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    Optische Rechenvorrichtungen, umfassend drehbare selektive Breitbandwinkelfilter
    41.
    发明专利
    Optische Rechenvorrichtungen, umfassend drehbare selektive Breitbandwinkelfilter 未知

    公开(公告)号：DE112015006146T5

    公开(公告)日：2017-10-26

    申请号：DE112015006146

    申请日：2015-04-15

    Applicant: HALLIBURTON ENERGY SERVICES INC

    Inventor： PRICE JAMES M ,  PERKINS DAVID L

    IPC: G01N21/17 ,  E21B47/00 ,  G01N21/27

    Abstract: Eine optische Rechenvorrichtung, umfassend eine Vielzahl elektromagnetischer Strahlungsquellen, jeweils mit einer einzigartigen Winkelverschiebung um einen optischen Strahlengang und jeweils mit mindestens einer einzigartigen Wellenlänge der elektromagnetischen Strahlung; ein integriertes Rechenelement (ICE), das in dem optischen Strahlengang vor oder nach einer Probe lokalisiert wird, die in dem optischen Strahlengang lokalisiert wird, um in dem optischen Strahlengang modifizierte elektromagnetische Strahlung zu generieren; einen selektiven Breitbandwinkelfilter (BASF), der in dem optischen Strahlengang lokalisiert wird und um eine Achse zu einer Vielzahl einzigartiger Ausrichtungen drehbar ist, um die elektromagnetische Strahlung und/oder die modifizierte elektromagnetische Strahlung in dem optischen Strahlengang mit einem Zieleinfallswinkel zu übertragen, der einer von der Vielzahl elektromagnetischer Strahlungsquellen entspricht, um eine nach dem Winkel ausgewählte modifizierte elektromagnetische Strahlung (ASMR) zu generieren; und einen Detektor, der die ASMR empfängt und ein Ausgabesignal generiert, das einem Charakteristikum der Probe entspricht.

    METODOS Y SISTEMAS PARA LA FABRICACION DE ELEMENTOS INFORMATICOS INTEGRADOS.
    43.
    发明专利
    METODOS Y SISTEMAS PARA LA FABRICACION DE ELEMENTOS INFORMATICOS INTEGRADOS. 未知

    公开(公告)号：MX2016005705A

    公开(公告)日：2016-07-14

    申请号：MX2016005705

    申请日：2013-12-02

    Applicant: HALLIBURTON ENERGY SERVICES INC

    Inventor： PRICE JAMES M

    IPC: G01B11/06 ,  H01L21/66

    Abstract: Métodos y sistemas para la fabricación de elementos informáticos ópticos, que incluyen un método para corregir las mediciones del espesor de las capas del elemento durante la fabricación que incluye depositar una capa del elemento en un sustrato de vidrio o una capa depositada previamente, iluminar la capa depositada y tomar muestras de la luz reflejada o transmitida producida por la iluminación, detectar y medir una magnitud real de la luz de la muestra en función de la longitud de onda, y modelar la luz de la muestra para producir una magnitud prevista de la luz de la muestra. El método incluye además determinar una discrepancia entre las magnitudes real y prevista, ajustar la magnitud real en función de la discrepancia, calcular el espesor de la capa depositada en función de la magnitud real ajustada de la luz de la muestra, y ajustar el espesor de la capa depositada si el espesor calculado no se encuentra dentro de un intervalo de tolerancia de un espesor objetivo.

    Manufacturing process for integrated computational elements
    44.
    发明专利
    Manufacturing process for integrated computational elements 未知

    公开(公告)号：AU2014386802A1

    公开(公告)日：2016-07-07

    申请号：AU2014386802

    申请日：2014-03-21

    Applicant: HALLIBURTON ENERGY SERVICES INC

    Inventor： PERKINS DAVID L ,  PELLETIER MICHAEL T ,  PRICE JAMES M

    IPC: E21B49/08 ,  E21B47/002 ,  G01N21/00

    Abstract: Disclosed are methods of fabricating an integrated computational element for use in an optical computing device. One method includes providing a substrate that has a first surface and a second surface substantially opposite the first surface, depositing multiple optical thin films on the first and second surfaces of the substrate via a thin film deposition process, and thereby generating a multilayer film stack device, cleaving the substrate to produce at least two optical thin film stacks, and securing one or more of the at least two optical thin film stacks to a secondary optical element for use as an integrated computational element (ICE).

    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE
    49.
    发明公开
    OPTICAL COMPUTING DEVICE HAVING DETECTOR WITH NON-PLANAR SEMICONDUCTOR STRUCTURE 审中-公开
    OPTISCHE BERECHNUNGSVORRICHTUNG MIT EINEM DETEKTOR MIT NICHIPLANER HALBLEITERSTRUKTUR

    公开(公告)号：EP3058433A4

    公开(公告)日：2017-08-02

    申请号：EP13899927

    申请日：2013-12-18

    Applicant: HALLIBURTON ENERGY SERVICES INC

    Inventor： PERKINS DAVID L ,  GAO LI ,  PRICE JAMES M

    IPC: G06E3/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/12 ,  G01J3/26 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/59 ,  G01N21/64 ,  G01N33/28 ,  H01L31/0352

    CPC classification number: G01N33/2823 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/12 ,  G01J3/26 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G01N21/31 ,  G01N21/64 ,  G06E3/00 ,  H01L31/0352

    Abstract: An optical computing device including a detector having a non-planar semiconductor structure is provided. The detector may include one or more structures having structure characteristics that may be optimized to respond to and weight predetermined wavelengths of light radiated from a sample that are related to characteristics of the sample. The detector may include an array of the one or more structures, wherein each of the structure units may be individually addressable to program or tune the detector to respond to and weight a spectra of light and generate an output signal based on the weighted spectra of light that is proportional to the characteristics of the sample.

    Abstract translation: 提供了一种包括具有非平面半导体结构的检测器的光学计算装置。 检测器可以包括具有结构特征的一个或多个结构，所述结构特征可以被优化以对与样本的特征相关的样本辐射的光的预定波长做出响应并对其加权。 检测器可以包括一个或多个结构的阵列，其中每个结构单元可以是可单独编址的，以编程或调谐检测器以响应光并对光谱进行加权并基于光的加权光谱生成输出信号 这与样本的特征成正比。

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