一光谱;第二光检测器,其用于检测通过第二单位光谱滤波器的第二光谱;以及处理单元,其用于根据第一光检测器和第二光检测器检测到的光谱执行目标物体的入射光谱的重构功能。

    一种高分辨率大测量范围的硅基片上傅里叶变换光谱仪

    公开(公告)号:CN112013959B

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202010934588.3

    申请日:2020-09-08

    Applicant: 浙江大学

    Inventor: 戴道锌 张龙

    Abstract: 本发明公开了一种高分辨率大测量范围的硅基片上傅里叶变换光谱仪。述待测光源与输入波导相连;输入波导输出端与3dB功率分束器输入端相连;所述3dB分束器两个端分别与多级光路选择器一端相连,两个多级光路选择器作为上下干涉臂;两个多级光路选择器的输出端分别与特定长度的覆盖有金属电极的低损耗欧拉螺旋线相连;两个低损耗螺旋线波导另一端同时输入至光功率合束器的输入端;光功率合束器的输出端与光功率探测器的输入端相连,监测输出光信号强度。本发明首次将低损耗波导以及准连续热调节波导与传统片上傅里叶光谱仪结合,可用于生物传感,光谱测量等系统,具有高分辨率、大测量范围、高光通量、结构紧凑等优点。

    用于反射测量的测量装置
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106574866B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN201580041617.0

    申请日:2015-06-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于在样本(04、21、42、54)的生产过程中检测样本(04、21、42、54、66)的绝对反射光谱的测量装置。测量装置包括:光源,其用于产生测量光;均化器,其用于产生测量光的均匀的空间照度分布;可移动反射器(6、16、39、52、59、62)和接收器(07、22、37、53),其用于收集从样本(04、21、42、54)和/或反射器(6、16、39、52)反射的测量光。根据本发明,不仅用于参考测量而且用于样本测量的反射器(6、16、39、52、59、62)定位在观察光路中并且配置在样本(04、21、42、54、66)的与光源的同一侧,以便将反射的测量光导入到接收器(07、22、37、53)。

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