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公开(公告)号:JPS6182143A
公开(公告)日:1986-04-25
申请号:JP13315085
申请日:1985-06-20
Applicant: Penron Ltd
Inventor: UIRIAMU ERU DEEBISU , KURAIBU II DABURIYUU HAAN , ROI KEI JIYAKUSON , TOOMASU EI MAGURAHAN , AIRIIN PARAIWA , BEISHIRU AARU SAGU
CPC classification number: G01N21/45 , G01N2201/1245
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公开(公告)号:TWI555976B
公开(公告)日:2016-11-01
申请号:TW103100849
申请日:2014-01-09
Applicant: 片片堅俄亥俄州工業公司 , PPG INDUSTRIES OHIO, INC.
Inventor: 諾立司 艾里森M , NORRIS, ALISON M.
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/462 , G01J3/504 , G01N21/255 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N2021/8877 , G01N2201/1245 , G01N2201/1248
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公开(公告)号:TW201439522A
公开(公告)日:2014-10-16
申请号:TW103100849
申请日:2014-01-09
Applicant: 片片堅俄亥俄州工業公司 , PPG INDUSTRIES OHIO, INC.
Inventor: 諾立司 艾里森M , NORRIS, ALISON M.
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/462 , G01J3/504 , G01N21/255 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N2021/8877 , G01N2201/1245 , G01N2201/1248
Abstract: 本發明揭示一種電腦實施方法。該方法包含使用一處理器自在其上具有一目標塗層之一塗佈面獲得光譜反射率資料,及使用該處理器判定是否該資料包含任何異常資料點。該方法亦包含使用該處理器移除該等異常資料點之至少一者以產生最終之光譜反射率資料,及使用該處理器至少部分基於該最終之光譜反射率資料計算該目標塗層之一特徵。
Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示一种电脑实施方法。该方法包含使用一处理器自在其上具有一目标涂层之一涂布面获得光谱反射率数据,及使用该处理器判定是否该数据报含任何异常数据点。该方法亦包含使用该处理器移除该等异常数据点之至少一者以产生最终之光谱反射率数据,及使用该处理器至少部分基于该最终之光谱反射率数据计算该目标涂层之一特征。
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