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51.发明授权Ion source for compact mass spectrometer and method of mass analyzing a sample 失效用于紧凑型质谱仪的离子源和质量分析样品的方法
公开(公告)号：US5659170A
公开(公告)日：1997-08-19
申请号：US357510
申请日：1994-12-16
Applicant: Enio Frota Da Silveira , Kevin Bernard Ray , Emile Alfred Schweikert , Melvin Andrew Park
CPC classification number: H01J49/147 , H01J49/08 , H01J49/40
Abstract: A mass spectrometer 20 includes an electron multiplier 30 for producing an electron avalanche 58 directed toward an ionization region 38. A sample 40 enters the ionization region 38 through a sample inlet 68. In the ionization region 38 the electron avalanche 58 collides with the sample 40 and produces ions 60. A start detector 56 detects the electron avalanche 58 and provides a start signal. The ions 60 exit the ionization region 38 and enter a flight region 26. The ions 60 flow through the flight region 26 and interact with a stop detector 42. The stop detector 42 generates a stop signal in response to being activated. A low pressure enclosure 22 encloses at least the electron multiplier 30 and the ionization region 38. The start and stop signals are supplied to an analysis system for determining the mass of the sample using time-of-flight mass spectrometry.
Abstract translation: 质谱仪20包括用于产生朝向电离区域38的电子雪崩58的电子倍增器30.样品40通过样品入口68进入电离区域38.在电离区域38中，电子雪崩58与样品40碰撞 并产生离子60.启动检测器56检测电子雪崩58并提供启动信号。 离子60离开电离区域38并进入飞行区域26.离子60流过飞行区域26并与停止检测器42相互作用。停止检测器42响应于被激活而产生停止信号。 低压外壳22至少包围电子倍增器30和电离区38.启动和停止信号被提供给用于使用飞行时间质谱法确定样品质量的分析系统。
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公开(公告)号：US5477046A
公开(公告)日：1995-12-19
申请号：US427326
申请日：1995-04-24
Applicant: Daniel D. Dietrich , Robert F. Keville
Inventor： Daniel D. Dietrich , Robert F. Keville
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/0013 , H01J49/38
Abstract: An ion trap which operates in the regime between research ion traps which can detect ions with a mass resolution of better than 1:10.sup.9 and commercial mass spectrometers requiring 10.sup.4 ions with resolutions of a few hundred. The power consumption is kept to a minimum by the use of permanent magnets and a novel electron gun design. By Fourier analyzing the ion cyclotron resonance signals induced in the trap electrodes, a complete mass spectra in a single combined structure can be detected. An attribute of the ion trap mass spectrometer is that overall system size is drastically reduced due to combining a unique electron source and mass analyzer/detector in a single device. This enables portable low power mass spectrometers for the detection of environmental pollutants or illicit substances, as well as sensors for on board diagnostics to monitor engine performance or for active feedback in any process involving exhausting waste products.
Abstract translation: 离子阱可以在能够以大于1：109的质量分辨率检测离子的研究离子阱之间进行操作，并且需要具有几百分辨率的104个离子的商用质谱仪。 通过使用永磁体和新颖的电子枪设计将功耗保持在最低限度。 通过傅里叶分析在陷阱电极中诱导的离子回旋共振信号，可以检测单个组合结构中的完整质谱。 离子阱质谱仪的属性是由于在单个器件中组合独特的电子源和质量分析仪/检测器，因此整体系统尺寸大大降低。 这使得便携式低功率质谱仪能够检测环境污染物质或非法物质，以及用于车载诊断的传感器来监控发动机性能，或者在任何涉及排放废物的过程中进行主动反馈。
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公开(公告)号：US5451781A
公开(公告)日：1995-09-19
申请号：US330766
申请日：1994-10-28
Applicant: Daniel D. Dietrich , Robert F. Keville
Inventor： Daniel D. Dietrich , Robert F. Keville
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/0013 , H01J49/38
Abstract: An ion trap which operates in the regime between research ion traps which can detect ions with a mass resolution of better than 1:10.sup.9 and commercial mass spectrometers requiring 10.sup.4 ions with resolutions of a few hundred. The power consumption is kept to a minimum by the use of permanent magnets and a novel electron gun design. By Fourier analyzing the ion cyclotron resonance signals induced in the trap electrodes, a complete mass spectra in a single combined structure can be detected. An attribute of the ion trap mass spectrometer is that overall system size is drastically reduced due to combining a unique electron source and mass analyzer/detector in a single device. This enables portable low power mass spectrometers for the detection of environmental pollutants or illicit substances, as well as sensors for on board diagnostics to monitor engine performance or for active feedback in any process involving exhausting waste products.
Abstract translation: 离子阱可以在能够以大于1：109的质量分辨率检测离子的研究离子阱之间进行操作，并且需要具有几百分辨率的104个离子的商用质谱仪。 通过使用永磁体和新颖的电子枪设计将功耗保持在最低限度。 通过傅里叶分析在陷阱电极中诱导的离子回旋共振信号，可以检测单个组合结构中的完整质谱。 离子阱质谱仪的属性是由于在单个器件中组合独特的电子源和质量分析仪/检测器，因此整体系统尺寸大大降低。 这使得便携式低功率质谱仪能够检测环境污染物质或非法物质，以及用于车载诊断的传感器来监控发动机性能，或者在任何涉及排放废物的过程中进行主动反馈。
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54.发明授权
公开(公告)号：US4680467A
公开(公告)日：1987-07-14
申请号：US849478
申请日：1986-04-08
Applicant: Charles E. Bryson, III , Douglas L. Jones
Inventor： Charles E. Bryson, III , Douglas L. Jones
IPC: G01N23/227 , G01Q30/02 , H01J49/08 , H01J49/48
CPC classification number: H01J49/48 , G01N23/227 , H01J49/08
Abstract: An electron spectroscopy system is disclosed which is specially suited for chemical analysis of electrically isolated specimens. X-rays or other ionizing radiation is focused to a relatively small spot on the surface of the electrically isolated sample to be analyzed. An electron energy analyzer has its input optics focused such that the input field of view of the electron energy analyzer is coincident with the beam spot produced by the focused beam of ionizing radiation on the specimen so as to capture secondary photoelectrons emitted from the surface of the sample under analysis. The energies of the secondary photoelectrons are analyzed to obtain a spectrum of the constituents of the surface of the sample under analysis. A flood beam of relatively low energy electrons is directed onto the surface of the sample for neutralizing the positive surface charge in the region of the beam spot. An electrically conductive grid is positioned in closely spaced relationship to the surface of the sample for smoothing the gradients in the electrical potential in the region of the beam spot, thereby improving the resolution of the secondary photoelectron energy spectrum obtained from the sample under analysis.
Abstract translation: 公开了一种特别适用于电隔离样品化学分析的电子能谱系统。 X射线或其他电离辐射被聚焦到要分析的电隔离样品的表面上的相对小的斑点。 电子能量分析仪的输入光学器件被聚焦，使得电子能量分析仪的输入视场与由样品上的聚焦电离辐射束产生的束斑重合，以便捕获从样品表面发射的第二光电子 分析样本。 分析次级光电子的能量，得到分析样品表面成分的光谱。 相对较低能量的电子的泛光束被引导到样品的表面上，以中和束斑区域中的正表面电荷。 导电栅格被定位成与样品表面紧密间隔的关系，用于平滑束斑区域中的电位梯度，从而提高从分析中得到的样品获得的次级光电子能谱的分辨率。
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公开(公告)号：JP2018517241A
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：JP2017555624
申请日：2016-04-20
Applicant: ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド
Inventor： ヘイガー, ジェイムズ ウォルター
CPC classification number: H01J49/38 , H01J49/08 , H01J49/4205
Abstract: 四重極が、イオンで充填され、イオンは、圧力およびガス流動を四重極内で印加することによって冷却される。イオンは、DC電圧およびRF電圧を四重極の四重極ロッドに、1つまたはそれを上回るDC電圧を四重極の複数の補助電極に、かつDC電圧およびRF電圧を四重極の端部における出射レンズに印加することによって、四重極内にトラップされる。イオンは、コヒーレント励起を四重極ロッドのうちの少なくとも2つのロッド間に印加することによって、充填および冷却後、コヒーレントに発振される。コヒーレントに発振するイオンは、複数の補助電極の1つまたはそれを上回るDC電圧のうちの1つまたはそれを上回る電圧を変化させ、出射レンズのDC電圧を変化させることによって、出射レンズを通して検出のための破壊的検出器に軸方向に吐出される。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2017525095A
公开(公告)日：2017-08-31
申请号：JP2016575356
申请日：2015-12-04
Applicant: コリア ベーシック サイエンス インスティチュート , コリア ベーシック サイエンス インスティチュート
Inventor： モ ヤン、 , モ ヤン、 , スン ヨン キム、 , スン ヨン キム、 , ヒョン シク キム、 , ヒョン シク キム、 , ワン ソプ チョン、 , ワン ソプ チョン、
CPC classification number: H01J49/40 , H01J43/10 , H01J49/08 , H01J49/142
Abstract: 飛行時間質量分析計は、電子ビームを受容してイオンを放出するイオン化部と、イオン化部に前記電子ビームを注入する冷電子供給部と、イオン化部から放出されたイオンを感知するイオン検出部と、イオン化部と前記イオン検出部を連結するイオン分離部と、を含むが、冷電子供給部は紫外線を受容して電子ビームを放出するマイクロチャネルプレート(Microchannel Plate)を含み、イオン化部から放出されたイオンはイオン分離部を通過してイオン検出部に到達し、イオン分離部は直管(straigt tube)状である。
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公开(公告)号：JP2005502067A
公开(公告)日：2005-01-20
申请号：JP2003527764
申请日：2002-09-10
Applicant: ヴァリアン オーストラリア ピーティーワイ.エルティーディー.
Inventor： KALINITCHENKO IOURI
CPC classification number: H01J49/08
Abstract: 【課題】多原子および二重荷電イオン干渉を減衰させる質量分析計および質量分析方法を提供する。
【解決方法】電子母集団を形成して、元素試料イオンと干渉イオンとを含む粒子ビームを前記電子母集団に通過させて干渉イオンが優先的にイオン−電子再結合とそれによる解離とを行うようにし、それによって多数の干渉イオンを除去する。 ＩＣＰ−ＭＳ２２に電子母集団３４，３６を提供する手段３０，３２は、電気コイルのような磁界手段または電子発生装置である。 電子母集団は、電子数密度（＞１０
11 ｃｍ―
3 〜１０
14 ｃｍ―
3 ）、低圧（＜１０Ｔｏｒｒ）の領域における遊離電子エネルギー（＞０．０１ｅＶ〜＜５ｅＶ）を有しており、電子母集団を通過するイオンの通路長さが所定の長さ（１〜４ｃｍ）の場合、解離再結合プロセスにより干渉イオンは優先的に減衰される。
【選択図】図２Abstract translation: 通过建立电子群减少多原子和双电荷离子干扰的质谱仪和质谱法，通过该质谱仪将含有元素样品离子和干扰离子的粒子束通过，使得干扰离子优先进行离子电子重组 并因此解离以除去大量的干扰离子。 用于在ICP-MS（22）中提供电子群体（34或36）的装置（30或32）可以包括诸如电线圈或电子产生装置的磁场装置。 电子群体具有电子数密度（> 10×10 -3 cm -3至10 14 cm -3 -3 / ），在低压（<10Torr）的区域中的自由电子能量（> 0.01eV至<5eV），使得通过电子群体的离子的预定路径长度（1-4cm）， 干扰离子将优先通过解离复合过程减弱。 离子束（40）然后通过质量分析器（42），并且通过离子检测器（44）检测已经根据其质荷比分离的离子。
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公开(公告)号：JP4958258B2
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：JP2006073916
申请日：2006-03-17
Applicant: 株式会社リガク , 浜松ホトニクス株式会社
CPC classification number: G01N27/64 , H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/162
Abstract: A plurality of molecular components contained in a gas are to be ionized together at the same time by the PI method. For example, a plurality of molecular components contained in a gas generated at a certain instant are accurately analyzed in real-time based on the PI method. A gas analyzer includes a gas conveyor 4 that conveys a gas generated from a sample S in a sample chamber R0 to an analysis chamber R1, an ionizer 19 that ionizes the gas, a quadrupole filter 21 that separates ions for each mass-to-charge ratio, and an ion detector 22 that detects the separated ions. The ionizer 19 has an ionizing region provided near a gas outlet of the gas conveyor 4 and a lamp 33A that applies light to the ionizing region. Since the lamp 33A emits light having an light directivity lower than that of laser light and traveling in a spreading manner, the gas having entered the ionizing region in the ionizer 19 receives light irradiation in a wide range, and a plurality of gas components therein are ionized.
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公开(公告)号：JP2010501986A
公开(公告)日：2010-01-21
申请号：JP2009525884
申请日：2007-07-27
Applicant: インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Inventor： ナップ，ボルフラム , ブエスト，マーティン
CPC classification number: H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/16
Abstract: 本発明は、電子（２１）を放出するための陰極装置（６）と、中性粒子（２０）の供給用の入口（１４）と接続しており、中性粒子（２０）のイオン化のために陰極装置（６）と作動接続している反応帯（３）と、反応帯（３）の作動領域と連通するように配置されているイオン抽出構造（４）と、検出システム（１２）へイオン（２２）を案内するための手段と、質量分析装置を真空にするための手段とを含む質量分析装置に関する。 ここでは陰極装置（６）はエミッタ面（７）を有する電解放出陰極を含み、このエミッタ面（７）とわずかに間隔をあけて電子の抽出のための抽出グリッド（９）が配置されており、これはエミッタ面（７）を実質的に覆っている。 エミッタ面（７）は、管状の構造が構成されるように、少なくとも部分的に中空部（１３）を取り囲んでいる。
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公开(公告)号：JP4164027B2
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：JP2003527764
申请日：2002-09-10
Applicant: ヴァリアン オーストラリア ピーティーワイ.エルティーディー.
Inventor： KALINITCHENKO IOURI
CPC classification number: H01J49/08
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