分光計測装置及び分光計測システム

    公开(公告)号:JP2018080940A

    公开(公告)日:2018-05-24

    申请号:JP2016221750

    申请日:2016-11-14

    Inventor: 河野 誠

    CPC classification number: G01J3/08 G01J3/42 G01N21/01 G01N21/27

    Abstract: 【課題】所望の照射角度で光を被計測物に照射する分光計測を簡便に行うことができる分光計測装置及び分光計測システムを提供する。 【解決手段】分光計測装置1は、被計測物Sに対して光L1を照射し、当該照射に応じて被計測物Sから出力された計測光L2を計測する。分光計測装置1は、光L1を出射する光源11を収容し、光源11で出射した前記光L1が通過する第1開口12が形成され、遮光性を有する第1筐体10と、計測光L2が通過する第2開口28が形成され、第2開口28を通過した計測光L2を受光する分光器21を収容し、遮光性を有する第2筐体20と、第1筐体10と第2筐体20とを相対回転可能に連結するアーム部材30と、を備える。アーム部材30の基端側は、第2筐体20に回転可能に連結されている。アーム部材30の先端側には、第1筐体10が取り付けられている。 【選択図】図5

    分光分析装置および分光分析方法
    63.
    发明专利
    分光分析装置および分光分析方法 审中-公开
    光谱分析仪和光谱分析方法

    公开(公告)号:JP2015152347A

    公开(公告)日:2015-08-24

    申请号:JP2014024326

    申请日:2014-02-12

    CPC classification number: G01J3/08 G01J3/0232 G01J3/42 G01N21/276 G01N21/31

    Abstract: 【課題】装置が複雑化し難く、測定精度を向上できる分光分析装置および分光分析方法を提供する。 【解決手段】測定光Lを出射する広帯域光源1と、試料光束Lsが試料Sに入射されることにより試料Sから出射される試料出射光束Ls´および参照光束Lrを受光し、試料光光量スペクトルおよび参照光光量スペクトルを検出する光センサ7と、検出光を選択して光センサ7に受光させるセクタ鏡2と、試料光光量スペクトルを検出する前後において第1参照光光量スペクトルおよび第2参照光光量スペクトルを検出し、試料光光量スペクトルの検出時に試料Sに入射された試料光束Lsの推定光量に応じた推定光量スペクトルを第1参照光光量スペクトルおよび第2参照光光量スペクトルから算出し、試料光光量スペクトルおよび推定光量スペクトルから試料Sによる吸光度スペクトルを求める吸光演算部8と、を備える。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种难以使设备复杂化并且能够提高测量精度的光谱分析仪和光谱分析方法。解决方案:光谱分析仪包括:发射测量光L的宽带光源1; 光学传感器7,其接收由于样品S上的采样光束Ls的入射而从样本S发射的样本发射光束Ls'和参考光束Lr,以检测采样光量光谱和参考光量光谱; 选择检测光以使光学传感器7接收检测光的扇形镜2; 以及光检测光检测前后的第一基准光量光谱和第二基准光量光谱的光吸收运算部8,计算与样本光束Ls的估计光量对应的估计光量光谱 从第一基准光量光谱和第二参考光量光谱检测出样本光量,并从样本光量光谱和估计光量获得样品S的吸收光谱, 光谱。

    Atomic absorption spectrophotometer
    66.
    发明专利
    Atomic absorption spectrophotometer 有权
    原子吸收光谱仪

    公开(公告)号:JP2010091446A

    公开(公告)日:2010-04-22

    申请号:JP2008262414

    申请日:2008-10-09

    Inventor: YAMAUCHI KAZUO

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an atomic absorption spectrophotometer capable of acquiring measured data in a state that lower detection limit performance is normally optimized regardless of the power supply frequency of an AC power source.
    SOLUTION: A plurality of lighting periods and sampling data extracting periods of light sources 11, 12 are stored in which lower detection limit performance to each case of the power supply frequencies (50 Hz/60 Hz) of an AC power source for driving an AC motor 22 in a control program operating on a microcomputer chip 42 mounted on the atomic absorption spectrophotometer 110. When a device is used, the power supply frequency of the AC power source used in the device is discriminated by the control program, and the lighting period and the sampling data extracting period corresponding to the power supply frequency discriminated from among the plurality of lighting periods and sampling data extracting periods which are stored and a measurement mode is previously set by a device user are selected. Thus, a proper lighting period is set in a hardware (PLD43). This enables the acquisition of measured data in the state that lower detection limit performance is normally optimized regardless of the power supply frequency.
    COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种能够在无论AC电源的电源频率如何的情况下通常优化检测限性能较低的状态下获取测量数据的原子吸收分光光度计。 解决方案:存储多个点亮周期和光源11,12的采样数据提取周期,其中针对AC电源的电源频率(50Hz / 60Hz)的每种情况的低检测限性能, 在安装在原子吸收分光光度计110上的微型计算机芯片42上操作的控制程序中驱动交流电动机22.当使用装置时,由控制程序区分装置中使用的交流电源的电源频率,并且 选择与设备用户预先设定的存储的多个点亮期间和采样数据提取期间相对应的与电源频率对应的点亮期间和采样数据提取期间。 因此,在硬件(PLD43)中设置适当的照明周期。 这使得能够在无论电源频率如何的情况下以较低的检测极限性能被优化的状态下采集测量数据。 版权所有(C)2010,JPO&INPIT

    DIFFUSE REFLECTANCE INFRARED FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPY
    69.
    发明公开
    DIFFUSE REFLECTANCE INFRARED FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPY 审中-公开
    与扩散器红外反射傅立叶变换光谱

    公开(公告)号:EP3022535A1

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:EP14742284.4

    申请日:2014-07-14

    Abstract: Diffuse reflectance spectroscopy apparatus for use in analysing a sample comprising a sample receiving location (2) for receiving a sample (3) for analysis; an illumination arrangement (4) for directing light towards a received sample; a detector (6) for detecting light reflected by a received sample; and collection optics (5) for directing light reflected by a received sample towards the detector. The illumination arrangement further comprises an interferometer (42) and a half beam block (45a, 45b) which is disposed substantially at a focus in the optical path for blocking light which exits the interferometer, passes said focus, and is reflected from reentering the interferometer. A half beam block (45a) may be disposed in the optical path between the interferometer and the light source (41) for blocking light that exits the interferometer back towards the light source and is reflected by the light source from re-entering the interferometer and/or a half beam block (45b) may be disposed in the optical path on the opposite side of the interferometer than the light source.

    Messgerät zur Messung einer bestimmten Gaskomponente
    70.
    发明公开
    Messgerät zur Messung einer bestimmten Gaskomponente 有权
    测量仪的特定气体成分的测定

    公开(公告)号:EP2947450A1

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:EP14168838.2

    申请日:2014-05-19

    Applicant: SICK AG

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Messgerät zur Messung einer bestimmten Gaskomponente, das mit weniger makromechanischen, bewegten Komponenten realisiert werden soll. Es wird deshalb ein Messgerät vorgeschlagen, das ausgerüstet ist
    - mit einer breitbandigen Lichtquelle, die ausgebildet ist, Licht moduliert abzugeben,
    - mit einem Messvolumen, in der das zu messende Gas vorliegt,
    - mit einer ersten Lichtablenkeinheit, die wenigstens einen MEMS-Spiegel umfasst und das Licht abwechselnd auf zwei optische Pfade umlenkt,
    - und der eine erste Pfad als Messpfad ausgebildet ist und ein erstes Filterelement enthält,
    - und der andere zweite Pfad als Referenzpfad ausgebildet ist und ein zweites Filterelement enthält,
    - mit einem optischen Element, das Mess- und Referenzpfad wieder auf einen gemeinsamen optischen Pfad führt,
    - mit einem Lichtdetektor und
    - mit einer Auswerte- und Steuereinheit zur Ansteuerung der Lichtquelle und der Lichtablenkeinheit und zur Auswertung detektierter Lichtintensitäten und damit Messung der Gaskomponente.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于特定气体成分的测量的测量装置,其以更少的宏观机械,移动组件来实现。 因此,提出了一种测量装置,该装置配备 - 与宽带光源,其适合于发射光调制, - 与其中要测量的气体的测量体积存在, - 一个第一光偏转单元,它包括至少一个MEMS反射镜 和光交替偏转上两个光路, - 和其上形成的第一路径作为测量路径和包括第一过滤器元件, - 并且另一个第二路径被设计为一个基准路径,并且包括第二过滤器元件, - 具有光学元件,该测量 - 和参考路径再次导致一个公共光路, - 光检测器,以及 - 与评估和控制单元,用于控制所述光源和所述光偏转单元和用于检测的光强度的评价,从而气体成分的测量。

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