部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量方法及系统

    公开(公告)号:CN113375790B

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202110633291.8

    申请日:2021-06-07

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量方法及系统,其方法包括:将待测部分相干矢量光束的各个方向分离;对分离的每个方向的光束分别引入三次不同相位赋值的扰动,并对扰动后的每个方向的光束进行傅里叶变换;记录每个方向的光束在三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强;根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强,通过反傅里叶变换得到待测部分相干矢量光束的各项交叉谱密度矩阵元。本发明简单可行,在不引入参考臂、不引入透镜以及不需要知道光源信息的情况下,实现对部分相干矢量光场交叉谱密度函数的快速测量,适用于具有复杂实数和虚数结构的部分相干矢量场。

    基于偏振光束分离的光入射角和偏振多功能探测光路系统

    公开(公告)号:CN115077705A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210570199.6

    申请日:2022-05-24

    Abstract: 基于偏振光束分离的光入射角和偏振多功能探测光路系统,其特征在于:包括激光光源、以及沿激光光源光路依次设置的偏振片、二分之一波片、格兰泰勒棱镜和光斑分析仪,所述激光光源经过偏振片、二分之一波片后,成为偏振方向可以改变的线偏振光,该线偏振光以入射角度θ入射至格兰泰勒棱镜,格兰泰勒棱镜安装在旋转台上,以调节入射角度θ;线偏振光经过格兰泰勒棱镜后分为o光和e光,o光和e光从格兰泰勒棱镜射出后进入光斑分析仪,光斑分析仪收集并记录o光和e光所形成的光斑,通过o光和e光所形成的光斑之间的分离距离得到入射角度θ,同时通过o光和e光所形成的光斑重心的偏移检测偏振方向。本发明可以灵敏地检测入射光的角度和偏振。

    一种可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法

    公开(公告)号:CN111982287B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202010824721.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种基于可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法。其过程包括:A1,在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量S1被调制的位置a1;A2,通过可谐调滤光片调节带宽d和降低入射光的中心波长λ1,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1减去带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最小的波长λ2;A3,通过可谐调滤波片增大入射光的中心波长和调节带宽d,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1加上带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最大的波长λ3;A4,通过得到的此波段不发生混叠时最小的波长λ2和被调制的位置a1根据公式t1=ΔDN/f=a1×λ2计算出偏振成像系统整体的系数t1;A5,通过得到的此波段不发生混叠时最大的波长λ3和a1+1根据公式t2=ΔDN/f=λ3×(a1+1)计算出偏振成像系统整体的参数t2,对两个系数t1和t2进行对比检测。本

    一种基于傅里叶分析的光波偏振态快速检测方法

    公开(公告)号:CN111579075B

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN202010446907.6

    申请日:2020-05-25

    Inventor: 雷兵 高超

    Abstract: 本发明属于偏振检测技术领域,公开了一种基于傅里叶分析的光波偏振态快速检测方法。待测光源发出的偏振态未知的光波经零级涡旋半波片转化为矢量偏振光场,此矢量偏振光场经检偏器作用后形成亮暗呈楔形分布的光强调制图像,利用相机采集光强调制图像,并对采集的光强图像预处理后进行傅里叶分析,即可计算出待测光波的斯托克斯矢量。本发明提出的偏振检测方法无机械旋转运动部件,单次拍图分析便可实现偏振检测,光路简单、操作便捷、稳定性好、测量速度快、精度高,且检测结果对光源的功率和波长变化不敏感。

    基于图像灰度签名的光波偏振方向快速检测方法

    公开(公告)号:CN114705295A

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN202210295826.X

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像局部灰度签名的光波偏振方向快速检测方法,包括:S1、离线操作,用于生成圆周像素坐标表、径向像素坐标表、灰度权重表及模板灰度签名;S2、在线操作,用于根据圆周像素坐标表进行最暗方向粗略估计,根据最暗方向粗略估计值、径向像素坐标表与灰度权重表获得偏振图像灰度签名,以及将偏振图像灰度签名与模板灰度签名进行相关得出偏振方向精确估计。本发明兼具高精度与高速度的优势,能充分满足基于矢量偏振光场的偏振方向实时检测任务需求。

    一种偏振测量装置与方法
    68.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112577716B

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN201910943174.4

    申请日:2019-09-30

    Inventor: 张一志

    Abstract: 本发明公开了一种偏振测量装置与方法,通过不同角度入射的光源,携带了多个入射角度信息,并且携带多个入射角度信息的光源经过起偏器起偏,通过起偏器的偏振光通过光阑进行角度约束,透过光阑的光经过第一准直透镜进行准直,经准直后的偏振光透过检偏器进行检偏,并且成像装置对通过检偏器之后偏振光进行成像,其中,驱动装置对检偏器进行旋转驱动,在检偏器每次旋转之后,成像装置进行成像,从而根据成像装置每次成像的光斑图像确定不同角度入射的光线对应的消光比和偏光角,实现了高效率测量不同角度入射时的消光比和偏光角,进而获取起偏器的在不同角度入射时的起偏性能的差异,以根据实际需求选择合适的角度进行入射。

    基于分束器的椭圆偏振仪聚焦系统

    公开(公告)号:CN114467017A

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202080069846.4

    申请日:2020-09-29

    Inventor: J·F·莱索因

    Abstract: 椭圆偏振仪包括聚焦系统,该聚焦系统使用测量斑的图像确定用于椭圆偏振仪的最佳焦点位置。聚焦信号通过在由偏振器分析信号之前分离椭圆偏振仪测量斑来产生,从而避免对具有调制强度的该斑进行成像。该聚焦信号在传感器阵列上成像,并且基于该斑在该传感器阵列上的该位置,可以确定该椭圆偏振仪的该焦点位置。单个图像可用于确定该椭圆偏振仪的该焦点位置,从而允许实时聚焦位置测量。

    一种空间调制偏振检测系统及设计方法

    公开(公告)号:CN113447126B

    公开(公告)日:2022-02-22

    申请号:CN202110790721.7

    申请日:2021-07-13

    Abstract: 本发明提供一种空间调制偏振检测系统及设计方法,用于对待测样品的偏振特性进行检测,属于光学设计技术领域,该系统包括光源、偏振态产生器、空间光滤波器、准直透镜、相位延迟器、偏振态分析器、聚焦透镜、探测器及数据处理模块;该系统还包括四分之一波片,所述四分之一波片设置于相位延迟器与准直透镜之间;所述四分之一波片的快轴方位角为所述由所述偏振态系数对比度最大来确定。本申请选取四分之一波片的最优快轴方位角使强度分布模型中的模型参数有最大的对比度,以使得拟合解算偏振态过程中有全局最优解,来提高偏振态的解算精度。

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