公开(公告)号：CN103250045A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201180057392.X

申请日：2011-08-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N21/645 ,  G01N2201/065

Abstract: 量子产率测定装置(1A)通过将激发光(L1)照射至用以容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，且检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一者放出的被测定光(L2)，从而测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1A)具有：在内部配置有试料容纳部(3)的暗箱(5)；具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，且产生激发光(L1)的光产生部(6)；具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)的光检测部(9)；具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)、且配置于暗箱(5)内的积分球(14)；及以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使试料容纳部(3)、光出射部(7)及光入射部(11)移动，并在第1状态，使光出射部(7)与光入射开口(15)相对，且使光入射部(11)与光出射开口(16)相对的移动机构(30)。

公开(公告)号：CN102066910A

公开(公告)日：2011-05-18

申请号：CN200980123020.5

申请日：2009-06-10

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01N21/31 ,  G01N21/474 ,  G01N21/51 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、通过入射开口部(21)将激励光供给到积分球(20)的内部的照射光供给部(10)、在积分球(20)的内部保持试料(S)的试料容器(400)、对来自出射开口部(22)的被测定光进行分光并取得波长光谱的分光分析装置(30)、对波长光谱进行数据解析的数据解析装置(50)，从而构成分光测定装置(1A)。数据解析装置(50)具有取得考虑了由试料容器(400)引起的光的吸收的波长光谱的修正数据的修正数据取得部、修正波长光谱并且进行解析从而取得试料信息的试料信息解析部。由此，实现了可以适宜地进行在积分球内被保持于试料容器的试料的分光测定的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

公开(公告)号：CN1432129A

公开(公告)日：2003-07-23

申请号：CN01810677.3

申请日：2001-06-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 渡邉元之 ,  井口和也

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6408

Abstract: 用从激励光源1提供的脉冲式激励光照射样本S，借助聚光系统3和分光镜4通过光测器5检测该样本S生成的荧光，并且使荧光时间波形在控制器6中的数据处理单元62里受到数据分析，从而计算波形数据以及诸如荧光寿命等物理量。其中，相对于数据分析使用的时间轴固定地排列激励光时间波形，在把荧光时间波形和拟合范围从比激励光峰值早的初始位置向较晚的终止位置移动的同时进行多次拟合计算，并且根据一预定的选择准则选择最佳的测量波形数据。这样实现无论荧光时间波形中是否存在波动都可精确并高效计算波形数据等的荧光测量方法和设备，以及实现使用它们的样本评定设备。