公开(公告)号：KR101661110B1

公开(公告)日：2016-09-29

申请号：KR1020127010115

申请日：2010-09-21

Applicant: 보로텍 리미티드

Inventor： 보로비트치크슬로모

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01C17/34 ,  G01C21/02 ,  G01J2004/005

Abstract: 각각의셀이제1 편광방향을가진제1 편광필터, 및제1 편광방향과상이한제2 편광방향을가진제2 편광필터를포함하는, 하나의어레이의편광필터셀; 편광필터어레이상으로광을지향시키기위한광학시스템; 및각각제1 및제2 편광필터를통해수신된광으로부터데이터를산출하기위한제1 및제2 광센서를포함하는장치가개시된다. 또한, 각각의셀이제1 편광방향을가진제1 편광필터, 및제1 편광방향과상이한제2 편광방향을가진제2 편광필터를포함하는, 하나의어레이의편광필터셀 상으로광을지향시키는단계; 제1 및제2 편광필터를통해제1 및제2 광센서각각에의해수신된광으로부터데이터를산출하는단계; 및그 데이터를기초로편광패턴을도출하는단계를포함하는방법이개시된다.

Abstract translation: 偏振滤光单元阵列，每个单元包括：具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有不同于第一偏振方向的第二偏振方向的第二偏振滤光器; 一种用于将光引导到偏振滤波器阵列之外的光学系统; 以及第一和第二光学传感器，用于分别从通过第一和第二偏振滤光器接收的光产生数据。 将光引导到偏振滤光器单元的阵列上，每个单元包括现在具有第一偏振方向的第一偏振滤光器和具有不同于第一偏振方向的第二偏振方向的第二偏振滤光器 。 计算来自第一和第二光传感器中的每一个通过第一和第二偏振滤光器接收的光的数据; 并根据数据推导出偏振模式。

公开(公告)号：TW201602551A

公开(公告)日：2016-01-16

申请号：TW104116555

申请日：2015-05-22

Applicant: 新力股份有限公司 ,  SONY CORPORATION

Inventor： 小澤謙 ,  OZAWA, KEN

IPC: G01N21/41 ,  G01N33/49

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/4531 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/005 ,  G01N2021/3595

Abstract: 本發明提供一種成像裝置及方法。來自一物件之光係作為複數個光束組提供至具有複數個元件之一相位差陣列。該相位差陣列經組態以為包含於複數個光束組中之至少某些光束組內之光提供不同光學路徑。在一成像元件陣列處接收來自該相位差陣列之該光。該成像元件陣列包含複數個成像元件。可顯示基於該成像元件陣列之輸出信號而自高光譜成像資料獲得之資訊。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种成像设备及方法。来自一对象之光系作为复数个光束组提供至具有复数个组件之一相位差数组。该相位差数组经组态以为包含于复数个光束组中之至少某些光束组内之光提供不同光学路径。在一成像组件数组处接收来自该相位差数组之该光。该成像组件数组包含复数个成像组件。可显示基于该成像组件数组之输出信号而自高光谱成像数据获得之信息。

公开(公告)号：TW201546433A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：TW104116148

申请日：2015-05-20

Applicant: 康寧公司 ,  CORNING INCORPORATED

Inventor： 李瀋平 ,  LI, SHENPING ,  路瑟夫羅斯提斯拉夫費契夫 ,  ROUSSEV, ROSTISLAV VATCHEV

IPC: G01M11/02 ,  G01N21/25 ,  G02B6/34

CPC classification number: G01M11/3181 ,  G01B11/22 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/005 ,  G01L1/24 ,  G01N21/23 ,  G01N21/41 ,  G01N21/8422 ,  G01N2021/4126 ,  G02B5/04

Abstract: 揭示稜鏡耦合系統及用於對層深度大的波導件標定特徵之方法。該系統和方法利用具有耦合角α的耦合稜鏡，耦合角α在全內反射發生時具有最大耦合角αmax。稜鏡角α在0.81αmaxα0.99αmax的範圍中。這種結構導致更間隔開的低階模線移動到更靠近在一起及更緊密間隔的高階模線分開。調整過的模線間距允許在檢測器對其他緊密間隔的模線適當取樣。然後檢測到的模譜之模線間距經由後處理被校正。然後校正過的模譜被處理以得到該波導件之至少一個特徵。

Abstract in simplified Chinese: 揭示棱镜耦合系统及用于对层深度大的波导件标定特征之方法。该系统和方法利用具有耦合角α的耦合棱镜，耦合角α在全内反射发生时具有最大耦合角αmax。棱镜角α在0.81αmaxα0.99αmax的范围中。这种结构导致更间隔开的低级模线移动到更靠近在一起及更紧密间隔的高级模线分开。调整过的模线间距允许在检测器对其他紧密间隔的模线适当采样。然后检测到的模谱之模线间距经由后处理被校正。然后校正过的模谱被处理以得到该波导件之至少一个特征。