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公开(公告)号：CN118311492A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410422424.0
申请日：2024-04-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种时域脉冲场传感器校准装置端口微带的更换装置及方法，该装置包括单锥组件、金属底板组件和至少一个端口微带，所述单锥组件包括单锥本体和底部结构，所述单锥本体底部具有螺纹孔，所述底部结构顶部设有螺纹，所述单锥本体与底部结构通过螺纹固定连接，以形成完整的圆锥体结构；所述金属底板组件包括金属底板和微带安装板，所述金属底板与所述微带安装板通过第二螺钉固定连接；所述端口微带包括插针，所述插针穿过微带安装板插入单锥组件的底部结构中。本发明解决了传统的单锥结构装置只采用一种形式的端口微带，不能兼顾ns量级和ps量级的脉冲问题，且端口微带拆装方便，连接可靠。
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公开(公告)号：CN116047389A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211741065.2
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本说明书公开了一种沉积静电放电电压脉冲校准装置、方法、电子设备，涉及电磁兼容领域，旨在为了解决常规静电放电模拟器校准方法无法适用于沉积静电试验设备的问题。本发明装置包括高压分压器、数字电压表；高压分压器包括串行连接的高压臂、低压臂；高压臂的输入端与放电棒尖锥结构的尖端电连接，低压臂的输出端接地；构成高压臂、低压臂的电阻外部均裹覆有屏蔽层；高压分压器的输入电阻大于沉积静电模拟器的最大放电电压与预设灵敏度电流的比值；数字电压表连接于低压臂的设定部位，用于获取沉积静电放电电压脉冲分压后的电压值。本发明可以准确有效的获取沉积静电模拟器在放电棒尖锥结构尖端的电压，从而得到准确有效的电压校准量。
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公开(公告)号：CN116008692A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211608675.5
申请日：2022-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种微波电场测量探头装置及使用方法，装置包括：原子蒸气室；原子蒸气室端部连接有双波长分光棱镜，双波长分光棱镜远离原子蒸气室一端连接有输入耦合光光纤准直组件和输出信号光光纤准直组件；原子蒸气室上连接有输入探测光光纤组件；输入探测光光纤组件连接于原子蒸气室远离双波长分光棱镜的一端，输入探测光光纤组件、输出信号光光纤准直组件和原子蒸气室处于同一轴心线上；探测光能够穿过双波长分光棱镜进入输出信号光光纤准直组件；进入原子蒸气室内的耦合光能够与原子蒸气室内可穿过双波长分光棱镜的探测光重合。实现提高光收集效率和使用灵活性的目的。
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公开(公告)号：CN112763822A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011538327.6
申请日：2020-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种天线抗干扰测量装置及测量系统，涉及智能天线技术领域。可以利用天线抗干扰测量装置模拟各个来波方向的干扰信号，以有效的获得天线的方向图参数，也就是说，在不依赖后端数据处理系统的情况下，可以提高天线抗干扰测量结果的准确性。该天线抗干扰测量装置包括第一转动件、第二转动件、期望信号发射机构和干扰信号发射机构。第一转动件能够在铅锤面内转动。第二转动件能够在铅锤面内转动且不与第一转动件碰撞。期望信号发射机构设置在第一转动件远离承载面的一端。干扰信号发射机构设置在第二转动件远离承载面的一端。
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公开(公告)号：CN106646035B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201611066834.8
申请日：2016-11-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种吸波材料辐射影响仿真方法和系统，解决现有技术对吸波材料建模计算困难的问题。所述方法包括以下步骤：在所述电磁兼容暗室内建立辐射源和接收天线；在辐射源关于每个铺设有吸波材料的内表面的镜像位置，分别建立一个等效辐射源，等效辐射源的强度为所述辐射源强度与所述吸波材料反射损耗的乘积；在未铺设吸波材料的内表面为良导体、去除铺设有吸波材料内表面、保留等效辐射源的条件下计算所述接收天线接收到的辐射场强度，作为仿真场强度。本申请实施例还提供一种吸波材料辐射影响仿真系统，用于仿真电磁兼容暗室，所述仿真系统包含：仿真源、仿真接收天线、等效源、良导体板。本申请降低计算资源需求，提高运算效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105527598B
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN105486952A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510956174.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
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公开(公告)号：CN103116081B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201210593067.1
申请日：2012-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/02
Abstract: 本发明公开了一种脉冲电流的校准方法，该校准方法包括如下步骤：脉冲电流源(1)输出的脉冲电流经衰减器(2)、示波器(3)、地和匹配电阻(4)形成闭合的电流回路；通过衰减器(2)使示波器(3)的输入电压衰减；通过示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系获得所述脉冲电流的特征参数。通过调节衰减器(2)的衰减比能够调节示波器(3)显示的波形与所述脉冲电流的对应关系。所述校准方法能够校准脉冲电流源产生的脉冲电流，获得脉冲电流的脉冲幅度、脉冲上升时间、脉冲下降时间和脉冲宽度等特征参数。
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公开(公告)号：CN118311493A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410422427.4
申请日：2024-04-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种电磁脉冲场传感器校准装置，该装置包括：架体、升降装置和驱动装置，其中，所述架体的上部为吊装组件，用于调整单锥组件的角度并将其固定；所述升降装置包括支撑组件和多个设置在所述支撑组件上的升降组件，以及设置在所述升降组件上的顶部平台组件，所述升降组件用于在第一方向上支撑所述顶部平台组件进行往复移动；所述驱动装置，用于同时驱动多个所述升降组件在第一方向上往复移动。本发明解决了在安装调试过程中同步性差且容易折弯馈电芯的问题，只需一人即可实现底部平台组件相对单锥组件平行上下移动，完成连续同步升降的调节，机构简单，开发成本低，机构具有自锁功能，升降阻力小，劳动强度低。
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公开(公告)号：CN118209789A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311871439.7
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明属于微波电场强度测量领域，具体涉及了一种用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备，旨在解决现有技术中对于微波场强，无法做到有效溯源，以及超外差方案场强测量的不确定度较高的问题。本发明包括：调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号，结合微波频率绘制净功率和场强之间的关系图，作为第一关系图，计算第一关系图的斜率k1；调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号，结合加入的耦合光绘制净功率和差频谱峰高度之间的关系图，作为第二关系图，计算第二关系图的斜率k2；基于斜率k1和斜率k2计算得到线性比率K。本发明可以降低里德堡原子场强测量的不确定度，且原理清晰、易于实现与应用。
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