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公开(公告)号：CN106383072A
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201610907546.4
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N15/0211 , G01N21/41 , G01N21/51 , G01N21/59
Abstract: 基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法，涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明是利用连续稳态激光照射颗粒系统样品表面，通过在不同散射角度位置布置光学探测器，然后测量不同角度的稳态激光的散射光学信号强度以及半球透射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明适用于基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量。
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公开(公告)号：CN103528978B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310533554.3
申请日：2013-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 利用脉冲激光加热产生的瞬态光热信号测量半透明材料热物性参数的方法，本发明涉及一种测量半透明材料热物性参数的方法。其步骤为：激光照射半透明材料的一侧表面，利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化，同步使用激光功率计分别测量试件激光入射侧的半球反射辐射信号和激光出射侧的半球透射辐射信号。根据激光透射辐射信号、反射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的吸收系数、散射系数和导热系数。本发明通过建立测量半透明材料吸收系数、散射系数和导热系数的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料吸收系数、散射系数和导热系数。
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公开(公告)号：CN103674888B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201310721986.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量，继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数，最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法，可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
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公开(公告)号：CN103630567B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310716967.5
申请日：2013-12-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统，它涉及一种加热系统，属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器，加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层，使得试样加热过程中背景辐射特性简单，有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除；本发明采用电阻加热片直接加热的方式，具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。
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公开(公告)号：CN104819774A
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201510194407.7
申请日：2015-04-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 本发明提供一种基于微透镜阵列的火焰光场探测泛尺度分析方法，包括：高温弥散介质光辐射建模、高温弥散介质辐射特性计算、基于蒙特卡洛算法的光线追踪算法、物像重聚焦算法等步骤。通过模拟不同波长的光线从介质内部发射并经由介质的吸收、散射衰减、介质发射和散射增强等过程，对高温火焰的微透镜光场成像进行仿真计算。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的温度场重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103472039B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310460565.3
申请日：2013-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于积分球反射及透射的半透明材料光谱法向发射率测量方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明为了解决现有半透明材料在近红外波段的法向发射率测量方法的测量过程复杂，并且测量结果误差大的问题。它将半透明待测试件固定在积分球的试件口处；将激光器固定在积分球的激光入口处，并将激光器输出激光束的中心对准半透明待测试件内表面的中心位置；将激光功率计探测器的探头固定在积分球的探测器口处；分别对半透明待测试件的反射率和透射率进行测量，继而根据基尔霍夫定律得到半透明待测试件的光谱法向发射率。本发明用于测量半透明材料的光谱法向发射率。
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公开(公告)号：CN103472036B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310455615.9
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，本发明涉及基于脉冲激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法。它为了解决现有的基于透射、反射辐射信号测量的半透明介质辐射参数测量方法中测量方法复杂、速度慢、准确性差的问题。本发明通过将激光光源照射在待测半透明介质制的一侧表面，待测半透明介质制两侧均匀涂敷黑体涂层，均涂敷有黑体涂层的半透明介质的一侧表面，采用热电偶测温仪测量并记录介质两表面温度随时间的变化。根据两表面随时间变化的温度，通过逆问题算法获得待测半透明介质的吸收系数和散射系数。本发明适用于航空航天、军事、能源、化工、生物医疗及大气科学等多个领域。
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公开(公告)号：CN103439283A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN103344601A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310271945.2
申请日：2013-07-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/35
Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法，本发明涉及材料热物性测量领域，具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂，测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的，本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ，根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ，利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ，对全光谱进行积分，获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR，并作为半透明材料吸收系数的测量结果，完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。
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公开(公告)号：CN101000264A
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN200710071635.0
申请日：2007-01-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 光谱极值测温方法，它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄的问题。本发明方法的步骤如下：被测物体(1)的红外辐射射线(2)经聚光镜(3)汇进入傅立叶分析光谱仪(4)，傅立叶光谱仪(4)进行光谱扫描，光谱曲线记录并存入计算机(5)，计算机(5)通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体(1)的温度，最后在显示屏(6)上显示被测物体(1)的温度。本发明方法测量温度的范围为300～3000K。本发明具有测量精度高、测量范围宽的优点。
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