微型显示器在线缺陷及光学检测系统

    公开(公告)号:CN115165318A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210765623.2

    申请日:2022-07-01

    Inventor: 廉瑞 周雪文

    Abstract: 本发明提供了微型显示器在线缺陷及光学检测系统,其可对被测产品的光谱数据分析、并针对设备显示区域内的任意像素点进行光学分析,可检测出所有可见的缺陷,且其通用性好。其包括:机架本体,其通过操作机台将机架本体高度方向分层布置,机架本体的外周罩装有封闭壳体;治具安装结构,其用于定位微型显示器;以及光谱仪;操作机台的上表面设置有XY轴模组,XY轴模组的输出端固装有治具安装结构,微型显示器的显示面板朝上外露布置;治具安装结构的上方设置有光谱仪,光谱仪的安装立面固接有Z轴模组的输出端,光谱仪的输入端口安装有制冷型彩色RGB相机,检测状态下制冷型彩色RGB相机的镜头朝向下方的微型显示器的显示面板。

    一种大带宽高分辨率紧凑型的片上光谱仪及检测方法

    公开(公告)号:CN115165102A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202211069036.6

    申请日:2022-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种大带宽高分辨率紧凑型的片上光谱仪及检测方法,包括输入端口光栅、微环谐振器、刻蚀衍射光栅以及探测器阵列,各部分之间通过单模波导连接,其中微环谐振器上集成有加热电极,所述加热电极用于调节所述微环谐振器的输出波长,使输出波长覆盖整个自由光谱范围。本发明微环谐振器的输出光谱具有周期性,波长相隔一个自由光谱范围的光从微环谐振器的输出端口输出,记录微环谐振器输出波长调节一个完整的自由光谱范围所需电压,并选取调节电压间隔点数Ncounts;微环谐振器的自由光谱范围FSR等于刻蚀衍射光栅的通道间隔,按照步进点数扫描加热电极电压,即可通过探测器阵列测量完整的光谱,检测方便。

    基于调谐机制的微型光谱仪及光谱检测方法

    公开(公告)号:CN115144073A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202110340851.0

    申请日:2021-03-30

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于调谐机制的微型光谱仪及光谱检测方法。所述微型光谱仪包括光栅结构,其至少用于反射、透射或吸收被测光中选定波长的光线,从而产生至少一个共振峰;可调折射率结构,由折射率可调材料构成,可供被测光透过而入射到光栅结构上,以及通过调节折射率使光栅结构产生的共振峰发生移动;检测结构,其至少用于吸收被光栅结构反射或透射的所述选定波长的光线并产生电信号,或者,至少用于接收光栅结构在吸收所述选定波长的光线后产生的热载流子并产生电信号。本发明采用折射率可调材料层覆盖金属光栅来调谐光谱响应,结合压缩感知算法可以实现仅依赖单个或少量光探测器解析出高精度的原始光谱。

    光谱分辨探测组件及制备方法

    公开(公告)号:CN113029338B

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN201911348538.0

    申请日:2019-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种光谱分辨探测组件及制备方法,属于光谱分辨探测和成像技术领域,能够解决现有光谱探测器探测成本较高,工艺较为复杂,无法实现任意波长区分探测的问题。所述光谱分辨探测组件包括:基底和设置在基底上的多个探测结构;多个探测结构规则排布;不同探测结构由不同组分的钙钛矿前驱体溶液制成;不同探测结构的吸收边波长不同。本发明用于制作光谱仪器件、多光谱成像器件。

    一种自旋太赫兹产生装置
    476.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113008369B

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202110214261.3

    申请日:2021-02-26

    Abstract: 本发明的一种自旋太赫兹产生装置,包括飞秒激光器、光开关、自旋太赫兹发射器、硅片、延迟线、离轴抛物面镜、光电导天线、衰减器、超快反射镜;飞秒激光器输出的飞秒激光经光开关调制后,照射到自旋太赫兹发射器上,产生太赫兹辐射;其中透过自旋太赫兹发射器的飞秒激光被硅片反射,称为太赫兹探测光,其依次经光纤延迟线、超快反射镜、衰减器后,照射到光电导天线上;产生的太赫兹透过硅片后,经离轴抛物面镜照射到光电导天线上上时,被光电导天线探测。本发明的自旋太赫兹产生装置,通过利用透过自旋太赫兹发射器的飞秒激光对产生的太赫兹进行探测,飞秒激光能量全部作用于自旋太赫兹发射器上,能量利用率大大提升。

    检测方法、检测装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115115630A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202211037058.4

    申请日:2022-08-29

    Inventor: 申远 杨帆 徐勇

    Abstract: 本发明公开了一种检测方法、装置、电子设备以及存储介质。检测方法包括获取电解槽的双光谱图像,根据预设标定参数对双光谱图像中的温度特征标定,得到温度修正图像,标记温度修正图像中的槽体,以得到槽体图像,根据槽体图像中的温度特征将槽体图像划分为盖布区域和裸露区域,分别对盖布区域和裸露区域检测,得到电解槽的检测结果。本发明实施方式的检测方法通过对双光谱图像中的温度特征进行修正,并对温度修正图像分割得到槽体图像,再对槽体图像根据是否盖布进行进一步的划分,最后再分别对盖布区域和裸露区域进行故障检测,如此,提高了检测效率和故障检测精度。

    一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用

    公开(公告)号:CN115112578A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210849506.4

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明提供了一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用,基于泵浦探测的成像光谱系统包括光源组件、第一分束镜、激发单元、探测单元、合束镜、第二分束镜、信号参照单元与显像单元;光源组件用于发出飞秒激光,飞秒激光经过第一分束镜后分为两路光束;一路光束进入激发单元内形成泵浦光束,并依次经过合束镜与第二分束镜后分束得到聚焦光束与参考光束,聚焦光束射入显像单元内激发待测样品,参考光束用于判断信号的正负;另一路光束进入探测单元内形成具有时间延迟性的探测光束,再经过合束镜入射至显像单元内探测待测样品并成像。本发明实现了高时间分辨率和高空间分辨率,能够进行载流子输运的超快显微成像测量。

    高光谱传感器、高光谱成像系统以及高光谱成像方法

    公开(公告)号:CN115112233A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210285530.X

    申请日:2022-03-22

    Inventor: 宋贞虎

    Abstract: 提供了一种高光谱传感器。高光谱传感器包括窗口、设置在窗口的背面上并且包括多个透镜的第一聚焦部分、设置在第一聚焦部分的背面上并且具有与窗口的背面平行的正面的第一图像传感器、与第一聚焦部分和第一图像传感器间隔开并具有相对于窗口的背面倾斜的正面的第一镜子、与第一镜子间隔开的第一光学元件、与第一光学元件间隔开并在其中具有周期性的折射率分布的第二光学元件、与第二光学元件间隔开并包括多个透镜的第二聚焦部分、以及设置在第二聚焦部分的背面上的第二图像传感器。还提供了包括高光谱传感器的高光谱成像系统,以及使用该高光谱成像系统的高光谱成像方法。

Patent Agency Ranking