非理想途径辐射的红外高光谱遥感仪器非线性校正方法

    公开(公告)号:CN119826977A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202510079486.0

    申请日:2025-01-18

    Abstract: 本发明公开了一种非理想途径辐射的红外高光谱遥感仪器非线性校正方法,针对静止轨道GIIRS在复杂热环境下部分辐射以非理想途径进入探测器,在辐射定标时,基于响应率非线性校正算法,对探测目标原始光谱进行初步校正;在轨运行时,通过两点定标算法,构建线性定标模型,得到探测器的光谱响应率及观测目标的理论辐射光谱;基于非线性校正光谱响应率及观测目标的理论辐射光谱,结合探测目标原始光谱叠加的非理想辐射及两点定标无法校正的固定误差,构建非理想途径抵至探测器的辐射与探测目标原始光谱之间的函数关系,得到非理想途径辐射修正系数,进一步进行非线性校正,消除响应率非线性校正无法修正的非理想辐射误差,提高目标黑体的辐射定标精度。

    光传感器、终端装置以及传感方法

    公开(公告)号:CN119826963A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411109417.1

    申请日:2024-08-13

    Abstract: 本发明提供一种光传感器、终端装置以及传感方法。光传感器包括第一光传感单元以及第二光传感单元。第二光传感单元具有光学元件设置在第二光传感单元的传感区域。第一光传感单元具有第一光波长通过范围,并且第一光波长通过范围包括可见光波段以及红外光波段。光学元件具有第二光波长通过范围,并且第二光波长通过范围包括可见光波段的第一部分以及红外光波段。第二光波长通过范围在可见光波段的第一部分对应于渐进通过区间。本发明的光传感器、终端装置以及传感方法可实现能够反应于人眼的真实感光感受的光传感功能。

    一种光谱模块及光谱仪
    46.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109084896B

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN201810844983.5

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 本发明公开了一种光谱模块,包括座体、狭缝结构、光栅结构、DMD数字微镜结构及光电转换器,狭缝结构、光栅结构、DMD数字微镜结构及光电转换器分别固定于座体,入射光经狭缝结构进入光谱模块,经光栅结构分光后,不同波长的光被分开并依次折射到DMD数字微镜结构,DMD数字微镜结构驱动不同的镜片,将对应波长的光反射至光电转换器上,光电转换器检测入射光中不同波长光的含量,通过上述设计,整个光谱模块结构简单、组装及维修拆卸方便。

    一种光谱系统、设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN119804401A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411750468.2

    申请日:2024-12-02

    Abstract: 本发明涉及一种光谱系统,包括光源,持续发出一定波长的初始光束;载物台,承载被初始光束所照射激发出荧光信号的样品,所述荧光信号形成荧光光束;具有长工作距离的第一物镜,放大荧光光束形成显微光束;第二物镜,放大显微光束形成放大光束;传输光纤,将放大光束耦合进入传输光纤中形成检测光束;分路切换装置,将检测光束分成稳态检测光束和瞬态检测光束,并控制稳态检测光束和瞬态检测光束的输出通道;稳态检测器,接收稳态检测光束并检测得到样品荧光稳态信号;瞬态检测器,接收瞬态检测光束并检测得到样品荧光瞬态信号。采用本发明所述的光谱系统在一个系统中同时检测样品荧光稳态信号和瞬态信号,提高激光利用率和信号收集效率。

    基于光栅分束器干涉仪的超宽二维视场超高光谱分辨率成像光谱仪

    公开(公告)号:CN119803665A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411986297.3

    申请日:2024-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于光栅分束器干涉仪的超宽二维视场超高光谱分辨率成像光谱仪,属于光谱成像技术领域,该成像光谱仪包括:第一微透镜阵列、第二微透镜阵列、光栅分束器干涉仪和探测器,光栅分束器干涉仪包括:第一凹面反射镜、第二凹面反射镜、固定平面镜、移动角反射镜和平面透射光栅;第一微透镜阵列用于通过多根光纤将入射光传输至用于准直的第二微透镜阵列,每列第一微透镜排布在不同竖直面内的圆弧上、每行第一微透镜排布在不同水平面内的圆弧上,可获得二维超宽视场。本发明在光栅分束器干涉仪中使用平面透射光栅,有利于节约成本,使用移动角反射镜作为移动部件,有效消除了扫描过程中动镜倾斜与横移对采样干涉图的影响。

    基于法布里-珀罗干涉仪的窄线宽毫米波太赫兹频谱测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119803664A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411905959.X

    申请日:2024-12-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种基于法布里‑珀罗干涉仪的窄线宽毫米波太赫兹频谱测量装置及方法,包括:法布里‑珀罗干涉仪、太赫兹透镜、功率探测装置和线宽分析装置;待测辐射源的辐射信号经过所述太赫兹透镜和法布里‑珀罗干涉仪后生成聚焦信号;将所述聚焦信号输入至所述功率探测装置,进行辐射信号的频谱分析,将所述聚焦信号输入至所述线宽分析装置进行辐射信号的线宽分析。本发明解决了现有技术中对毫米波和太赫兹波频谱测量功率覆盖范围小、对环境要求高,难以进行高频段辐射的窄线宽测量的问题。

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