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公开(公告)号：CN106017684A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610297748.1
申请日：2016-05-04
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种外差光谱仪光栅胶合的装调结构及装调方法，包括有支撑底板、成像转接板、准直转接板和L型待胶合干涉组件，在支撑底板的上下端分别安装成像转接板构成竖直面，在支撑底板的左右端分别安装准直转接板构成水平面，竖直面和水平面组成三垂直面基准组件，所述的L型待胶合干涉组件放置在三垂直面基准组件上。本发明采用二维定位机构实现对待胶合干涉组件角度和塔差精度的传递和继承，采用旋转调节机构和光学件挡块实现光栅组件的初次限位、重复定位和高精度相位误差调节的功能。本发明操作方便，可回复性强，固化区域均匀，可实时监测干涉图相位误差的装调效果。
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公开(公告)号：CN105928619A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610344783.4
申请日：2016-05-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本申请公开了一种拼接光栅拼接误差检测系统及拼接误差校正方法，所述拼接光栅拼接误差检测系统包括：干涉仪、棱镜、第一反射部和第二反射部；所述拼接光栅拼接误差检测系统利用干涉仪和棱镜实现了向所述待检测光栅发送两束不同入射角的入射光线(第二检测光和第三检测光)的目的，这两束入射光线在经过待检测光栅的反射后分别被所述第一反射部和第二反射部反射，并返回所述干涉仪形成第一零级干涉条纹、第二零级干涉条纹和非零级干涉条纹，以为所述待检测光栅的拼接误差校正提供校正数据，进而实现了仅采用干涉检测实现对拼接光栅的拼接误差检测。并且所述拼接光栅拼接误差检测系统的光路设计简单，便于实际操作，简化拼接误差的检测光路。
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公开(公告)号：CN105823558A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610268522.9
申请日：2016-04-27
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明提出一种变间隙法布里?珀罗干涉式长波红外双模光谱成像系统，包括前端成像物镜、变间隙法布里?珀罗干涉仪、中继镜、长波红外探测器和信号处理系统；法布里?珀罗干涉仪由对称楔板和平行平板构成，形成的干涉腔的空气间隙渐变。该干涉仪相较于现有干涉仪，具有直线光路、体积紧凑的优点。搭载平台处于凝视状态时，通过在垂直于光轴方向平移干涉仪，获取视场内目标点在不同相位处干涉信息，对其傅里叶变换得到目标的光谱信息；搭载平台处于推扫模式时，干涉仪垂直于光轴对称放置，整个系统随着搭载平台对目标场景进行推扫，通过重排获取视场内目标点在不同相位处的干涉信息，对其傅里叶变换得到目标的光谱信息。
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公开(公告)号：CN105806482A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610344818.4
申请日：2016-05-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明实施例提供了拼接光栅的拼接误差校正系统及方法，该系统中依据目标第一入射角、目标第二入射角以及第一检测光的波长计算出的预设垂直阈值大于等于预设肉眼分辨值，即增大了对垂直于拼接光栅平面的平移误差调节的周期，且预设垂直阈值是肉眼可见的，所以操作人员能够直观的看出对垂直于拼接光栅平面的平移误差进行调节时是否超出了一个周期，从而控制拼接架调整装置在预设垂直阈值范围内，即一个周期内调节第一光栅和第二光栅，从而能使垂直于拼接光栅平面的平移误差接近于0，进而实现了仅利用干涉仪检测并校正拼接光栅的拼接误差的目的。
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公开(公告)号：CN105683725A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201480058681.5
申请日：2014-10-31
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J3/26
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/0286 , G01J3/45 , G01J5/04 , G01J5/20 , G02B26/001
Abstract: 分光传感器(1A)具备：法布里-珀罗干涉滤波器(10)，设置有使对应于第1镜(31)与第2镜(41)之间的距离而透过的光沿着相对方向(D)通过的开口(50a)；光检测器(3)，具有对通过了开口(50a)的光进行受光的受光部(3a)；配线基板(2)，安装有光检测器(3)；多个隔离物(4)，以与开口(50a)内的第1空间(S1)相连续并且在从相对方向(D)看的情况下包含第1空间(S1)的第2空间(S2)被形成于滤波器(10)与配线基板(2)之间的方式在配线基板(2)上支撑滤波器(10)。光检测器(3)被配置于第2空间(S2)内。受光部(3a)在从相对方向(D)看的情况下配置于第2空间(S2)中对应于第1空间(S1)的区域内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105547479A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201610016589.3
申请日：2016-01-12
Applicant: 天津纳正科技有限公司
Inventor： 蔡元学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明属于光谱仪领域且公开了一种新型光谱仪，包括光谱仪内部、聚焦镜、阵列检测器、光栅、准直镜、光栅接头、入射光线、入射狭缝、干涉仪、光谱仪光学系统、光电传感器、外围处理器、数据采集卡、工控机处理平台、后台处理程序、反馈控制电路、反馈控制镜和折射光线，所述光线经过光栅接头到达准直镜折射到光栅折射到聚焦镜又折射到阵列检测器，所述光谱仪光学系统包括干涉仪和光电传感器，本发明通过改变光谱仪的光源具有了耗能少、重量轻、抗震性强、使用寿命长等特点，利用光焦度衡量像散大小，使得利用柱面镜校正像散时，其位置不受限制，可根据结构的需求任意摆放。成像光谱仪像面倾角的确定方法，实现了宽波段的像差校正。
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公开(公告)号：CN105387935A
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201510938628.0
申请日：2015-12-15
Applicant: 北京雪迪龙科技股份有限公司
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本申请公开了一种干涉装置及包括该干涉装置的光谱仪，该干涉装置包括：壳体；摆臂，所述摆臂通过枢轴可摆动地安装在所述壳体上，且所述摆臂包括固定在一起的第一臂体部和第二臂体部；第一立体角镜和第二立体角镜，所述第一立体角镜设置在所述第一臂体部，所述第二立体角镜设置在所述第二臂体部；分束镜，所述分束镜设置在所述第一立体角镜和第二立体角镜之间，所述分束镜将光线分成第一光束和第二光束，所述第一光束照射在所述第一立体角镜上，所述第二光束照射在所述第二立体角镜上，以使反射回的第一光束和第二光束产生干涉。如此设置本发明提供的干涉装置，其能够解决现有技术中干涉仪的平面镜倾斜无法校正的问题，进而能够避免非准直的问题。
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公开(公告)号：CN103256983B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201310044123.0
申请日：2013-01-25
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种光学装置。在CARS显微镜光学装置中不使向生体物质等观察物体的照射光量增加就能够实现高分辨率和信号噪声比的提高。使来自观察物体(202)的CARS光与超连续谱光的一部分且波长为ωAS＝2ωP-ωST的参照光干涉，通过从干涉光取出信号来使信号放大。
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公开(公告)号：CN103261868B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201180059713.X
申请日：2011-10-18
Applicant: 株式会社藤仓
Inventor： 小川宪介
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01J3/45 , G01M11/331 , G01M11/335 , G01M11/336
Abstract: 波长色散测定装置具有：光分支部，将入射的被测定光信号分离成第1以及第2被测定光信号，在射出时使第1以及第2被测定光信号之间产生频率差；第1以及第2分支路径，具有偏振波保持特性；光移相器，被设置于第1以及第2分支路径的任意一方，使光测定光信号的相位αi周期性地变化；光结合部，对第1以及第2被测定光信号进行叠加，将相位为αi的第i光分量的干涉要素作为叠加波被测定光信号射出；光频率扫描部，扫描使叠加波被测定光信号通过的频率范围，提取频率范围的光谱分量作为分量被测定光信号射出；光检测部，将分量被测定光信号作为干涉信号；和控制部，与光移相器的相位的变化同步地沿时间序列获取与第i光分量对应的干涉信号。
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公开(公告)号：CN104833634A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510303622.6
申请日：2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。
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