LARGE-ANGLE UNIFORM RADIANCE SOURCE
    52.
    发明公开
    LARGE-ANGLE UNIFORM RADIANCE SOURCE 有权
    高光束均匀的射线源

    公开(公告)号:EP2406598A1

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:EP09789507.2

    申请日:2009-03-12

    Abstract: A radiance source (20) includes a housing (40) having an interior wall (42), wherein at least a spherical portion of the interior wall (42) of the housing (40) is spherical, an interior volume (46) and an exit port (48). A light source (82) is disposed within the interior volume (46) of the housing (40). A calibration structure (84) blocks and reflects a light ray that would otherwise travel directly from the light source (82) to the exit port (48) without reflecting from the interior wall (42). The calibration structure (84) has a calibration body (86) having a curved back surface (88) facing the light source (82) and a curved front surface (90) facing the exit port (48). There is an optically diffuse, lambertian reflecting surface (96) on at least the spherical portion of the interior wall (42) of the housing (40), the back surface (88) of the calibration body (86), and the front surface (90) of the calibration body (86).

    Spectrophotometric apparatus
    54.
    发明公开
    Spectrophotometric apparatus 失效
    Spektrophotometer。

    公开(公告)号:EP0511806A2

    公开(公告)日:1992-11-04

    申请号:EP92303769.1

    申请日:1992-04-27

    Applicant: LABSPHERE INC.

    Inventor: Carr, Kevin F.

    CPC classification number: G01J1/04 G01J2001/0481 G01N21/4738

    Abstract: A novel light integrating sphere of a preferably appropriately sintered fluorinated aliphatic long chain addition solid polymer block, hollowed to provide an internal integral diffuse reflectance spherical surface.

    Abstract translation: 优选适当烧结的氟化脂肪族长链加成固体聚合物嵌段的新颖的光积分球,其被中空化以提供内部积分漫反射球面。

    Photometer, insbesondere zur Bestimmung der Schleierleuchtdichte
    55.
    发明公开
    Photometer, insbesondere zur Bestimmung der Schleierleuchtdichte 失效
    光度计,密度计

    公开(公告)号:EP0357555A2

    公开(公告)日:1990-03-07

    申请号:EP89810627.3

    申请日:1989-08-23

    Inventor: Blaser, Peter

    CPC classification number: G01J1/06 G01J1/42 G01J2001/0481

    Abstract: Photometer zur Bestimmung der Schleierleuchtdichte mit einer Abbildungsoptik (1), einer rotierenden einen lichtdurchlässi­gen Bereich (19) aufweisenden Scheibe (3), einer Ulbrichtschen Kugel (9) und einem phototelektrischen Empfänger (17) inner­halb der Ulbrichtschen Kugel (9). Die entlang konzentrischer Kreise verlaufende Abmessung ß des lichtdurchlässigen Bereichs (19) ist nach der Formel bemessen, worin δ der Winkel ist, unter dem die Radien zur ge­ometrischen Drehachse (2) der Scheibe (3) konzentrischer Krei­se vom bildseitigen Hauptpunkt des Abbildungsoptiks (1) aus erscheinen, f s die von δ abhängige Streufunktion des Auges, τopt die optische Transmission des Abbildungsoptiks (1) unter dem Winkel δ und C eine Eichkonstante ist. Mit dem Photometer kann die Schleierleuchtdichte z. B. vor einer Tunneleinfahrt laufend gemessen und deren Beleuchtung danach geregelt werden.

    Abstract translation: 用于测量釉光强度的光度计,具有在Ulbricht球体内具有光学透明区域(19),Ulbricht球(9)和光电接收器(17)的光学成像系统(1),旋转盘(3) (9)。 光学透明区域(19)沿着同心圆延伸的尺寸β由公式“IMAGE”给出,其中delta是与盘(3)的旋转(2)的几何旋转轴线(2)的半径的角度 同轴圆从光学成像系统(1)的图像侧主点出现,fs是依赖于Δ的眼睛散射函数,τopt是光学成像系统(1)在角度δ ,C为校准常数。 使用光度计,可以逐渐地测量釉光强度,例如在隧道入口前面,然后调节其照明。

    Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
    56.
    发明公开
    Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens 失效
    用于确定辐射波长和单色光源的波长校正的辐射功率,以及用于执行该方法的方法。

    公开(公告)号:EP0174496A2

    公开(公告)日:1986-03-19

    申请号:EP85109907.7

    申请日:1985-08-07

    CPC classification number: G01J9/00 G01J1/04 G01J1/0425 G01J2001/0481

    Abstract: Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
    Es wird ein schnelles und unaufwendiges optoelektronisches Meßverfahren zur Bestimmung der Wellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Leistung monochromatischer Lichtquellen angegeben. Die Photodetektoren (1, 2) unterschiedlicher spektraler Gesamtempfindlichkeit werden mittels einer Beaufschlagungsvorrichtung (B) mit dem Strahlungsfluß der zu messenden Lichtquelle beaufschlagt und die dabei entstehenden Signale (11, 12) über eine Meßwerterfassungs- und verarbeitungseinheit (3) der Recheneinheit (4) zugeführt. Aus den Signalen (11,12) wird in (4) eine wellenlängenspezifische Größe abgeleitet, die mit den in der Speichereinheit (6) nach einer einmaligen Kalibrierung vorhandenen wellenlängenspezifischen Daten verglichen wird. Dadurch kann die aktuelle Wellenlänge der zu messenden Lichtquelle bestimmt, mit einer Anzeigeeinheit (7) angezeigt oder mit einer Datenschnittstelle ausgegeben werden. Mit Kenntnis der aktuellen Wellenlänge kann in (6) ein wellenlängenspezifischer Korrekturfaktor abgefragt und in (4) eine wellenlängenkorrigierte Leistung errechnet werden. Zur Beaufschlagung der Photodetektoren (1, 2) können Strahlungsteiler. Lichtwellenleiter mit entsprechenden Verbindungsstücken oder Ulbricht-Kugeln dienen.

    Abstract translation: 在这种快速和廉价的光电测量过程中,光源的辐射通量进行测量由应用装置(B)到光电探测器来施加(1,2)不同的总光谱灵敏度,并且信号的(I1, I2)在此过程中产生的经由测量值采集和处理单元提供到计算单元(4)(3)。 从信号(I1,I2),特定波长量导出(4)中,所有这一切都与单个校准之后存在于存储器单元(6)的特定波长数据进行比较。 这使得可以以确定性矿要测量的光源的波长的电流,(7)或以将其输出通过一个数据接口装置显示由显示单元的手段该波长。 具有当前波长的知识,一个特定的波长的校正因子可以以(6)被询问和波长校正的功率可以在(4)来计算。 光束分频器,具有适当的适配器或积分球光学纤维可用于施加光到光电检测器(1,2)。 ... ...

    SYSTEM AND METHOD FOR OPTICAL MEASUREMENTS ON A TRANSPARENT SHEET

    公开(公告)号:EP3387413A1

    公开(公告)日:2018-10-17

    申请号:EP16819473.6

    申请日:2016-12-12

    Abstract: The invention relates to a system for measuring light transmission and/or light reflection properties of a transparent sample sheet, the system comprising a detection assembly and a control unit, wherein the detection assembly comprises an integrating sphere having a sample port, an illumination port, a detection port, an internal light source positioned at the illumination port, and a photodetector coupled to a spectrometer and positioned at the detection port; means to detect radiation coming either directly from the sample port or from the wall of the integrating sphere; an external light source axially aligned with the sample port; means to illuminate with the internal light source or with the external light source; a reference standard, and means to position it at and from the sample port. This system is relatively compact, and can advantageously be used at existing sheet production lines for process and quality control. The invention also relates to a method for measuring light transmission and/or light reflection properties of a transparent sample sheet that applies said system; and to processes of making a sheet, especially an AR-coated glass sheet, comprising said method.

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