광 측정 시스템
    74.
    发明公开
    광 측정 시스템 审中-实审
    光度测量系统

    公开(公告)号:KR1020160074861A

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:KR1020140183492

    申请日:2014-12-18

    Inventor: 이준섭 박승원

    Abstract: 본발명의일 실시형태에따른광 측정시스템은, 개구를구비하는적분구; 측정대상인광원을탑재하기위한광원탑재영역을갖는적어도하나의광원안착블록을구비하며, 상기광원탑재영역이상기적분구의개구아래에위치하도록상기적어도하나의광원안착블록을이동하도록구성된지지부; 상기적분구의일측에장착된광 측정기; 및상기적분구의개구와상기광원안착블록사이에위치하며, 상기광원탑재영역을둘러싸도록배열된복수의반사판을구비한반사부;를포함할수 있다.

    Abstract translation: 本发明的目的是提供一种通过防止光逸出到外部来提高精度的光测量系统。 根据本发明的实施例,所述光测量系统包括:具有开口的积分球; 支撑单元,其具有至少一个具有光源装载区域的光源座部,以加载作为测量对象的光源,并且移动光源座部件以将光源装载区域定位在积分球的开口下方 ; 安装在积分球一侧的光测量装置; 以及位于积分球的开口和光源座之间的反射单元,并且设置有多个反射板,其布置成包围光源装载区域。

    감지 영역 조정이 가능한 적외선 감지 센서 및 이를 이용한 카운트 장치
    75.
    发明公开
    감지 영역 조정이 가능한 적외선 감지 센서 및 이를 이용한 카운트 장치 有权
    带调制感应区域的电子红外传感器

    公开(公告)号:KR1020160070856A

    公开(公告)日:2016-06-21

    申请号:KR1020140177141

    申请日:2014-12-10

    Inventor: 박타흥

    CPC classification number: G01J1/06 G01J2001/061 H05B37/02

    Abstract: 본발명의감지영역조정이가능한적외선감지센서(10)는동체로부터감지되는적외선의파장값을양 또는음의값으로출력하는제1센싱엘리먼트(10a)와, 제1센싱엘리먼트(10a)와반대되는위상의신호를출력하는제2센싱엘리먼트(10b)와, 제1센싱엘리먼트(10a)와제2센싱엘리먼트(10b)의출력신호에따라감지신호(SEN)를출력하는전계효과트랜지스터가내부에장착된본체(11)와, 본체(11)의외측을감싸고, 본체(11)의하측으로길게연장된중공부(110)가형성된적외선차단부(100)를구비하여, 적외선차단부(100)의외측으로는동체로부터방사되는적외선이입사되지않고, 중공부(110)를통해서만동체로부터방사되는적외선이입사되도록구성된다. 상기와같이구성된본 발명의적외선차단부가장착된적외선감지센서는적외선차단부의길이를조정하여동체로감지되는적외선의감지영역의폭을좁게설정하여지향성을갖도록하고적외선차단부가장착된적외선감지센서를사용한카운터장치의경우대상공간내의동체의진입및 진출을정확하게판단할수 있고, 진입또는진출하는동체의수를정확하게카운터할수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及能够调整感测区域的红外光检测传感器(10)和使用其的计数器,其中能够调节感测区域的红外光检测传感器包括:第一感测元件(10a),用于输出红外线 从移动物体检测的光波长值为正或负值; 用于输出具有与第一感测元件(10a)的相位相反的相位的信号的第二传感元件(10b)。 主体(11),其中安装有用于根据第一感测元件(10a)和第二感测元件(10b)的输出信号输出感测信号(SEN)的场效应晶体管; 以及围绕主体(11)的外侧的红外阻光单元(100),并且具有形成在主体(11)的下侧的长度方向延伸的中空单元(110)。 由此,从移动物体射出的红外光不能进入红外光阻挡单元(100)的外侧,只能通过中空单元(110)进入。 根据本发明,具有安装在其中的具有红外光阻挡单元的红外光检测传感器可以具有通过设置以通过调节从移动物体检测到的红外光感测区域的宽度来减小从移动物体检测到的红外光感测区域的宽度的方向 红外阻光单元。 使用其中安装有红外光阻挡单元的红外光检测传感器的计数器可以精确地确定移动物体是否进入目标空间并进行准确地计数进入或移动的物体的数量。

    GLOBAL SOLAR SPECTRUM DEVICES AND METHODS
    76.
    发明申请
    GLOBAL SOLAR SPECTRUM DEVICES AND METHODS 审中-公开
    全球太阳光谱装置和方法

    公开(公告)号:WO2017066865A1

    公开(公告)日:2017-04-27

    申请号:PCT/CA2016/000264

    申请日:2016-10-20

    Applicant: SPECTRAFY INC.

    Abstract: Solar spectral irradiance (SSI) measurements are important for solar collector / photovoltaic panel efficiency and solar energy resource assessment as well as being important for scientific meteorological/climate observations and material testing research. To date such measurements have exploited modified diffraction grating based scientific instruments which are bulky, expensive, and with low mechanical integrity for generalized deployment. A compact and cost-effective tool for accurately determining the global solar spectra as well as the global horizontal or tilted irradiances as part of on-site solar resource assessments and module performance characterization studies would be beneficial. An instrument with no moving parts for mechanical and environment stability in open field, non-controlled deployments could exploit software to resolve the global, direct and diffuse solar spectra from its measurements within the 280-4000 nm spectral range, in addition to major atmospheric processes, such as air mass, Rayleigh scattering, aerosol extinction, ozone and water vapour absorptions.

    Abstract translation: 太阳能光谱辐照度(SSI)测量对于太阳能集热器/光伏电池板效率和太阳能资源评估以及对于科学气象/气候观测和材料测试研究而言非常重要。 迄今为止,这种测量已经利用了基于改进衍射光栅的科学仪器,其体积庞大,价格昂贵,并且对于通用部署而言具有低机械完整性。 作为现场太阳能资源评估和模块性能表征研究的一部分,用于精确确定全球太阳光谱以及全球水平或倾斜辐照度的紧凑且具有成本效益的工具将是有益的。 没有移动部件的仪器可以在开阔场地进行机械和环境稳定,非受控部署可以利用软件在280-4000 nm光谱范围内从其测量结果中解析出全球,直接和漫射的太阳光谱,以及主要的大气过程 如空气质量,瑞利散射,气溶胶消光,臭氧和水蒸汽吸收。

    光量測定装置及び光量測定方法
    77.
    发明申请
    光量測定装置及び光量測定方法 审中-公开
    光量测量装置和光量测量方法

    公开(公告)号:WO2014020713A1

    公开(公告)日:2014-02-06

    申请号:PCT/JP2012/069515

    申请日:2012-07-31

    Abstract:  簡単な構成で高精度な測定を実現できる発光ダイオードの光量測定装置を提供する。 光量測定装置3は、放射状に光を発光するLED101に対向配置され、LED101から発光された光を受光し、その光量を測定する受光モジュール1と、LED101に電力を供給してLED101を発光させるためのプローブ針109と、LED101から発光された光のうち受光モジュール1に受光させる光の範囲である受光範囲を、LED101の発光中心軸LCAに対する角度θに基づいて設定する受光範囲設定手段と、を備える。LED101は、ダイシングシート103b上に複数配列されている。受光範囲設定手段は、複数配列されたLED101から発光された光を受光モジュール1が受光する際に、LED101の配列態様にかかわらず受光した光の光量の測定誤差が所定率以下となるように、受光範囲を設定する。

    Abstract translation: 提供了一种用于发光二极管(LED)的光量测量装置,所述装置能够以简单的结构实现高精度测量。 光量测量装置(3)设置有:面向发射以径向图案的光的LED(101)定位的受光模块(1),接收从LED(101)发射的光,并测量 所述光量; 用于使LED(101)通过向LED(101)供电来发光的探针(109); 以及光接收范围设定装置,其基于角度(L)设定作为由所述受光模块(1)接收的光的范围的光接收范围(从所述LED(101)发出的光) θ)相对于LED(101)的发光中心轴(LCA)。 多个LED(101)布置在切割片(103b)上。 光接收模块(1)接收从多个LED(101)发出的光时,光接收范围设定装置以接收光量的测量误差不大于 不管LED(101)的布置图案如何,都是规定的速率。

    OPTO -ELECTRONIC MODULES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME
    78.
    发明申请
    OPTO -ELECTRONIC MODULES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME 审中-公开
    光电模块及其制造方法

    公开(公告)号:WO2013010284A3

    公开(公告)日:2013-07-18

    申请号:PCT/CH2012000159

    申请日:2012-07-10

    Abstract: The method for manufacturing opto-electronic modules (1) comprises . a) providing a substrate wafer (PW) on which a multitude of detecting members (D) are arranged; . b) providing a spacer wafer (SW); . c) providing an optics wafer (OW), said optics wafer comprising a multitude of transparent portions (t) transparent for light generally detectable by said detecting members and at least one blocking portion (b) for substantially attenuating or blocking incident light generally detectable by said detecting members; . d) preparing a wafer stack (2) in which said spacer wafer (SW) is arranged between said substrate wafer (PW) and said optics wafer (OW) such that said detecting members (D) are arranged between said substrate wafer and said optics wafer. Preferably, a multitude of emission members (E) for emitting light generally detectable by said detecting members (D) is arranged on said substrate wafer (PW) such that a multitude of neighboring emission members and detecting members are present on said substrate wafer. Single modules (I) can be obtained by separating said wafer stack (2) into a multitude of separate modules (I). The manufacturing method may be applied for the manufacture of proximity sensors.

    Abstract translation: 制造光电模块(1)的方法包括。 a)提供其上布置有多个检测构件(D)的衬底晶片(PW); 。 b)提供间隔晶片(SW); 。 c)提供光学晶片(OW),所述光学晶片包括对于通常可被所述检测构件检测的光透明的多个透明部分(t)和用于基本上衰减或阻挡入射光的至少一个阻挡部分(b),所述阻挡部分通常可被 所述检测部件; 。 d)制备其中所述间隔晶片(SW)布置在所述衬底晶片(PW)和所述光学晶片(OW)之间的晶片堆叠(2),使得所述检测构件(D)布置在所述衬底晶片和所述光学器件 晶圆。 优选地,用于发射由所述检测构件(D)可以普遍检测的光的多个发射构件(E)布置在所述衬底晶片(PW)上,使得多个相邻发射构件和检测构件存在于所述衬底晶片上。 通过将所述晶片堆叠(2)分离成多个单独的模块(I)可以获得单个模块(I)。 该制造方法可以应用于制造接近传感器。

    INTEGRATING SPHERE PHOTOMETER AND MEASURING METHOD OF THE SAME
    79.
    发明申请
    INTEGRATING SPHERE PHOTOMETER AND MEASURING METHOD OF THE SAME 审中-公开
    整合球面光电测定仪及其测量方法

    公开(公告)号:WO2011068281A1

    公开(公告)日:2011-06-09

    申请号:PCT/KR2010/000611

    申请日:2010-02-02

    Abstract: Provided are an integrating sphere photometer and a measuring method of the same. The integrating sphere photometer includes an integrating sphere including a left hemisphere and a right hemisphere, a photometer disposed on the center surface of the right hemisphere, a photometer baffle disposed in front of the photometer to be spaced apart therefrom, a light source to be tested disposed at the center region of the integrating sphere to illuminate light to at least an illumination region of the left hemisphere, an auxiliary lamp part disposed in the vicinity of a contact region between the left hemisphere and the right hemisphere to illuminate light to the illumination region, and an auxiliary lamp baffle disposed around the auxiliary lamp part to prevent the light emitted from the light source to be tested from being directly illuminated to the auxiliary lamp part and also to prevent the light emitted from the auxiliary lamp part from being directly illuminated to the light source to be tested.

    Abstract translation: 提供一种积分球光度计及其测量方法。 积分球形光度计包括包括左半球和右半球的积分球,设置在右半球的中心表面上的光度计,设置在光度计的前方以与之隔开的光度计挡板,待测试的光源 设置在积分球的中心区域,以将光照射到左半球的至少一个照明区域;辅助灯部分,设置在左半球和右半球之间的接触区域附近,以将光照射到照明区域 以及设置在辅助灯部分周围的辅助灯挡板,以防止从光源发射的光被直接照射到辅助灯部分,并且还防止从辅助灯部分发射的光被直接照射到 要测试的光源。

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