目标反射体检测系统
    41.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1106534A

    公开(公告)日:1995-08-09

    申请号:CN94115159.X

    申请日:1994-09-09

    CPC classification number: G01C15/002

    Abstract: 本发明提供了一种目标反射体检测系统,其中激光束朝向一个目标反射体发射出,并接收反射光束来检测出目标反射体的存在还是不存在,以及其位置;从而提供了一个激光束发射器和一个反射光束检测器,而且激光束发射器用于朝着目标反射体发射偏振的辐照光束,反射光束检测器用来检测由目标反射体反射回来的偏振的反射光束;反射光束检测器具有第一探测装置,第二探测装置,以及一个反射光束检测电路。

    激光测量系统
    42.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104567833B

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201410513781.4

    申请日:2014-09-29

    CPC classification number: G01C15/002 G01B11/026 G01C15/004 G01C15/008

    Abstract: 激光测量系统(10)具备旋转照射激光(L)的旋转激光射出装置(11)、以及接收从旋转激光射出装置(11)射出的激光而进行受光位置的测量的激光受光装置(12)。旋转激光射出装置(11)具有主体箱体(24)、以及将作为射出方向的照射光轴(Ai)支承成能够相对于主体箱体(24)旋转的激光射出机构(31),基于激光受光装置(12)所接收的激光的照射光轴(Ai)相对于主体箱体(24)的旋转姿态、以及激光受光装置(12)所接收的激光的相对于包含照射光轴(Ai)的基准面(Pb)的高低角(θv),来进行激光受光装置(12)所接收的激光是否是从旋转激光射出装置(11)恰当地射出的激光的判断。

    测量装置
    43.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104048641B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201410094489.3

    申请日:2014-03-14

    CPC classification number: G01C15/002 G01C15/00 G01C15/008

    Abstract: 在具有测定部的测量装置(1)中,具备设成能够相对于上述测定部以竖直轴心为中心旋转的操作控制面板(4),和检测上述操作控制面板与上述测定部的相对角度的相对角度检测组件,上述操作控制面板基于上述相对角度检测组件检测的上述相对角度发出用于使上述测定部相对旋转的控制命令。

    倾斜检测装置
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105698759A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201510901116.7

    申请日:2015-12-09

    Inventor: 古平纯一

    CPC classification number: G01C9/06 G01C9/08 G01C9/18 G01C9/20 G01C2009/066

    Abstract: 本发明涉及倾斜检测装置。具备:光源,用于投影图案;液体构件,具有自由液面并且使所述图案在所述自由液面背面反射;光接收元件,对背面反射后的所述图案的反射像进行光接收;以及运算处理部,该运算处理部对所述光接收元件的光接收面的规定范围扫描需要次数,对所检测的光接收信号进行平均化处理,基于平均化处理后的信号来运算所述图案的重心位置。

    倾斜检测装置以及旋转激光装置

    公开(公告)号:CN105651252A

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201510840228.6

    申请日:2015-11-27

    Inventor: 古平纯一

    Abstract: 本发明涉及倾斜检测装置以及旋转激光装置。固定部和倾斜转动基板经由枢轴部以能相对旋转的方式设置,所述固定部和所述倾斜转动基板的任一个与所述枢轴部整体地构成,所述倾斜检测装置具备:倾斜检测部,设置在所述固定部和所述倾斜转动基板之中的相对于所述枢轴部进行相对旋转的侧;以及角度检测图案,形成于所述枢轴部,所述倾斜检测部具备:光源,向所述枢轴部照射照明光;光接收元件,对由所述枢轴部反射的照明光进行光接收;光学系统,将图案像投影到该光接收元件;以及运算部,基于所述枢轴部进行旋转的情况下的投影到所述光接收元件的所述图案像的投影位置来检测所述枢轴部的旋转。

    图像测量系统
    46.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103076002B

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201210415284.1

    申请日:2012-10-26

    CPC classification number: H04N7/18 G01C11/06 G01C15/002

    Abstract: 本发明涉及图像测量系统。一种图像测量系统包括投射光学系统5,其具有光投射光轴26和用于发射照明光29的光源27,并通过光投射光轴投射照明光、光检测光学系统6,其具有光检测光轴15和图像拾取元件13,并由图像拾取元件通过光检测光轴从要测量对象接收回射光29’、以及用于处理由图像拾取元件获取的数据的控制算术设备7,并且在该图像测量系统中,投射光学系统包括用于将光投射光轴朝着要测量对象指引并投射照明光的光投射单元25、用于使光投射单元沿着高度方向和水平方向旋转且用于改变照明光的投射角的投射角改变装置23、33、以及用于检测光投射光轴相对于光检测光轴的方向角的方向检测装置24。

    测量机
    48.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1538146B

    公开(公告)日:2011-01-26

    申请号:CN200410034388.3

    申请日:2004-04-15

    CPC classification number: G01C15/002 G01C15/02

    Abstract: 一种测量机,包括准直光学系统和具有发出点状光的可见激光光源部的可见激光投射装置,包含:检测出从上述准直光学系统入射的反射光的受光部;根据该受光部的检测控制上述可见激光光源部的发光的控制单元。

    测距装置
    49.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1512136A

    公开(公告)日:2004-07-14

    申请号:CN200310124453.7

    申请日:2003-12-24

    Abstract: 设有发射测距光的光源部;受光光学系统;将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统;以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统。所述光源部能够射出束散角相异、波长相同或大致相同的两束测距光,所述受光光学系统包括将所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器。

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