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公开(公告)号：CN103597574B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201280027496.0
申请日：2012-04-20
Applicant: 英国质谱公司
Inventor： 斯特万·巴伊奇
CPC classification number: H01J49/10 , G01N27/624 , G01N30/724 , H01J49/0445 , H01J49/0468 , H01J49/061 , H01J49/14 , H01J49/16 , H01J49/24 , H01J49/26
Abstract: 本发明提供一种离子源，离子源包括雾化器1和靶材10。雾化器1布置成并适合于在使用中发射分析物微滴流，分析物微滴被引起撞击在靶材10上并且使分析物电离以形成多个分析物离子。
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公开(公告)号：CN105869983A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610082658.0
申请日：2016-02-05
Applicant: 布鲁克道尔顿有限公司
Inventor： 梅尔文·安德鲁·帕克 , 迈克尔·舒伯特
CPC classification number: G01N27/622 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/06 , H01J49/061 , H01J49/02 , H01J49/04 , H01J49/0459
Abstract: 本发明涉及俘获离子迁移谱仪的操作，该俘获离子迁移谱仪通过气流对抗反作用直流电场势垒来推动离子，优选的是与作为离子检测器的质量分析器相结合。本发明提供了一种位于俘获离子迁移谱仪上游的附加射频离子阱，其中，该射频离子阱作为积聚单元而与俘获离子迁移谱仪并行工作，从而能够在离子迁移谱仪中分析第一组离子，同时在积聚单元中收集来自离子源的第二组离子。
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公开(公告)号：CN103460330B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201280005990.7
申请日：2012-01-20
Applicant: 史密斯探测-沃特福特有限公司
Inventor： J·R·阿特金森
CPC classification number: H01J49/06 , G01N27/622 , H01J49/061
Abstract: 一种检测设备，包括离子化区域、包含两个电极的离子门、包含两个电极的离子改变器、漂移腔和集电极。所述离子门和所述离子改变器被结合在一起，以使所述离子门是所述离子改变器的电极中的一者。
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公开(公告)号：CN105637613A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201480057061.X
申请日：2014-10-07
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
Inventor： 尼克·G·布鲁姆菲尔德 , 弗兰克·隆德里
IPC: H01J49/26
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0027 , H01J49/004 , H01J49/061 , H01J49/40 , H01J49/4215 , H01J49/427
Abstract: 使对每一种前驱体离子具有恒定前驱体离子传输速率的传输窗跨质量范围步进，从而跨所述质量范围产生一系列重叠传输窗。将每一步长处产生的所述前驱体分段。分析所得产物离子，从而针对所述传输窗的每一步长产生产物离子谱且针对所述质量范围产生多个产物离子谱。对于所述多个产物离子谱中的至少一个产物离子，计算描述当使所述传输窗跨所述质量范围步进时来自所述多个产物离子谱的所述至少一个产物离子的强度如何随着前驱体离子质量变化的函数。根据所述函数识别所述至少一个产物离子的前驱体离子。还可根据所述函数确定洗脱图。
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公开(公告)号：CN103038858B
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201180037512.X
申请日：2011-07-28
Applicant: 约恩-托福技术有限公司
Inventor： 埃瓦尔德·尼惠斯
CPC classification number: H01J49/40 , H01J49/0031 , H01J49/061
Abstract: 本发明涉及一种用于检测来自样品的离子或随后电离的中性粒子的方法和质谱仪及其用途。用于分析第一脉冲离子束的飞行时间质谱仪的操作方法，所述第一脉冲离子束中的离子根据其离子质量沿着脉冲方向以分离的方式分布，其特征在于，至少一个单个预定离子质量或至少一个预定离子质量范围中的离子可以从所述第一脉冲离子束中去耦合，得到至少一个去耦合的离子束，然后对所述第一离子束和所述至少一个去耦合的离子束进行分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104992894A
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201510224777.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 中国计量科学研究院
CPC classification number: H01J49/0404 , H01J49/0031 , H01J49/009 , H01J49/061 , H01J49/40
Abstract: 本发明公开了一种网络化质量分析方法及装置，本发明涉及质谱仪、离子质量分析领域，该装置包括离子源，用于产生待测离子；离子传输器，用于传输所述待测离子；离子偏转器，用于控制待测离子进行偏转；多个质量分析器，用于对所述待测离子进行质量分析；其中所述离子传输器与多个所述质量分析器之一相连，多个所述质量分析器分别与所述离子偏转器相连，所述离子源产生所述待测离子，所述待测离子通过所述离子传输器进入与所述离子偏转器相连的任意所述质量分析器进行质量分析，通过所述离子偏转器将剩余的所述待测离子送入相应的所述质量分析器中进行质量分析。本发明能提高连续型离子源质量分析占空比，获得每个时间段内离子束内更多质荷比信息。
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公开(公告)号：CN103858201A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201280021727.7
申请日：2012-03-02
Applicant: 珀金埃尔默健康科学股份有限公司
Inventor： D.G.维尔基
CPC classification number: H01J49/061 , H01J37/12 , H01J37/1472 , H01J49/06 , H01J49/063 , H01J49/22 , H01J49/26
Abstract: 一种系统包括放置在带电粒子源和检测器之间的静电透镜。该透镜包括：第一电极，具有放置在路径中并与第一轴线对齐的第一孔径；第二电极，在第一电极和带电粒子检测器之间的路径中，第二电极具有放置在路径中并与第二轴线对齐的第二孔径，第二轴线平行于第一轴线，并沿第一方向从第一轴线移位；第三电极，在第一电极和第二电极之间；以及耦合到第一、第二和第三电极的电位生成器。在工作期间，电位生成器将第一、第二和第三电位分别施加到第一、第二和第三电极，以使得静电透镜将沿第一轴线传播的来自带电粒子源的带电粒子束引导到沿第二轴线传播。
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公开(公告)号：CN103329242A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201280006244.X
申请日：2012-01-25
Applicant: 布鲁克生物科技有限公司
Inventor： I·卡林琴科
IPC: H01J49/26
CPC classification number: H01J49/0013 , H01J49/061 , H01J49/105 , H01J49/24
Abstract: 本发明提供了一种质谱分析设备，其包括离子源、离子过滤装置和离子导向器，离子源设置在基本水平的方向上，并且一定数量的离子可来源于该离子源，离子过滤装置设置为用于接收离子流，以便对其进行过滤；并且离子导向器设置为用于将源自离子源的离子引向离子过滤装置。离子源和离子过滤装置彼此相对设置，使得该设备的剖面得以减少，从而最大限度地减小该设备的有效占位面积。
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公开(公告)号：CN103038858A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201180037512.X
申请日：2011-07-28
Applicant: 约恩-托福技术有限公司
Inventor： 埃瓦尔德·尼惠斯
CPC classification number: H01J49/40 , H01J49/0031 , H01J49/061
Abstract: 本发明涉及一种用于检测来自样品的离子或随后电离的中性粒子的方法和质谱仪及其用途。用于分析第一脉冲离子束的飞行时间质谱仪的操作方法，所述第一脉冲离子束中的离子根据其离子质量沿着脉冲方向以分离的方式分布，其特征在于，至少一个单个预定离子质量或至少一个预定离子质量范围中的离子可以从所述第一脉冲离子束中去耦合，得到至少一个去耦合的离子束，然后对所述第一离子束和所述至少一个去耦合的离子束进行分析。
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公开(公告)号：CN101627455A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200780039136.1
申请日：2007-10-17
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·A·马卡洛夫
CPC classification number: H01J49/406 , H01J49/004 , H01J49/025 , H01J49/061 , H01J49/408
Abstract: 公开了一种质谱仪和质谱测量方法，其中束中的带电粒子经受多次变向。检测装置检测带电粒子束的第一部分，并基于带电粒子束的被检测的第一部分的强度提供第一输出。检测装置检测带电粒子束的第二部分并基于带电粒子束的被检测的第二部分提供第二输出，其中带电粒子束的第二部分比带电粒子束的第一部分行进更长的通过质谱仪的路径长度。控制器基于检测装置的第一输出调节带电粒子束和/或检测装置的参数，以便调节检测装置的第二输出。
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