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公开(公告)号：CN105547485A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01J5/0018 , G01J5/10
Abstract: 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105547469A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105319174A
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201510907097.9
申请日：2015-12-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法，涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品，借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。
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公开(公告)号：CN105203437A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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公开(公告)号：CN103472033B
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201310467760.9
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种利用连续激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明通过建立球形颗粒系反射信号和透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用连续激光，测量得到颗粒系的半球反射信号和半球透射信号，采用现有Mie理论模型，能很精确的反应出颗粒的电磁散射特性。本发明适用于测量球形颗粒光谱复折射率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103767687B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201410043662.7
申请日：2014-01-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量方法，属于生物组织光学参数测量技术领域。解决了现有测量生物组织光学参数测量响应时间长的问题。本发明测量样品块表面的时域半球反射信号的峰值改变激光器的脉冲宽度tp测量方，获得n组半球反射信号峰值设定待测样品的散射反照率ω和待测样品的非对称因子g，通过经验公式获得待定系数a和b；获得的n组半球反射信号峰值的估计值利用时域半球反射信号峰值的估计值与信号峰值的估计值对应的时域半球反射信号作最小二乘差值；判断最小二乘差值是否小于阈值ε，是则完成基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量，否则继续测量。本发明适用于生物组织光学参数测量。
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公开(公告)号：CN103767687A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410043662.7
申请日：2014-01-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量方法，属于生物组织光学参数测量技术领域。解决了现有测量生物组织光学参数测量响应时间长的问题。本发明测量样品块表面的时域半球反射信号的峰值改变激光器的脉冲宽度tp测量方，获得n组半球反射信号峰值设定待测样品的散射反照率ω和待测样品的非对称因子g，通过经验公式获得待定系数a和b；获得的n组半球反射信号峰值的估计值利用时域半球反射信号峰值的估计值与信号峰值的估计值对应的时域半球反射信号作最小二乘差值；判断最小二乘差值是否小于阈值ε，是则完成基于短脉冲激光反射信号峰值反演的生物组织光学特性参数快速测量，否则继续测量。本发明适用于生物组织光学参数测量。
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公开(公告)号：CN102564610B
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201110448155.8
申请日：2011-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于能量法的半透明材料高温辐射率测量装置及扣除背景辐射的修正方法，涉及一种半透明材料高温法向光谱辐射率修正测试方法，属于高温测量材料物性技术领域。本发明是为了解决传统测试系统造价昂贵、温度加热上限低、测试精度较低的问题。它包括傅立叶红外光谱分析仪、参考黑体炉、可旋转反光镜、加热炉，加热器，温度采集装置，温度巡检操控仪、入射光源、数据处理系统、光阑和半透明试件；所述的加热炉内置有透光口、半透明试件的固定装置和温度采集装置；所述的入射光源发光口的中心轴线、加热炉的透光口的中心轴线、可旋转反光镜的镜面和参考黑体炉出光口的中心轴线与水平轴线共线。用于测量半透明材料表面的高温光谱法向辐射率。
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公开(公告)号：CN103528963A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310533552.4
申请日：2013-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法，涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为：分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面，使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号，同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。
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公开(公告)号：CN103472039A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310460565.3
申请日：2013-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于积分球反射及透射的半透明材料光谱法向发射率测量方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明为了解决现有半透明材料在近红外波段的法向发射率测量方法的测量过程复杂，并且测量结果误差大的问题。它将半透明待测试件固定在积分球的试件口处；将激光器固定在积分球的激光入口处，并将激光器输出激光束的中心对准半透明待测试件内表面的中心位置；将激光功率计探测器的探头固定在积分球的探测器口处；分别对半透明待测试件的反射率和透射率进行测量，继而根据基尔霍夫定律得到半透明待测试件的光谱法向发射率。本发明用于测量半透明材料的光谱法向发射率。
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