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公开(公告)号：CN103261950B
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201180011548.0
申请日：2011-02-23
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 尾内敏彦
CPC classification number: G02F1/3544 , G01J3/0216 , G01J3/42 , G01N21/3586 , G01N21/4795 , G01N2201/06113 , G02F1/0356 , G02F1/377 , G02F1/395 , G02F2001/3546 , G02F2001/374 , G02F2203/13
Abstract: 一种太赫兹波生成元件包括：电光晶体，其包括光学波导；光学耦合构件(7)，其将作为光传播通过所述波导的结果而从所述电光晶体生成的太赫兹波提取到空间；和至少两个电极(6a、6b)，其通过将电场施加于所述波导(4)来引起所述电光晶体(1)中的一阶电光效应，以便改变传播通过所述波导的光的传播状态。所述电光晶体(1)的晶轴被设置为使得通过二阶非线性光学过程生成的太赫兹波和传播通过所述波导(4)的光相位匹配。
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公开(公告)号：CN103329036A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201280005180.1
申请日：2012-01-10
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 尾内敏彦
CPC classification number: G02F1/035 , G01J5/0818 , G01N21/3586 , G02F1/0126 , G02F1/0311 , G02F1/3511 , G02F1/3515 , G02F1/3517 , G02F1/365 , G02F2203/13
Abstract: 一种太赫兹波元件包括波导（2，4，5）以及耦合部件（7），该波导包括电光晶体并且允许光传播通过该波导，并且该耦合部件使得太赫兹波进入波导（2，4，5）。传播通过波导（2，4，5）的光的传播状态随着太赫兹波经由耦合部件（7）进入波导（2，4，5）而改变。
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公开(公告)号：CN102272578B
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN200980153214.X
申请日：2009-12-16
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3563 , G01N21/8806 , G01N21/9505 , G01N2201/103
Abstract: 在检查装置或方法中，可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括：部分9，用于用放射线照射被检体2；部分10，用于检测来自被检体的放射线；获取部分26；存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。
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公开(公告)号：CN101663575B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200880013117.6
申请日：2008-08-27
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/255 , G01N21/29 , G01N21/3563 , G01N2021/3595
Abstract: 用包含30GHz至30THz的频率成分的电磁波照射检查对象，并且获得来自检查对象的透射或反射的电磁波的傅立叶变换图像。所获得的傅立叶变换图像经受空间频率滤波处理。该方法能在使用太赫波的成像操作中仅使要被可视化的部分可视化。
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公开(公告)号：CN101794835B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201010135255.0
申请日：2005-07-28
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01S1/02
CPC classification number: H01L31/08 , G01N21/3581 , H01S1/02
Abstract: 本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
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公开(公告)号：CN102272578A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200980153214.X
申请日：2009-12-16
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3563 , G01N21/8806 , G01N21/9505 , G01N2201/103
Abstract: 在检查装置或方法中，可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括：部分9，用于用放射线照射被检体2；部分10，用于检测来自被检体的放射线；获取部分26；存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。
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公开(公告)号：CN102194914A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110049029.5
申请日：2011-03-02
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 尾内敏彦
CPC classification number: H01L27/1443 , G01J3/42 , H01L31/108
Abstract: 本发明涉及光学元件以及包含它的光学器件和太赫兹时域分光装置。该光学元件包含：具有比光的光子能量大的能量带隙的半导体层；和与半导体层电气接触的多个电极。所述电极中的至少一个形成在该电极和半导体层之间的肖特基结；该肖特基结具有比光的光子能量小的势垒高度。形成肖特基结的电极和半导体层之间的结表面的至少一部分包含：被布置为从半导体层的没有电极的表面用光照射的光照射表面；和被布置为与用光的照射而产生或检测的太赫兹波耦合的耦合结构的一部分。
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公开(公告)号：CN101059454B
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN200710096534.9
申请日：2007-04-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N22/00 , G01N2021/0346 , G01N2021/035
Abstract: 本发明提供了一种用于检测液体对象或样本的信息的检测装置，包括：传输路径、THz波提供单元、THz波检测单元和用于渗入和保持液体对象的渗透保持部件。提供单元将在30GHz到30THz频率范围中的电磁波提供到传输路径中。检测单元检测传输通过传输路径的THz波。渗透保持部件被设置在这样的位置：沿传输路径传播的THz波的电场分布在其至少一部分中延伸。
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