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公开(公告)号：CN112292763B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN201980031374.0
申请日：2019-02-28
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L31/10 , G01J1/02 , H01L27/146 , H10K65/00 , H10K39/30
Abstract: 电磁波检测器(100)包括：基板(5)，具有表面和背面；绝缘层(4)，设置于基板(5)的表面上，由稀土类氧化物构成；一对电极(2)，设置于绝缘层(4)之上，隔开间隔相对配置；以及二维材料层(1)，在绝缘层(4)之上以与一对电极(2)电连接的方式设置。稀土类氧化物包含由第1稀土类元素的氧化物构成的母材和在母材中被活化的、与第1稀土类元素不同的第2稀土类元素。
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公开(公告)号：CN117804596A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311843566.6
申请日：2023-04-10
Applicant: 立讯智造(浙江)有限公司
Inventor： 陈龙
Abstract: 本发明公开了一种屏下光传感器的测试设备、系统、方法、电子设备、存储介质和程序产品。通过将所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形导光区域在所述抽屉式放置板上形成的圆形透光区域上，其中，一个所述照度单元设置在所述圆形透光区域中心，其余所述照度单元和所述待测显示屏承载位设置在所述圆形透光区域的圆周上，在感光测试时，提高屏下光传感器检测的环境光一致性。同时将屏下光传感器置于遮光箱，在对待测显示屏单独发光进行测试时，避免外界光对屏下光传感器漏光检测的影响。
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公开(公告)号：CN113015889B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN201980074167.3
申请日：2019-09-24
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
IPC: G01J1/02 , H01L27/144 , H10N15/00
Abstract: 本公开提供进一步提高红外线传感器的灵敏度的技术。本公开的红外线传感器具备：基底基板；测辐射热计红外线受光部；第1梁；及第2梁，在此，第1梁及第2梁各自具有与基底基板和/或基底基板上的构件连接的连接部和与基底基板分离的分离部，并且在分离部处与红外线受光部物理地接合，红外线受光部通过第1梁及第2梁以与基底基板分离的状态被支承，红外线受光部包括由电阻根据温度而变化的电阻变化材料形成的电阻变化部，电阻变化部由非晶质的半导体形成，第1梁及第2梁各自由结晶质的半导体形成且在分离部处与电阻变化部电连接，该结晶质的半导体由与电阻变化材料的母材相同的母材形成。
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公开(公告)号：CN117795689A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202280055065.9
申请日：2022-03-24
Applicant: 索尼半导体解决方案公司
IPC: H01L31/10 , G01J1/02 , H01L27/144 , H01L27/146
Abstract: 根据本发明一个实施方案的光接收器件包括：金属氧化物膜(25)，在从200nm至380nm的波长范围内所述金属氧化物膜(25)的消光系数的最大值为0.1以上；以及光接收部(12)，其接收透过所述金属氧化物膜(25)的紫外光。
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公开(公告)号：CN117794669A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202280055740.8
申请日：2022-06-14
Applicant: 尼康SLM方案股份公司
Inventor： 简·卢卡斯·马缇斯克 , 简·帕维丽塔 , 卡斯顿·纽曼
IPC: B22F10/28 , B22F10/31 , B22F12/44 , B22F12/90 , B33Y10/00 , B33Y30/00 , B33Y50/02 , G01J1/02 , G01J1/42
Abstract: 提供一种用于对装置中的激光束的位置进行校准的方法，该装置包括用于引导激光束的至少一个光学单元。至少一个光学单元包括多个光学元件。该方法包括：对至少一个光学单元的多个光学元件设置第一光学配置，从而以第一焦斑尺寸将激光束引导到测量平面上；测量使用第一光学配置生成的激光束在测量平面内的第一位置；对至少一个光学单元的多个光学元件设置第二光学配置，从而以第二焦斑尺寸将激光束引导到测量平面上，第二焦斑尺寸不同于第一焦斑尺寸；测量使用第二光学配置生成的激光束在测量平面内的第二位置；以及基于所测量的第一位置和所测量的第二位置，确定至少一个校正值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117782308A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202410014369.1
申请日：2024-01-04
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明涉及一种室外可见光条件下目标辐射亮度特性的确定方法及装置。方法包括：确定多种测试工况；每种工况均执行：对预设范围内的每个测试点，均利用预先标定的成像亮度计对被测目标进行下视探测，得到当前测试工况下每个测试点处的图像和图像中每个像元的灰度值；成像亮度计的探测器上每个像元的灰度值与可见光辐射亮度值的转换关系是已知的；基于转换关系，确定每个测试点图像中每个像元的辐射亮度值；基于每个像元的辐射亮度值确定相应图像中不同区域的辐射亮度差值；分析每种工况下不同区域的辐射亮度差值的变化规律，确定被测目标的辐射亮度特性。本申请，可以确定目标在各种可见光条件下的辐射亮度特性，提升对目标的探测及识别能力。
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公开(公告)号：CN117760340A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410196777.3
申请日：2024-02-22
Applicant: 广东熠日照明科技有限公司
Abstract: 本发明创造涉及一种自动化的光学测量设备及其方法，包括有控制处理中心和光照测试平台，光照测试平台上相对地设置有Y轴导轨，两Y导轨之间设置有X轴导轨，光照测试平台上设置有Y轴伺服电机和X轴伺服电机，控制处理中心通过Y轴伺服电机用于驱动X轴导轨沿着Y导轨长度方向移动，X轴导轨上活动设置有光学测量探测仪，控制处理中心通过X轴伺服电机驱动光学测量探测仪沿X轴导轨的长度方向移动，控制处理中心用于接收并处理光学测量探测仪反馈的光学参数数据，相比于现有技术，本发明的测量方法效率更高，其具有能精准选点测量、处理数据方便快捷、结果反应直观以及自动存储的优点，这为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。
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公开(公告)号：CN117730241A
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202280053244.9
申请日：2022-07-06
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Inventor： 中村邦彦
Abstract: 导电性绝热材料(10a)具备多个第一域(11)和至少一个第二域(12)。各第一域11具有包括在俯视下排列的多个孔(11h)的声子晶体。第二域12为在俯视下形成在第一域11的周围的无孔的域。
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公开(公告)号：CN117705272A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311370524.5
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京交通大学
Abstract: 本发明涉及光学工程技术领域，具体涉及电化学晶体管型偏振敏感光电探测器，包括活性层、电解质栅极、电极和衬底，采用电化学晶体管结构及进行取向化处理的活性层，获得在小电压下工作的近红外偏振敏感电化学晶体管型光电探测器。该光电探测器可更换不同电化学晶体管器件结构，包括但不限于顶栅底接触、顶栅顶接触、底栅底接触、底栅顶接触、垂直型晶体管等结构；活性层的取向处理为摩擦取向或应变取向或定向诱导生长取向等，不仅工作电压低、能耗低，还拓宽了可携带信息的范围，可探测不同波段的光波长及光强的偏振敏感性，生物兼容性强，在生物医学领域具有应用价值。
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公开(公告)号：CN117664324A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202410129592.0
申请日：2024-01-31
Applicant: 中国科学院上海高等研究院
Abstract: 本发明提供一种在线X光光强实时高速监测系统，包括与光源共同位于第一光轴上的一卡光狭缝、一样品实验装置和一透射光PMT光子计数器，偏离所述第一光轴且对准所述卡光狭缝的面向所述光源的一侧的一反射光PMT光子计数器，与透射光PMT光子计数器和反射光PMT光子计数器均相连的一FPGA触发采集板，以及与FPGA触发采集板连接的一上位机。本发明采用PMT光子计数器与FPGA触发采集板相结合，实现了前后端光强探测器的同步触发采集，大大提升了光强监测数据的同步性；通过同步触发可以使用反射光光子计数器触发得到的上游光强对透射光光子计数器触发得到的下游光强进行归一化，有效的降低了由于光强变化对实验造成的影响。
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