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公开(公告)号：KR100871906B1
公开(公告)日：2008-12-05
申请号：KR1020070064951
申请日：2007-06-29
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R35/00
CPC classification number: G01R35/005 , G01R1/04 , G01R1/28 , G01R19/0084
Abstract: The device for correcting high voltage source is provided to generate and correct high voltage conveniently. The device for correcting the generating high voltage source comprises the insulating plate(20) installed at the shield cap(10) in which the power source is applied, the high voltage electrode for applying the power source in the shield cap and being adhered to the bottom side of the insulating plate, the upper end supporting plate(30) which has the constant thickness and covers the bottom surface of the insulating plate, the supporting board(40) which is isolated from the bottom supporting plate and is formed in the lower part of external periphery of the upper end supporting plate, and the instrument table(60) for mounting the sensor on the center of the supporting plate.
Abstract translation: 提供用于校正高电压源的装置，以方便地产生和校正高电压。 用于校正发电高压源的装置包括安装在其上施加电源的屏蔽盖（10）上的绝缘板（20），用于将电源施加在屏蔽盖中并粘附到电源的高压电极 绝缘板的底面，具有恒定厚度并覆盖绝缘板底面的上端支撑板（30），支撑板（40）与底部支撑板隔离并形成在下部 上端支撑板的外周的一部分，以及用于将传感器安装在支撑板的中心的仪表台（60）。
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公开(公告)号：KR100820311B1
公开(公告)日：2008-04-07
申请号：KR1020060078541
申请日：2006-08-21
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R33/02
Abstract: 본 발명은 평행판 전극을 이용한 고전압 발생원 교정용 장치에 관한 것으로서 상세하게는 고전압 발생원의 교정용 장치에 있어서, 일정 넓이와 두께를 가지고 형성된 상부금속판 전극과; 상기 상부금속판과 동일하도록 형성되어 상부금속판 전극과 평행되도록 설치되는 하부 금속판 전극과; 상기 상부,하부 금속판 전극을 고정시키는 이동 받침대와; 상기 하부 금속판 상단에 설치되는 전기장 측정센서와; 상기 상부,하부 금속판에 연결되어 전원을 인가하는 외부전원장치와; 상기 전기장 측정센서에 연결되어 상부,하부 금속판 전극 간의 출력전압을 측정하는 측정장치;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 평행판 전극을 이용한 고전압 발생원 교정용 장치에 관한 것이다.
평행판, 측정센서, 고전압, 전기장-
公开(公告)号：KR1020070035769A
公开(公告)日：2007-04-02
申请号：KR1020050090548
申请日：2005-09-28
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: H05K1/02
CPC classification number: G01R27/205 , G01R1/0416 , H01R12/57 , H01R12/716 , H05K1/111
Abstract: 본 발명은 소켓과 플러그로 구성된 커넥터의 불량 여부를 파악하기 위한 것으로, 더욱 상세하게는 커넥터의 구성품인 소켓과 플러그가 연결되었을 때, 피씨비 기판 및 멀티미터를 이용하여 상기 소켓과 플러그의 접촉부분에 발생하는 접촉저항을 측정함으로써, 전기 및 전자기기를 작동하기 전에 상기 커넥터의 불량 여부를 판단하는 것이 가능한 커넥터의 접촉저항 측정용 피씨비 기판 및 이를 이용한 접촉저항 측정방법에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 일측면이 플러그 형상으로 돌출되도록 형성되어 기판이 소켓에 끼워지도록 하는 접촉부와, 릴레이를 사용해 상기 접촉부에 전기적으로 연결되며, 기판의 전면에 구비되는 릴레이제어반과, 외부로부터 전류를 인가받고,외부로 출력신호를 전달시키기 위해 타측면에 구비되는 입출력부와, 상기 접촉부,릴레이제어반 및 입출력부의 연계되는 접촉부분을 전기적으로 연결되도록 하기 위해 전도성 물질로 형성된 레이어;를 포함하여 구성된다.
커넥터, 소켓, 플러그, 접촉저항, 불량판단-
公开(公告)号：KR100662736B1
公开(公告)日：2007-01-02
申请号：KR1020040085182
申请日：2004-10-25
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N27/04
Abstract: 본 발명은 시료의 면 또는 비저항을 측정하는 시스템에 있어서 측정헤드의 누름하중을 쉽게 조절 할 수 있는 구조와 누름하중을 계측 할 수 있는 측정시스템에 관한 것이다. 측정시스템의 구조는 측정헤드를 유도지지구조물에 고정시켜 상하로 작동시키는 동작부와 유도지지구조물에 장착된 측정헤드의 고정 장치로 나누어 볼 수 있는데 기존 시스템의 경우는 측정헤드를 고정시키기 위한 고정 장치의 구조물과 측정헤드의 전체 무게가 측정시의 누름하중으로 동작되는 구조로 되어있다.
4탐침 또는 2탐침 측정방법을 이용한 면 저항 측정시스템은 실리콘 웨이퍼 와 엘시디 패널 등 각종 박막과 금속의 면 저항 측정에 널리 사용되고 있다. 이는 측정헤드의 탐침(tip)이 측정시료의 표면을 누른 상태에서 전기적 방법을 이용하여 시료의 면 저항을 측정하는 원리이다. 그러나 이러한 방법은 10 ㏁/sq 이상의 고저항 물질이나 두께가 얇은 박막의 면 저항을 측정할 때에는 측정헤드의 탐침이 측정시료의 표면에 접촉할 때 접촉저항이 발생하는데 이는 누름하중과 밀접한 관계가 있으며 기존의 방법으로는 정밀측정이 어렵다.
본 발명은 이러한 측정헤드의 누름하중을 측정시료에 따라서 쉽게 조절하여 측정할 수 있도록 하는 것으로 고정 지지물에 도르레를 설치하여 측정헤드의 전체 무게와 평형을 이루도록 반대편에 같은 무게의 추를 연결하는 구조가 주요 특징이다. 즉, 구조물에 고정된 측정헤드의 전체무게가 평형 되었으므로 시료에 따른 면 저항을 측정할 때에는 측정헤드 위에 추의 무게를 선택하여 올려놓고 측정하면 된 다. 그리고, 또 한 가지 방법은 하중 측정용 센서를 고정구조물에 부착시키고 측정헤드와 연결하여 측정시 측정헤드의 하중을 조절하는 계측용 측정시스템에 관한 것이다.
면 저항, 측정, 시료, 탐침-
公开(公告)号：KR101563592B1
公开(公告)日：2015-10-27
申请号：KR1020130156587
申请日：2013-12-16
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R27/02
Abstract: 본발명은고저항측정장치및 방법에관한것으로서더욱자세하게는누설저항효과를제거하는별도의보조장치없이전압원, 전압계및 두저항을이용하여고 저항의정밀측정에대한것이다. 본발명의고저항측정장치는정전압을공급하는전압공급부; 및상기전원공급부와폐회로를구성하는저항부; 를포함하며상기저항부는기준저항과상기기준저항과직렬로피측정저항을전기적으로접속하기위한전기접속부가구비되고, 상기기준저항의양단의전압을측정하기위한고정밀 DMM이연결되는것을특징으로한다. 본발명에의한고저항측정장치및 방법에의하면, 별도의보조회로또는장치를사용하지않고명목값이같은두 개의기준저항을사용하여누설저항효과없이고저항을정확하게측정할수 있다는효과를가진다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020150069893A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：KR1020130156587
申请日：2013-12-16
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R27/02
Abstract: 본발명은고저항측정장치및 방법에관한것으로서더욱자세하게는누설저항효과를제거하는별도의보조장치없이전압원, 전압계및 두저항을이용하여고 저항의정밀측정에대한것이다. 본발명의고저항측정장치는정전압을공급하는전압공급부; 및상기전원공급부와폐회로를구성하는저항부; 를포함하며상기저항부는기준저항과상기기준저항과직렬로피측정저항을전기적으로접속하기위한전기접속부가구비되고, 상기기준저항의양단의전압을측정하기위한고정밀 DMM이연결되는것을특징으로한다. 본발명에의한고저항측정장치및 방법에의하면, 별도의보조회로또는장치를사용하지않고명목값이같은두 개의기준저항을사용하여누설저항효과없이고저항을정확하게측정할수 있다는효과를가진다.
Abstract translation: 本发明涉及一种测量高电阻的装置和方法，更具体地说，涉及一种用于测量高电阻的装置和方法，能够通过使用电压源，电压表和两个电阻而不需要副装置来精确地测量高电阻 消除泄漏电阻效应。 根据本发明，该装置包括提供恒定电压的电压供应部件; 以及包括电压供应部分和闭合电路的电阻部分。 电阻部分包括电连接部分，其将参考电阻器与测量的电阻器串联电连接，并且与用于测量参考电阻器两端的电压的高精度DMM连接。 根据本发明，利用该装置和方法，通过使用具有相同标称值的两个参考电阻器，在不使用额外的子电路或器件的情况下，精确地测量高精度而没有漏电阻效应。
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公开(公告)号：KR101529230B1
公开(公告)日：2015-06-16
申请号：KR1020130168103
申请日：2013-12-31
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01C17/06553 , H01C7/003 , H01C17/0652
Abstract: 본발명은면저항인증표준물질및 그제조방법으로써, 면저항측정기의교정및 정확도확인을위해사용되는인증표준물질을제공할수 있는것이다. 이를위해, 후막저항체를이용하여면저항을측정할수 있는면저항인증표준물질의제조방법은목표저항치의저항페이스트준비(S10) 과정과상기저항페이스트를인쇄할기판준비(S20) 과정과상기와같이준비된기판에저항인쇄(S30) 과정상기저항이인쇄된기판(10)에열을가하는소성(S40)과정및 면저항인증표준물질(CRM)을완성(S50)하는과정으로구성되는제조방법에의해, 세라믹재질로형성되는기판(10)과상기기판(10) 상에인쇄된후 소성된무패턴의저항체(20)로구성되는면저항인증표준물질을제공하게된다.
Abstract translation: 本发明涉及耐片材认证参考材料（CRM）和制造耐薄层CRM的方法，本发明的目的是提供一种用于确认薄层电阻测量器的校准和精度的CRM。 使用厚膜电阻测量薄片电阻的方法，包括：制作目标电阻值的电阻浆料的步骤（S10） 准备要印刷电阻浆料的板的步骤（S20）; 在如上所述制备的板上印刷电阻器的步骤（S30）; 加热所述电阻印刷电路板（10）的烘烤步骤（S40）。 以及完成耐薄层CRM的步骤（S50），从而提供包括由陶瓷材料形成的板（10）和无图案电阻（20）的耐片材CRM，并且在板（10）上印刷然后烘烤。
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公开(公告)号：KR101020534B1
公开(公告)日：2011-03-09
申请号：KR1020070084261
申请日：2007-08-22
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R1/073
Abstract: 본 발명은 박막 시료의 면저항 측정시 시료의 크기와 위치에 관계없이 누구나 쉽고 정확하게 면저항을 측정을 할 수 있는 듀얼 형상(dual configuration)기술을 면저항 측정장치에 적용한 것이다. 이 듀얼 형상 방법의 원리는 시료의 표면에 4 탐침을 접촉시키고, 바깥쪽 두 핀에 전류( )를 인가한 후, 안쪽 두 핀에서 전압( )을 측정하여 오옴의 법칙에 의해 저항( )을 구하는 것과, 4 탐침의 첫 번째 핀과 세 번째 핀에 전류( )를 인가한 후, 두 번째 핀과 네 번째 핀에서 전압( )을 측정하여 오옴에 법칙에 의해 저항( )을 구하여 면저항( [Ω/square])을 구하는 원리이다.
여기서 이다.
본 발명은 이 듀얼 원리를 적용하여 전자회로를 설계한 후, 면저항 측정장치를 제작하여 4 탐침이 시료에 접촉되면 면저항이 자동측정 되도록 한 것을 특징으로 하는 듀얼 형상 방법을 적용한 휴대용 4 탐침 면저항 측정장치에 관한 것이다.
면저항, 4 탐침, 측정장치, 일체형, Single & Dual Configuration, Four-Point Probe-
公开(公告)号：KR100896534B1
公开(公告)日：2009-05-08
申请号：KR1020070075768
申请日：2007-07-27
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 DMM과 같이 저항을 직접 측정하는 각종 계측기를 사용하여 다수의 저항값을 비교하여 얻은 비율값으로부터 국가표준의 소급없이 각각의 저항값을 자체적으로 구하는 방법즉, 하나의 절대 측정 방법에 관한 것으로 상세하게는 사용자가 측정하고자 하는 대상의 저항값의 정확도 이상의 안정도와 분해도를 갖는 다수의 대상을 선택하는 대상 선택단계와; 상기 다수의 대상으로부터 비율값을 측정하는 단계 및 그렇게 얻어진 비율값을 비율측정 계산식에 대입하여 저항의 각 자리 수치에 해당하는 각각의 최종 변수값을 결정하는 과정을 다수번 반복하는 저항 변수값 계산단계와; 상기 변수값 계산단계에서 계산된 마지막 두자리 비율값의 앞자리와 뒷자리중 앞자리를 α로 지정하고, 뒷자리를 β로 지정하며, 상기 측정된 다수의 비율값의 a에 해당하는 여러 경우의 수를 라고 할 때, α>α' 또는 α β' 또는 β
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公开(公告)号：KR1020090019948A
公开(公告)日：2009-02-26
申请号：KR1020070084262
申请日：2007-08-22
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R1/073 , G01R1/04 , G01R27/02 , G01R31/2601
Abstract: A fixing apparatus of four point probe for measuring sheet resistance is provided to measure an object in a desired position by including a rotary plate. A measuring part is formed in one side of a fixing apparatus. A connection part is formed in the other side of the fixing apparatus. The connection part is connected to a measuring device. A main frame is coupled in a top of a fixing plate(20) fixed in a floor. A rotary plate(30) is coupled in the top of the fixing plate. An auxiliary frame(22) is coupled in a top of the main frame. A probe fixing pole(10) is coupled in one side of the auxiliary frame. A probe is fixed in the probe fixing pole. A rotary handle(12) is installed in the other side of the probe fixing pole.
Abstract translation: 提供了用于测量薄层电阻的四点式探针的定影装置，通过包括旋转板来测量所需位置上的物体。 测量部分形成在定影装置的一侧。 连接部形成在定影装置的另一侧。 连接部连接到测量装置。 主框架联接在固定在地板上的固定板（20）的顶部。 旋转板（30）联接在固定板的顶部。 辅助框架（22）联接在主框架的顶部。 探针固定杆（10）联接在辅助框架的一侧。 探头固定在探头固定杆上。 旋转手柄（12）安装在探针固定杆的另一侧。
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