公开(公告)号：CN107179126A

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201710595728.7

申请日：2017-07-20

Applicant: 烟台东方分析仪器有限公司

Inventor： 赵珍阳 ,  李香芋 ,  王世功 ,  田中朝 ,  许玉兴 ,  张春梅 ,  刘杰

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208

Abstract: 本发明适用于光谱分析技术领域，提供了一高效的CCD全谱光谱采集结构，包括聚光装置、CCD、数据转换板和数据采集卡；聚光装置，用于将入射的光谱信号进行反射聚焦；CCD，用于将反射聚焦后的光谱信号等比例转换为电压信号；数据转换板，用于将电压信号进行反向、放大、滤波、AD转换、传输和存储处理；数据采集卡，用于将处理后的电压信号进行采集，并将采集到的电压信号输入到上位机。本发明可以应用于各类光谱仪，不仅实现一定光谱范围全谱采集，有效提升光谱采集的效率和速率，对提升光谱仪性能起到至关重要作用。

公开(公告)号：CN107167242A

公开(公告)日：2017-09-15

申请号：CN201710552255.2

申请日：2017-07-07

Applicant: 深圳谱研光电科技有限公司

Inventor： 沈玉杰 ,  向五峰

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/28

Abstract: 本发明涉及液晶面板检测技术领域，特别涉及一种分光辐射亮度计，包括镜头、光谱仪以及工控板，所述的镜头用于接收被测样品所发出或反射的光线并通过光纤输出至光谱仪中，光谱仪对光线进行分光处理得到光谱信息并将光谱信息转换成数字信号输出至工控板中，工控板将数字信号代入其内存储的公式中进行计算得到样品的色品坐标值。通过镜头、光谱仪对被测样品发出或反射的光线进行处理得到光谱信息，再通过工控板中存储的公式对数字信号进行处理可以很方便的得出样品的色品坐标值，整个过程无需人工参与，全自动检测，检测速度非常快，精准度也非常高。

公开(公告)号：CN107144360A

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201710290581.0

申请日：2017-04-28

Applicant: 中国科学院化学研究所

Inventor： 朱起鹤 ,  祁文科 ,  程敏 ,  蒋攀 ,  林丹 ,  杜宜奎

IPC: G01J7/00 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J7/00 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明涉及一种低电压弱场加速离子成像式小型光解碎片平动速度谱仪，包括源室、反应室、真空泵、脉冲阀、准直器、光解激光和电离激光、低电压弱场离子加速和聚焦系统、微通道板、荧光屏、数据采集系统、时序控制系统和计算机；本申请创新地用弱电场(10～30V/cm)加速离子同时使离子聚焦。离子飞行总距离仅约为12cm。本发明采用低电压弱场使得定态的离子牛顿球的短轴能达到较大的时差，这十分利于随后的时间切片操作。本申请分辨率等性能优于目前通用的大多数强电场(100～350V/cm)加速，长距离(38～105cm)飞行的离子成像式光解碎片平动能谱仪。本发明可以为光解动力学的研究提供更精确、更简便高效的实验手段。

公开(公告)号：CN103797356B

公开(公告)日：2017-09-05

申请号：CN201280043375.5

申请日：2012-09-12

Applicant: 索尼公司

Inventor： 新田尚

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N15/1429 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/255 ,  G01N2015/1006

Abstract: 提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。

公开(公告)号：CN107121193A

公开(公告)日：2017-09-01

申请号：CN201710467430.8

申请日：2017-06-20

Applicant: 南京航空航天大学

Inventor： 薛敏 ,  朱贝贝 ,  潘时龙 ,  曹源

IPC: G01J3/45 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种光谱测量方法。该方法利用光频梳调制器将具有固定频率及相位的微波信号调制到由窄线宽光源输出的光信号上，生成具有N根梳齿的光频梳；对于所述光频梳的每一根梳齿，分别以其作为光载波，利用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法测量出待测光信号在该梳齿所对应频带内的频谱；将各梳齿所对应频带内的频谱组合，得到待测光信号的宽带频谱。本发明还公开了一种光谱测量装置。本发明利用光频梳通道化技术，产生多个连续频带的光载波，可在确保测量分辨率的前提下，大幅度扩展测量范围；本发明还进一步利用并行方式大幅提高测量效率，并利用+2阶光单边带扫频信号将单个通道的测量范围拓展一倍，进一步提升了测量带宽。

公开(公告)号：CN107112712A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580053741.9

申请日：2015-11-20

Applicant: 极光先进雷射株式会社

Inventor： 守屋正人 ,  太田毅 ,  石田启介 ,  草间高史

IPC: H01S3/13

CPC classification number: H01S3/13 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/0474 ,  G01J3/28 ,  G01J9/0246 ,  G01J2009/0257 ,  G02B27/48 ,  H01S3/08004 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08036 ,  H01S3/0811 ,  H01S3/0823 ,  H01S3/1305 ,  H01S3/134 ,  H01S3/137 ,  H01S3/2251 ,  H01S3/2256

Abstract: 窄带化激光装置可以具有：激光谐振器，其包含使光谱宽度窄带化的光学元件；一对放电电极，它们隔着激光谐振器的脉冲激光的光路配置；电源，其对一对放电电极施加脉冲状的电压；第1波长计测器，其对从激光谐振器输出的脉冲激光的波长进行计测，输出第1计测结果；第2波长计测器，其对从激光谐振器输出的脉冲激光的波长进行计测，输出第2计测结果；以及控制部，其根据第2计测结果对第1计测结果进行校正。控制部根据以第1方式控制电源时的第2计测结果与以第2方式控制电源时的第2计测结果之差，对第1计测结果进行校正，其中，该第1方式是电源以第1重复频率对一对放电电极施加脉冲状的电压，该第2方式是电源以比第1重复频率高的第2重复频率对一对放电电极施加脉冲状的电压。

公开(公告)号：CN104749156B

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201310740981.9

申请日：2013-12-27

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 赵自然 ,  张建红 ,  王红球 ,  王娓娓 ,  王志明 ,  易裕民

IPC: G01N21/65

CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/4424 ,  G01N21/65 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12

Abstract: 本发明公开了一种拉曼光谱检测方法，包括以下步骤：连续地对待测物的拉曼光谱进行测量以采集多个拉曼光谱信号；对所述多个拉曼光谱信号进行叠加以形成叠加信号；从该叠加信号中滤除荧光干扰信号；和基于已经滤除荧光干扰信号的叠加信号对待测物进行识别。借助于上述方法，能够通过从混有荧光信号和拉曼光谱信号的检测信号中去除荧光信号所导致的干扰来获得能够正确反映待测物自身的属性的拉曼光谱信号。这种方案可以准确获取待测物的拉曼特征光谱，从而有效地识别待测物。

公开(公告)号：CN107076610A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580045060.8

申请日：2015-06-17

Applicant: 光谱引擎股份公司

Inventor： 亚尔科·安蒂拉

IPC: G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G02F1/21 ,  G02B26/00 ,  G02B5/20

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0227 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01J9/0246 ,  G01J2003/2879 ,  G02B5/20 ,  G02F1/21

Abstract: 一种用于确定法布里‑珀罗干涉仪(100)的光谱标定数据(λcal(Sd),Sd,cal(λ))的方法，其包括：通过采用陷波滤波器(60)对输入光(LB1)进行滤波而形成光谱陷波(NC2)，使得所述光谱陷波(NC2)对应于所述陷波滤波器(60)的透射率陷波(NC1)，所述通过改变所述法布里‑珀罗干涉仪(100)的镜间隙(dFP)，并且通过提供表示所述镜间隙(dFP)的控制信号(Sd)，来测量所述光谱陷波(NC2)的光谱强度分布(M(Sd))，以及所述通过使测量的光谱强度分布(M(Sd))与所述陷波滤波器(60)的光谱透射率(TN(λ))相匹配，来确定所述光谱标定数据(λcal(Sd),Sd,cal(λ))。

公开(公告)号：CN107063456A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201710271676.8

申请日：2017-04-24

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 邵建达 ,  刘世杰 ,  王圣浩

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/28

Abstract: 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置和方法，测量装置包括超连续谱激光器、声光滤波器、光阑、偏振片、分束器、待测光栅、参考光高速探测器、聚焦透镜、积分球、测试光高速探测器和快电子学组件。超连续谱激光器和声光滤波器用于产生单色光束，参考光高速探测器用于测量参考光束的强度，积分球和测试光高速探测器用于测量衍射光束的强度，快电子学组件用于数据采集和数据处理。本发明在测量过程中，仪器的所有机械部件始终保持静止，光栅衍射效率光谱的测量速度因而得到了大大的提高，可实现原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量。

公开(公告)号：CN107024438A

公开(公告)日：2017-08-08

申请号：CN201610941635.0

申请日：2016-10-25

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 井户琢也

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/59 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/4338 ,  G01N21/61 ,  G01N33/0073 ,  G01N2021/399 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/0691 ,  G01N2201/12 ,  G01N21/3103 ,  G01N21/01 ,  G01N2021/3129

Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，利用对测量光的吸光，高精度地分析对象气体。气体分析装置(100)包括多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)、导入部(5)、受光部(7)和分析部(94)，多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)分别同时输出测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)。导入部(5)将多种测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)导入测量空间(S)。受光部(7)测量合计强度(Im)。分析部(94)基于多种测量光经过存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的测量对象强度(Id)与多种测量光经过不存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的基准强度(Id)之差，进行对象气体的分析。