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公开(公告)号：CN104132954B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201410167870.8
申请日：2014-03-14
Applicant: 布鲁克AXS有限公司
Inventor： J·S·皮德森
IPC: G01N23/201 , G01N23/207
CPC classification number: G01N23/201 , G01N2223/314 , G21K1/04 , G21K1/046 , G21K2201/062
Abstract: 本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括：X射线源，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，该孔隙限定射束的横截面的形状；样品，由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上；X射线检测器，用于检测来自于该样品的X射线，其中混合狭缝(5b)包括至少三个混合狭缝元件(7)，每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8)，混合狭缝元件(7)的单晶基板(8)限制该孔隙，该X射线分析系统的特征在于，混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置。本发明的X射线分析系统表现出改进的分辨率和信噪比。
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公开(公告)号：CN109470729A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811010609.1
申请日：2018-08-31
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/201 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供一种放射线相位差摄影装置。该放射线相位差摄影装置具备X射线源、用于形成自身像的第一光栅、用于与第一光栅的自身像发生干涉的第二光栅以及使用于保持被摄体的被摄体载置台移动的移动机构。移动机构能够使被摄体载置台在第一光栅的X射线源侧和第一光栅的第二光栅侧以越过第一光栅的方式沿X射线的光轴方向移动。
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公开(公告)号：CN109154577A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201780031319.2
申请日：2017-05-17
Applicant: 克塞诺奇股份公司
Inventor： P·奥格霍伊
IPC: G01N23/20 , G01N23/201
Abstract: 本发明涉及一种X射线散射仪，包括：-样品架，其用于对准和定向待X射线散射分析的样品(12)；-X射线束传递系统，其设置在样品架上游，用于沿着传播方向(X)朝向样品架产生和引导直射X射线束；-近端X射线检测器(10)，其设置在样品架下游以使直射X射线束通过，并检测从样品(12)散射的X射线；-远端X射线检测器(14)，其设置在样品架的下游，并可以沿着直射X射线束的传播方向(X)移动；其中，近端X射线检测器(10)也可基本上沿直射X射线束的传播方向(X)移动。
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公开(公告)号：CN105717150B
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201610056321.2
申请日：2012-09-11
Applicant: 住友橡胶工业株式会社
IPC: G01N23/201 , G01N23/202
Abstract: 本申请提供测定精度优良、且对各试样的性能差也能充分评价的评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。本发明涉及通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子束散射测定，从而评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。
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公开(公告)号：CN108414552A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810274545.X
申请日：2018-03-30
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G01N23/201 , G01N1/28
Abstract: 本发明公开了一种检测聚合物粘结炸药热稳定性的方法，其特征在于：检测聚合物粘结炸药微结构的热稳定性。该方法，包括如下步骤：将成型PBX炸药制备成片状PBX样品，在适当q范围进行原位变温中子或X光子小散射实验，获得散射中子或X光子计数率随温度的变化曲线，然后通过分析散射中子或X光子计数率随温度的相对和绝对变化来判断PBX炸药微结构的热稳定特性。该方法能够检测出PBX中少量相对整体微结构热稳定性的影响，是一种检测复杂多组分PBX材料微结构热稳定性的有效方法。该方法给出的散射中子或X光子计数率随温度的变化，是深入研究PBX炸药微观结构热稳定性与各类宏观性能之间“构效”关系的重要基础。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108401437A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201680070562.0
申请日：2016-09-30
Applicant: 科磊股份有限公司
IPC: G01B15/02 , G01N23/201 , G01N23/205
Abstract: 本文描述用于使用透射小角度x光散射T-SAXS技术特性化高高宽比垂直制造装置的尺寸及材料性质的方法及系统。示范性结构包含自旋转移力矩随机存取存储器STT-RAM、垂直NAND存储器V-NAND、动态随机存取存储器DRAM、三维快闪存储器3D-FLASH、电阻性随机存取存储器Re-RAM及PC-RAM。在一个方面中，以接近法向入射角较密集集中且以较远离所述法向入射角的定向较不密集集中的若干不同定向执行T-SAXS测量。在另一方面中，使用T-SAXS测量数据以基于检测到的衍射级的经测量强度产生经测量结构的图像。在又一方面中，计量系统经配置以产生针对组合的x光及光学测量分析的模型。
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公开(公告)号：CN107643308A
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201710593858.7
申请日：2017-07-20
Applicant: 帕纳科有限公司
IPC: G01N23/201
CPC classification number: G01N23/20033 , G01N23/201 , G01N2223/054
Abstract: 提供了用于X射线分析的样品保持器。用于保持用于X射线分析的毛细管(40)的样品保持器(2)具有位于纵向狭缝(12)一侧的基座部分(14)上的第一热传递构件(36)和位于另一侧的基座部分(16)上的第二热传递构件(38)。在框架(30)与基座部分(14、16)之间在横向方向上压紧热传递构件(36、38)，以促使第一热传递构件和第二热传递构件的边缘在一起，从而保持毛细管(40)与纵向狭缝(12)纵向地对齐。
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公开(公告)号：CN107589138A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：CN201610537012.7
申请日：2016-07-08
Applicant: 中国科学院化学研究所 , 深圳大学
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明涉及一种用于消除CCD对散射光源光斑影响的方法，该方法包括下列步骤：获取散射图谱的步骤：获取CCD所采集的散射光源光斑的二维SAXS散射图谱；描述模糊化的散射图谱的步骤：利用点扩展函数来描述所述CCD所采集的散射光源光斑的二维SAXS散射图谱；修正散射图谱的步骤：调整点扩展函数中的可调参数来消除CCD对同步辐射光源光斑的二维散射图谱的影响。本发明还涉及一种用于消除CCD对散射光源光斑影响的系统。通过采用上述方法及系统，能够为二维SAXS散射图谱的计算拟合提供更为准确的数据。
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公开(公告)号：CN105181724B
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201510683877.X
申请日：2015-10-21
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明公开了一种基于X射线小角散射仪的纤维用原位旋转样品台，本发明属于分析仪器领域。本发明针对现有配备一维探测器的小角散射仪测试纤维样品只能进行赤道方向和子午方向测试，测试结果无法满足测试微孔取向角的要求，每次测试都单独制样也导致测试结果误差很大、结果不可靠的问题公开了一种由样品台主体(1)、下固定块(2)、上固定块(3)、带刻度的中空圆形齿轮(4)和夹持部组成的纤维用原位旋转样品台，通过带刻度的中空圆形齿轮(4)在样品台上的原位旋转带动纤维样品的原位转动，从而实现纤维样品的原位旋转，在一维的探测器上实现二维探测器的功能。
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公开(公告)号：CN104833687B
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201510224536.6
申请日：2015-05-06
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明提供了一种用于小角散射实验的热台，所述热台包含进气通道、密封窗、透光窗口、排气通道、加热层封装壁、加热层、样品室和样品夹具层。本发明用于小角散射实验的热台耐温范围为‑40℃～1200℃，样品室的两端端口和透光窗口边缘之间的连线与样品室轴向平行线之间的夹角α为4°~90°。通过加热层对样品室环绕式加热，保证了样品的均匀加温，同时避免了加热层对中子、X射线光路的影响。密封窗和透光窗口选择对中子、X射线高透过率的石英玻璃、蓝宝石或Kapton膜，实现了中子、X射线的高透过率，保证了中子、X射线小角散射实验的正常进行。
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