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公开(公告)号:CN103493173B
公开(公告)日:2016-06-08
申请号:CN201180070450.2
申请日:2011-09-28
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/027 , H01J49/0031 , H01J49/061 , H01J49/406 , H01J49/408 , H01J49/4245
Abstract: 一种用于质量分析的静电离子阱包括第一电极阵列和与第一电极阵列分隔开的第二电极阵列。第一和第二电极阵列可以是由平行的带状电极或者由同心的圆形或部分圆形的导电环形成的平面阵列。这些阵列的电极被提供有基本相同的电压模式,由此阵列之间的空间内电位的分布如此以至于在飞行方向等时地反射离子,使得它们在所述空间内经受基本聚焦在阵列之间的中间位置的周期振荡运动。放大器电路用于检测像电流,所述像电流具有与经受周期振荡运动的离子的质荷比有关的频率分量。
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公开(公告)号:CN105206500A
公开(公告)日:2015-12-30
申请号:CN201510519226.7
申请日:2006-10-11
Applicant: 莱克公司
Inventor: A·N·沃恩特奇科夫 , M·I·雅格 , Y·卡·辛
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/401 , H01J49/406
Abstract: 本发明公开了一种具有正交加速的多次反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS)(11),包括一对无网格离子镜(12)、漂移空间(13)、正交离子加速器(14)、可任选的偏转器(15)、离子检测器(16)、周期透镜组(17)、以及边缘偏转器(18)。为了提高MR-TOF MS中的由长飞行限定的低重复率的离子注入的占空比,可以进行多路测量。输入的离子束和加速器可以基本取向为穿过MR-TOF中的离子路径,同时通过倾斜加速器以及使离子束转向相同角度对离子束的初始速度进行补偿。为了进一步提高任何多次反射或多次返回质谱仪的占空比,可以通过离子导向器对轴向离子速度进行调制来对离子束进行时间压缩。可以通过将离子束捕获在静电阱中来提高离子在加速器中的驻留时间。在加速器中具有延长驻留时间的设备对灵敏度和分辨率均进行了提高。
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公开(公告)号:CN102918625B
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201180021662.1
申请日:2011-04-14
Applicant: 莱克公司
Inventor: A·韦列奇科夫
CPC classification number: H01J49/401 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/22 , H01J49/40 , H01J49/406
Abstract: 公开了一种用于操作具有延长的飞行路径的开放式静电阱(E-阱)或多通TOF质谱仪的方法、装置和算法。应用具有非同等时间间隔的起始脉冲串以触发离子包注入分析器,获取长谱以接收来自整个串的离子,通过在数据分析阶段去除或考虑重叠信号重建真实谱,同时使用对峰组的逻辑分析。所述方法特别适用于级联质谱法,其中谱是稀疏的。所述方法改善分析器和探测器的占空比、动态范围和空间电荷产出量,以及E-阱分析器的响应时间。在不降低E-阱灵敏度的条件下,所述方法容许飞行延伸。
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公开(公告)号:CN103907171A
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201280053166.9
申请日:2012-10-29
Applicant: 莱克公司
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/061 , H01J49/282 , H01J49/405 , H01J49/406
Abstract: 本发明涉及静电离子镜。公开一种提供五阶时间每能量聚焦的静电离子镜。改进的离子镜具有在分辨力高于100,000情况下高达18%的能量接受度。公开多组离子镜参数(电极的形状、长度及电压)。利用从至少三个电极进入离子转折区域的提高的(高于10%)电势穿透形成高等时场。通过具有吸引电势的电极的伸长或通过增加具有吸引电势的第二电极来进一步改进这种镜的交叉项空间-能量飞行时间像差。
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公开(公告)号:CN101627455B
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN200780039136.1
申请日:2007-10-17
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor: A·A·马卡洛夫
CPC classification number: H01J49/406 , H01J49/004 , H01J49/025 , H01J49/061 , H01J49/408
Abstract: 公开了一种质谱仪和质谱测量方法,其中束中的带电粒子经受多次变向。检测装置检测带电粒子束的第一部分,并基于带电粒子束的被检测的第一部分的强度提供第一输出。检测装置检测带电粒子束的第二部分并基于带电粒子束的被检测的第二部分提供第二输出,其中带电粒子束的第二部分比带电粒子束的第一部分行进更长的通过质谱仪的路径长度。控制器基于检测装置的第一输出调节带电粒子束和/或检测装置的参数,以便调节检测装置的第二输出。
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公开(公告)号:CN102449729A
公开(公告)日:2012-05-09
申请号:CN201080023647.6
申请日:2010-05-27
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor: 亚历山大·马卡洛夫 , 阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯
CPC classification number: H01J49/40 , H01J49/406 , H01J49/4245
Abstract: 提供了一种使用分析仪将带电粒子分离的方法,该方法包括:致使一个带电粒子束飞行穿过该分析仪、并且在沿一个主飞行路径围绕一个分析仪轴线(z)做轨道运行的同时在该分析仪体积内在该轴线(z)方向上经历至少一个全振荡;限制该射束在飞行通过该分析仪时的圆弧散度;并且根据这些带电粒子的飞行时间将其分离。还提供了一种用于实施该方法的分析仪。优选使用至少一个圆弧聚焦透镜来限制散度,该圆弧聚焦透镜可以包括位于射束的两侧上的一对相对的电极。可以使用多个基本上位于相同z坐标处的圆弧聚焦透镜的一个阵列,该阵列中的这些圆弧聚焦透镜在该圆弧方向上间隔开并且该阵列至少部分地围绕z轴线延伸,由此在该射束飞行通过该分析仪时对它的圆弧散度进行多次限制。
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公开(公告)号:CN101523548B
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:CN200780038242.8
申请日:2007-10-12
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 迈克尔·苏达科夫
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/406
Abstract: 本发明提供了一种多反射TOF质量分析器,具有两个平行无栅的离子反射镜,每个离子反射镜具有在漂移方向(Z)上伸长的结构。所述离子反射镜提供了由在与漂移方向(Z)正交的飞行方向(X)上离子的多次反射而形成的折叠的离子路径。所述分析器还具有另外的无栅离子反射镜,用于在所述漂移方向(Z)上反射离子。在操作中,由于离子沿所述折叠的离子路径具有不同的飞行时间而根据质荷比将离子在空间上分离,并且,相对于飞行方向和漂移方向,对具有实质上相同质荷比的离子进行能量聚焦。
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公开(公告)号:CN101171660B
公开(公告)日:2010-09-29
申请号:CN200680015367.4
申请日:2006-03-22
Applicant: 莱克公司
Inventor: 阿纳托利·N·维雷恩特奇科夫 , 米克海尔·雅沃尔
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/408 , H01J49/406 , H01J49/48
Abstract: 本发明一般涉及多反射飞行时间质谱仪(MR TOF MS)。为了改进平面MR TOF MS分析仪(11)的质量分辨率,空间同步和弯曲界面(21)可以用于进出MR TOF MS分析仪(11)的离子传送。一个实施例包括在无场空间中具有周期透镜(14)的平面MR TOF MS(11)、用来把离子流动转换成脉冲的线性离子阱(17)及由静电扇区制成的C形同步界面。界面(21)允许绕离子反射镜(12)的边沿和边缘场(13)传送离子而不引入显著时间散布。界面(21)也可以提供离子包的能量滤波。通过使用来自离子阱的延迟离子抽取可以减小离子阱转换器(17)的非相关折返时间,并且过大离子能量在弯曲界面(21)中过滤。
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公开(公告)号:CN101730922A
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200880021462.4
申请日:2008-06-20
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 乌里·戈利科夫 , 康斯坦丁·索洛维科夫 , 米哈伊尔·苏达科夫 , 熊代州三夫
CPC classification number: H01J49/4245 , H01J49/406
Abstract: 本发明公开一种多反射离子光学设备,包括:静电场产生装置,其被配置以产生由静电电势的第一和第二分布Φ、Φ的叠加确定的静电场。第一分布Φ使离子接受沿飞行方向的能量聚焦,和第二分布Φ使离子接受沿一个横向方向的稳定性,使离子接受沿另一个横向方向的稳定性持续沿所述一个横向方向至少有限数目振动的时间,并使离子接受沿所述一个横向方向能量聚焦预定能量范围。
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公开(公告)号:CN101584021A
公开(公告)日:2009-11-18
申请号:CN200780045819.8
申请日:2007-12-07
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/406
Abstract: 公开了一种同轴飞行时间质谱仪,包括纵轴、以及在纵轴的相对的端部处的第一和第二离子镜。离子沿着偏离纵轴的输入轨迹进入质谱仪,并且在所述镜之间经历一次或多次通过之后,沿着偏离纵轴的输出轨迹离开,用于由离子探测器检测。所述输入轨迹和所述输出轨迹以不大于tan(I)的角度偏离所述纵轴,其中Dmin是所述离子镜的横向尺寸或其最小横向尺寸,且L为所述离子镜的入口之间的距离。
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