一种吸波材料辐射影响仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN106646035A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611066834.8

    申请日:2016-11-25

    CPC classification number: G01R31/001

    Abstract: 本申请公开了一种吸波材料辐射影响仿真方法和系统,解决现有技术对吸波材料建模计算困难的问题。所述方法包括以下步骤:在所述电磁兼容暗室内建立辐射源和接收天线;在辐射源关于每个铺设有吸波材料的内表面的镜像位置,分别建立一个等效辐射源,等效辐射源的强度为所述辐射源强度与所述吸波材料反射损耗的乘积;在未铺设吸波材料的内表面为良导体、去除铺设有吸波材料内表面、保留等效辐射源的条件下计算所述吸收天线接收到的辐射场强度,作为仿真场强度。本申请实施例还提供一种吸波材料辐射影响仿真系统,用于仿真电磁兼容暗室,所述仿真系统包含:仿真源、仿真接收天线、等效源、良导体板。本申请降低计算资源需求,提高运算效率。

    用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法

    公开(公告)号:CN103605102B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310618504.5

    申请日:2013-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法,包括如下步骤:测量得到参考天线的天线系数;测量得到电磁波信号的功率的第一标准值;测量得到电磁波信号的功率的第一测量值;计算第一标准值与第一测量值的差值得到参考天线与传递天线之间的插入损耗;测量得到电磁波信号的功率的第二标准值;测量得到电磁波信号的功率的第二测量值;计算第二标准值与第二测量值的差值得到待校准天线与传递天线之间的插入损耗;由参考天线的天线系数、参考天线与传递天线之间的插入损耗、以及待校准天线与传递天线之间的插入损耗计算得到待校准天线的天线系数。所述现场校准方法适用于30MHz‑1GHz频段的辐射发射测量天线的校准。

    一种用于RS105测量方法中所使用的传感器上的光学定位装置

    公开(公告)号:CN103542842B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201310522306.9

    申请日:2013-10-29

    Inventor: 刘栋 沈涛 黄建领

    Abstract: 本发明公开了一种用于RS105系统传感器的光学定位装置,包括主体板和水平板;主体板板体上设有三行五列的阵列标记孔,所述标记孔为十五个;同行向相邻两标记孔孔中心之间的距离a1为25厘米,同列向相邻两标记孔孔中心之间的距离d1为50厘米;所述水平板通过合页与所述主体板的底端外侧面转动连接,该水平板的上板面上设有一双向激光器,所述主体板的板体长度L1为1米。本发明能够直接确定传感器的位置,减少了手动测量定位的环节,提高了测试精度的同时也提高了工作效率。

    一种基准定位器
    54.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103115639B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201310028676.7

    申请日:2013-01-25

    Abstract: 一种基准定位器,包括定位连接盘A和定位连接盘B;定位连接盘A和定位连接盘B之间的夹角为90度;所述定位连接盘A下表面固设有磁铁A;所述定位连接盘B下表面固设有磁铁B;所述定位连接盘A和定位连接盘B之间通过弧形连接桥连接;所述定位连接盘A上设有基准边A;所述定位连接盘B上设有基准边B;所述基准边A和基准边B之间的夹角呈90度。本发明可进行基准点及整个测试方位的定位;可为外围测试装置提供定位基准及连接装置;可进行快速定位,提高测试工作效率;成本低,结构简单,携带方便。

    一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN104678339A

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201510072783.9

    申请日:2015-02-11

    Abstract: 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置,该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端,所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架;所述标准微带线,用于传输由微波信号输入端输入的微波信号;所述微波信号输出端,用于输出来自标准微带线的微波信号;所述探针负极触盘采用切角设计;所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点,用于对探针进行定位。本发明所述技术方案,基于电路并联等压原理,可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数,适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准,能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。

    一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置

    公开(公告)号:CN104659487A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201410812485.4

    申请日:2014-12-23

    Abstract: 本发明公开一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置,其该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座;筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒,外套筒水平地固设在支架上,内套筒的一端面上设有底座;横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接,并在接触面设置有相匹配的第一燕尾槽;横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动,横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度;纵导轨座通过直线滚珠丝杠与横导轨座连接,并在接触面设置有相匹配的第二燕尾槽,纵导轨座沿第二燕尾槽滑动,纵导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度并与横导轨座的滑动方向相垂直。该调节装置受重力影响小,调节精度高。

    一种用于全极化雷达散射截面测量的校准装置

    公开(公告)号:CN104569932A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410812458.7

    申请日:2014-12-23

    CPC classification number: G01S7/40 G01S7/026 G01S7/4004

    Abstract: 本发明公开一种用于全极化雷达散射截面测量的校准装置,包括支架和椭圆形直角二面角,支架包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂,安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端;安装平台上设有安装座,二面角支撑臂的一端可转动地设置在安装座内,且二面角支撑臂与所述安装平台平行,椭圆形直角二面角固设在所述二面角支撑臂的另一端;椭圆形直角二面角在横截面的投影为圆形。本发明中的椭圆形直角二面角横截面为圆形,即不同横滚角下椭圆形直角二面角对应雷达散射截面测量系统辐射场的相同部分,具有横滚稳定性;椭圆形直角二面角在横滚角22.5°时其主极化与交叉极化散射场相等,与理想二面角的主极化和交叉极化的定量关系一致。

    一种天线、低噪放及混频器连接机构

    公开(公告)号:CN104466345A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410710494.2

    申请日:2014-11-28

    Abstract: 本发明公开一种天线、低噪放及混频器连接机构,所述连接机构包括天线、波导、低噪放、混频器以及支撑系统,所述天线、低噪放和混频器通过波导依次连接;所述支撑系统的第一前档板和第二前档板通过前挡板支撑梁固接在一起,所述第二前档板和连接法兰通过支撑梁固接在一起;压板卡环固装在支撑梁上,压板卡环的径向设有卡槽,混频器压板卡套在压板卡环的卡槽中;混频器托板与混频器固装在一起,混频器托板的一端与混频器压板垂直固定;第一前挡板和第二前挡板均设有对应的中心孔,转盘穿过第一前挡板的中心孔和第二前挡板的中心孔;所述天线设于第一前挡板的前端,所述波导穿过转盘与低噪放连接,所述波导穿过混频器压板与混频器连接。

    快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统

    公开(公告)号:CN102830293B

    公开(公告)日:2014-11-12

    申请号:CN201210309485.3

    申请日:2012-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统,该方法包括如下步骤:选定矩形校准平面的顶点为测量点;将转轴(2)置于校准平面的中心,通过调节定位装置(4)使得测试杆(3)被限定在校准平面内,通过选择测试杆(3)的长度使得探头(6)能够到达校准平面的各顶点处;在校准平面内转动测试杆(3),使得探头(6)分别位于校准平面的各顶点处,通过探头(6)测量得到校准平面的各顶点处的场强值。所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置,并且支架的位置固定后,也不需要反复调整探头在支架上的具体位置和角度。所述方法及系统的校准过程简便,校准速度快,校准耗时短。

    一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统

    公开(公告)号:CN102830290B

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201210309047.7

    申请日:2012-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统,该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4);支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162);第一探头(3)固定于第一测试杆(141)上,第二探头(4)固定于第二测试杆(142)上,且第一探头(3)和第二探头(4)与示波器(2)电连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低,能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。所述系统的支架既能用于支撑和固定探头,又能用于调节探头的位置和角度。所述系统的支架对探头位置和角度的调节精度高。

Patent Agency Ranking