辐射测量设备、辐射控制系统及辐射测量方法

    公开(公告)号:CN101023329B

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200580031127.9

    申请日:2005-09-06

    Inventor: C.J.默滕斯

    Abstract: 本发明提供一种用于测量辐射的设备,以及用于使用该设备进行测量的方法,还有使用该设备的可控照明系统。该设备(1’)具有带有传感器(5,5’)、辐射进入开口(4’)的侧壁(2)和可选的顶壁(9)及底部帽(10)。传感器仅仅对在例如环(12a-12b)的反射区域处反射的间接辐射敏感。该设备对灰尘沉积不敏感,因为大多数灰尘被侧壁(2)阻挡,同时任意其它灰尘将通过传感器表面和平行于此的空气流上的反射区域,没有任何灰尘或污物的沉积。因此,传感器将给出更可靠的测量,即使在多尘环境中。该方法包括相对于将被测量的光线和可能的空气流定向该设备。该可控照明系统包括使用该设备测量亮度级,以及具有基于这些测量值控制一盏或多盏灯的控制单元。

    荧光计
    66.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1902475B

    公开(公告)日:2010-11-10

    申请号:CN200480038756.X

    申请日:2004-12-20

    Abstract: 在用于在样品表面处产生和检测荧光的设备中,该设备高于该样品表面的高度减小,并且由于反射损耗和光散射而导致的所发射的荧光的损耗被最小化。该设备包括三维弯曲的光反射表面(40),其横向于来自光源(32)的光的原始路径而引导该光,并且将该光聚焦到该样品表面处或该样品表面下的照明区(30)。该反射表面(40)还横向于所发射的荧光的原始路径并朝向检测器(46)收集、引导并至少部分地准直该荧光。

    显示装置以及具备显示装置的电子机器

    公开(公告)号:CN101859508A

    公开(公告)日:2010-10-13

    申请号:CN201010143502.1

    申请日:2010-03-17

    Inventor: 桥本和幸

    Abstract: 本发明提供一种显示装置及具备显示装置的电子机器。在一具有显示图像的显示面板的显示装置中,显示面板在一外界光的受光面上设有一使可见光穿透的偏光板。显示装置并包括:第一光感测器,设于该显示面板的基板上未被该偏光板覆盖的区域中,以检测该外界光,并根据其波长成分输出一信号;一第二光感测器,设于该显示面板的基板上被该偏光板覆盖的区域中,以检测穿透该偏光板的可见光,并根据其波长成分输出一信号;以及一感测器输出运算单元,根据该第一与该第二光感测器、所分别输出的信号求得包含于该外界光中的紫外线强度。本发明能够在实现紫外线检测功能的同时降低制造成本并节省设计空间。

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