平面被测对象的逐个像素光电测量装置

    公开(公告)号:CN1363827A

    公开(公告)日:2002-08-14

    申请号:CN01140231.8

    申请日:2001-12-06

    Inventor: 汉斯·奥特

    Abstract: 用于平面被测量对象的逐个像素光电测量的装置包括将被测对象成像在二维CCD传感器上的投影装置、设置在成像光路中的用于投射在图像传感器上的测量光的波长选择滤光的滤色片装置、处理由图像传感器产生的电信号并将其转换为相应的数字原始测量数据的信号处理装置以及用于把该原始测量数据处理成表示被测对象的各个像素颜色的图像数据的数据处理装置。此外,设置有照明装置,该照明装置包括在入射角基本上为45°±5°的条件下用至少一个主平行光束照射被测对象的一个菲涅耳透镜。包括至少一个构成为菲涅耳透镜的远程镜头的投影装置被构造为一个焦阑成像光学系统,该光学系统在基本上0°的相同观察角下并以最大为5°的相同孔径角将被测对象的每个点成像在光转换元件阵列上。数据处理装置进行大范围的校正测量。

    光谱分析方法和分析系统
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1064547A

    公开(公告)日:1992-09-16

    申请号:CN92101343.4

    申请日:1992-02-28

    CPC classification number: G01J3/36 G01N21/67

    Abstract: 样品中多种元素被指定为监测元素。每次激化样品时,检测和存储监测元素和待测元素的谱线光强。从存储的数据确定出监测元素各自的谱线光强的分布。根据该分布,确定监测元素各自的谱线光强的优选区。参照存储的数据,累加每次激化监测元素的谱线光强在优选区内时待测元素的谱线光强。

    发光分析装置
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1047923A

    公开(公告)日:1990-12-19

    申请号:CN89108991.8

    申请日:1989-11-29

    Inventor: 福井勳 林修三

    Abstract: 一种发光分析装置,其特征在于,把每次发光分为高能量激发和与之连续的低能量激发;使用光电倍增管作为受光元件;由一个开关电路来控制所述各光电倍增管的电极电压的通、断,至少在高能量激发中切断所述光电位增管电极的电压并在低能量激发中把电压加到光电倍增管的电极上,具有背景噪声小、灵敏度高、价格低廉和电路构成简单的优点。

    多带通液晶可调谐滤波器
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108693583A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810269794.X

    申请日:2018-03-29

    Abstract: 本发明涉及透射通过波长的光的滤光器,包括沿透射方向布置的至少两个滤光器级,通过波长的光沿透射方向被透射穿过滤光器,其中,至少两个滤光器级的每个包括至少一个进入偏振元件和至少一个恒延迟元件。本发明还涉及同时捕获至少两个图像的照相机、多光谱成像系统和应用本发明的滤光器的照明系统。本发明通过包括在工作波长范围上延伸的周期透射特性的至少两个滤光器级的每个改进现有技术的滤光器,其中每个透射特性包括各自与每个其他透射特性的至少一个峰值重叠的至少两个峰值,其中滤光器的整体透射特性包括彼此光谱分离的至少两个光谱通带。本发明的照相机、多光谱成像系统和本发明的照明系统应用根据本发明的滤光器。

    多通道分光光度计以及多通道分光光度计用数据处理方法

    公开(公告)号:CN107250742A

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201580075811.0

    申请日:2015-02-09

    CPC classification number: G01J3/36 G01J3/12 G01J3/28 G01J3/2803 G01J3/42

    Abstract: 本发明的课题在于,在用多个受光元件接收各波长的光的情况下减轻入射到各受光元件的杂散光的影响。本发明所涉及的多通道分光光度计将来自试样的光导入分光元件(16),对通过由该分光元件(16)进行波长色散所得到的波长色散光进行同时检测,该多通道分光光度计具备:多通道型检测器(17),其具备沿所述分光元件(16)的波长色散方向一维状地配置的多个受光元件(PD);光量计算部(221),其根据多个受光元件(PD)的检测信号来计算波长色散光的光量;光谱制作部(222),其根据由该光量计算部(221)计算出的光量来制作表示波长与光量的关系的光谱;以及运算部(224),其根据光谱估计入射到各受光元件(PD)的杂散光的光量,从入射到各受光元件的波长色散光的光量减去该杂散光的光量来校正所述光谱。

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