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公开(公告)号:CN102292644A
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN201080005049.6
申请日:2010-03-01
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N35/025 , G01N21/253 , G01N21/272 , G01N21/274 , G01N2201/127 , Y10T436/113332 , Y10T436/114998
Abstract: 本发明涉及样本分析装置,为缩短测量时间,而考虑加快反应和在短时间内进行判断的方法,但在现有的装置中典型地是约15秒一次左右的测光因而不能确保一定的再现性。即,测量时间缩短和再现性确保不能并存。因此,期望增大在短时间内的测量次数。在将样本和试剂混合后到结束测量期间,使槽盘动作以便在进行测光的测光位置停止,在其停止中进行一次或多次测光,增大测量次数。
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公开(公告)号:CN1038166A
公开(公告)日:1989-12-20
申请号:CN89103346.7
申请日:1989-05-18
Inventor: 沃尔特·法宾斯基 , 格奥尔格·陶比菲 , 约阿希姆·霍斯弗·沃尔夫兰姆斯多尔夫
CPC classification number: G01N21/37 , G01N21/61 , G01N2201/127 , G01N2201/1285
Abstract: 本发明公开了一种非色散型红外光度计校准装置,它是一个由成对地布置在一个公共支座上的、四个同样的单个气室所构成的系统,在测量阶段一对成对布置的充有不影响辐射的惰性气体的气室处于光路中,另一个成对的气室布置与第一对结构完全相同,在校准阶段进入光路中。
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公开(公告)号:CN109632687A
公开(公告)日:2019-04-16
申请号:CN201910080833.6
申请日:2019-01-28
Applicant: 国网重庆市电力公司电力科学研究院 , 国网重庆市电力公司 , 国家电网有限公司
IPC: G01N21/3504
CPC classification number: G01N21/3504 , G01N2201/127 , G01N2201/1296
Abstract: 本申请公开了一种四氟化碳气体浓度检测校正方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:通过双光路检测系统利用双波长红外差分检测法测量出不同温度下的四氟化碳气体浓度值;将测量出的四氟化碳气体浓度值和对应的温度值输入至RBF神经网络进行训练;将对测试样本测量所得的四氟化碳气体浓度值输入至训练好的RBF神经网络进行测试并开展反演计算,得到校正后的四氟化碳气体实际浓度值。本申请利用四氟化碳对红外光谱的吸收特性来检测出四氟化碳气体浓度,不受测试环境的影响,具有良好的灵敏度、可靠性、稳定性、使用寿命长等特点,并且经训练好的RBF神经网络的测试及反演计算,可以对双光路检测系统进行温度校正,获取准确的实际浓度值。
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公开(公告)号:CN108827889A
公开(公告)日:2018-11-16
申请号:CN201810608284.0
申请日:2018-06-13
Applicant: 江西中医药大学
IPC: G01N21/31
CPC classification number: G01N21/31 , G01N2201/127
Abstract: 本发明公开了一种基于光学特性的胶类材料鉴别方法,系统由电源、光机和信号处理机三部分组成。采用多模硅光二极管阵列传感器的双光路滤镜式测量方案;信号处理机采用基于低功耗高性能微处理器的计算/人机接口方案;电源部分采用开关式电源以及电源管理方案。整机设计选型着重考虑中药片剂颜色检测仪的小型化、低功耗和高精度。
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公开(公告)号:CN108375558A
公开(公告)日:2018-08-07
申请号:CN201810087909.3
申请日:2018-01-29
Applicant: 安捷伦科技有限公司
Inventor: A·C·尼尔森
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N33/497 , B01D63/088 , B01D69/10 , B01D2313/56 , B01L3/50255 , B01L2200/0694 , B01L2200/143 , B01L2200/148 , B01L2300/0618 , B01L2300/0663 , B01L2300/0681 , B01L2300/0829 , B01L2300/0851 , B01L2300/16 , B01L2400/0478 , G01N2033/4977 , G01N21/6428 , G01N21/6486 , G01N2021/6432 , G01N2201/127
Abstract: 一种用于校准通量分析仪的装置,包括第一框架、第二框架、以及渗透膜。所述第一框架与所述第二框架相互连接或一体形成。提供了一种用于校准通量分析仪的方法,所述方法使用人工标准品而不是生物标准品。
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公开(公告)号:CN104937401B
公开(公告)日:2018-03-09
申请号:CN201380054608.6
申请日:2013-10-17
Applicant: 生物辐射实验室股份有限公司
IPC: G01N27/26 , G01N27/447 , G06K9/36
CPC classification number: G01N21/63 , G01N21/6452 , G01N27/44726 , G01N2021/6484 , G01N2201/0833 , G01N2201/10 , G01N2201/103 , G01N2201/127 , H04N5/2624 , H04N5/349 , H04N5/3572 , H04N5/361
Abstract: 通过形成整个阵列的子图像且通过基于计算机的拼接技术将所述子图像拼接在一起,或者通过利用与分析物阵列同延的薄膜光敏元件阵列形成阵列的单幅图像,对诸如电泳后厚板型凝胶中的溶质的分析物阵列并且尤其是超过3cm2且直到25cm2和更高的分析物阵列以5cm或更小的距离进行成像。
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公开(公告)号:CN107771279A
公开(公告)日:2018-03-06
申请号:CN201680036322.9
申请日:2016-07-01
Applicant: 艺康美国股份有限公司
CPC classification number: G01N33/1853 , C09B11/24 , C09B67/0083 , G01N21/274 , G01N21/278 , G01N21/6428 , G01N21/643 , G01N21/645 , G01N33/1813 , G01N2201/127
Abstract: 公开可用于自动校准能够连续测量在工艺水中硬度的浓度的荧光测量仪的方法。所述校准方法用于补偿仪器和设备的偏移、操作条件的改变和试剂和校准标准物的污染。使用本发明校准方法校准所述荧光测量仪改进用于后续硬度浓度测量的精确性和可重复性两者。
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公开(公告)号:CN107727655A
公开(公告)日:2018-02-23
申请号:CN201711188146.3
申请日:2017-11-24
Applicant: 苏州精濑光电有限公司
CPC classification number: G01N21/84 , G01N21/01 , G01N2201/127
Abstract: 本发明涉及光学光源的校正技术领域,具体地指一种快速光学校正装置。用于光学检测设备的光学校正,包括载台,其特征在于:所述的载台上开设有沿多颗CCD相机排列方向布置的滑槽;所述的滑槽内放置有可沿滑槽长度方向滑动的校正板;所述的校正板上设置有用于调整CCD相机角度和高度的第一标示。本发明的调节装置结构简单,校正方便、快速,能够精确调整CCD相机和光源是两者精确配合,提高了面板检测的效率,降低了面板漏检和错检的概率,且校正方式极为简单,具有极大的推广价值。
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公开(公告)号:CN107223208A
公开(公告)日:2017-09-29
申请号:CN201580075780.9
申请日:2015-12-08
Applicant: 伯克利照明有限公司
CPC classification number: G06T7/0012 , B01L3/502761 , G01N15/1434 , G01N15/1463 , G01N15/1475 , G01N15/1484 , G01N21/6456 , G01N27/453 , G01N2015/0038 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2015/1445 , G01N2015/1486 , G01N2015/1493 , G01N2015/1497 , G01N2021/056 , G01N2021/1765 , G01N2201/0635 , G01N2201/127 , G06T5/50 , G06T2207/30024 , G06T2207/30101
Abstract: 提供了用于在微流体装置中自动检测微物体的方法。此外,提供了用于在微流体装置中重新定位微物体的方法。此外,提供了用于分离微流体装置的空间区域中的微物体的方法。
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公开(公告)号:CN104969058B
公开(公告)日:2017-08-08
申请号:CN201380072189.9
申请日:2013-12-04
Applicant: SP3H公司
IPC: G01N21/3577 , G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3577 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/3181 , G01N2201/062 , G01N2201/0624 , G01N2201/121 , G01N2201/1211 , G01N2201/124 , G01N2201/1242 , G01N2201/1247 , G01N2201/127 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法,所述光谱仪包括包含多个发光二极管(LD1‑LD4)的光源(LS),所述发光二极管(LD1‑LD4)具有结合分析波长带的相应发射光谱覆盖,所述方法包括以下步骤:向所述发光二极管中的至少一个提供供电电流(I1‑I4)以使其发光;通过测量所述发光二极管中保持未发光的至少另一个发光二极管的端子处的电流来测量所述光源发出的发光强度(LFL1‑LFL4);根据每个发光强度测量,确定发光的每个二极管的所述供电电流的设定点值(LC1‑LC4);以及调节发光的每个二极管的所述供电电流,使得所述供电电流与所述设定点值对应。
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